A Method for evaluating the temperature coefficient of a compound semiconductor energy gap by infrared imaging technique (적외선 영상 기법에 의한 화합물 반도체 에너지 갭의 온도 계수 측정 방법)
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- Journal of the Institute of Electronics Engineers of Korea SD
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- v.38 no.5
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- pp.26-26
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- 2001
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