Journal of the Institute of Electronics Engineers of Korea SD
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v.38
no.5
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pp.11-11
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2001
본 논문에서는 카운터와 커패시터를 사용하여 시간 정보로부터 디지털 출력 값을 얻을 수 있는 새로운 시간-디지털 변환기를 제안하였다. 기존의 시간-디지털 변환회로의 경우 디지털 출력 값을 얻기 위해서는 입력 신호가 인가된 후 입력 시간보다 더 긴 공정시간이 필요하였다. 또한 입력 신호의 시간 간격에 무관하게 카운터의 클럭 주파수가 일정하여 변환된 디지털 값의 분해도는 항상 일정하였다. 그러나 본 논문에서 제안한 시간-디지털 변환 회로는 입력 신호가 인가됨과 동시에 지연시간 없이 디지털 출력 신호를 얻을 수 있으며, 또한 수동소자의 값을 변화시킴으로서 원하는 입력 시간 영역과 분해도를 쉽게 구현할 수 있다.
Proceedings of the Korean Institute of Information and Commucation Sciences Conference
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2017.10a
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pp.522-523
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2017
Analog-to-Digital converter is designed using a current conveyor circuit and a time-to-digital converter. The analog voltage is sampled using the current conveyor circuit and then the voltage is converted to time information by the discharge of the sampling voltage. The time information is converted to digital value by the counter-type time-to-digital converter. In order to reduce the converted error the clock is synchronized with the time information pulse.
Journal of the Korea Institute of Information and Communication Engineering
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v.20
no.3
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pp.577-582
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2016
The synchronous TDC(Time-to-Digital Converter) of counter-type using current-conveyor is designed by $0.18{\mu}m$ CMOS process and the supply voltage is 3 volts. In order to compensate the disadvantage of a asynchronous TDC the clock is generated when the start signal is applied and the clock is synchronized with the start signal. In the asynchronous TDC the error range of digital output is from $-T_{CK}$ to $T_{CK}$. But the error range of digital output is from 0 to $T_{CK}$ in the synchronous TDC. The error range of output is reduced by the synchronization between the start signal and the clock when the timing-interval signal is converted to digital value. Also the structure of the synchronous TDC is simple because there is no the high frequency external clock. The operation of designed TDC is confirmed by the HSPICE simulation.
Journal of the Korea Institute of Information and Communication Engineering
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v.25
no.5
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pp.677-684
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2021
This paper presents a time-to-digital converter for measuring absolute time differences. The time-to-digital converter was designed and fabricated in 0.18-um CMOS technology and it can be applied to Light Detection and Ranging system which requires long time-cover range and 50ps time resolution. Since designed time-to-digital converter adopted the reference clock of 625MHz generated by phase locked loop, it could have absolute time resolution of 50ps after automatic calibration and its cover range was over than 800ns. The time-to-digital converter adopted a counter and chain delay lines for time measurement. The counter is used for coarse time measurement and chain delay lines are used for fine time measurement. From many times experiments, fabricated time-to-digital converter has 50 ps time resolution with maximum INL of 0.8 LSB and its power consumption is about 70 mW.
Proceedings of the Korean Institute of Information and Commucation Sciences Conference
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2017.10a
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pp.520-521
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2017
The converted error is occurred by the time difference between the time interval signal and the clock in a Time-to-Digital Converter of counter-type. If the clock period is $T_{CLOCK}$ the converted error is a maximum $T_{CLOCK}$ by the time difference between the start signal and the clock. And the converted error is a maximum $-T_{CLOCK}$ by the time difference between the stop signal and the clock. However, when the clock is synchronized with the start signal and the colck is generated during the time interval signal the range of converted digital error is from 0 to $(1/2)T_{CLOCK}$.
Journal of the Institute of Electronics Engineers of Korea SD
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v.38
no.5
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pp.323-328
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2001
A new time-to-digital converter is proposed which is based on a capacitor and a counter. The conventional time-to-digital converter requires rather longer processing time than the input time interval to obtain an accurate digital output. The resolution of the converted digital output is constant independent on the input time interval. However this study proposes the circuit in which the converted digital output can be obtained without delay time, and both the input time interval and the resolution can be easily improved through controlling passive device parameters.
Journal of the Korea Institute of Information and Communication Engineering
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v.21
no.5
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pp.893-898
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2017
A TDC(Time-to-Digital Converter) of counter-type is designed by $0.18{\mu}mCMOS$process and the supply voltage is 1.5 volts. The converted error of maximum $T_{CK}$ is occurred by the time difference between the start signal and the clock when the period of clock is $T_{CK}$ in the conventional TDC. And the converted error of -$T_{CK}$ is occurred by the time difference between the stop signal and the clock. However in order to compensate the disadvantage of the conventional TDC the clock is generated within the TDC circuit and the clock is synchronized with the start and stop signals. In the designed TDC circuit the conversion error is not occurred by the difference between the start signal and the click and the magnitude of conversion error is reduced (1/2)$T_{CK}$ by the time difference between the stop signal and the clock.
Proceedings of the Korean Institute of Information and Commucation Sciences Conference
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2012.10a
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pp.225-228
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2012
In this paper, a 10-bit digital-to-analog converter (DAC) with small area is proposed. The 10-bit DAC consists of a 8-bit decoder, a 2-bit time-interpolator, and a buffer amplifier. The proposed time-interpolation is achieved by controlling the charging time through a low-pass filter composed of a resistor and a capacitor. To implement the accurate time-interpolator, a control pulse generator using a replica circuit is proposed to minimize the effect of the process variation. The proposed 10-bit Time-Interpolation DAC occupies 61 % of the conventional 10-bit resistor-string DAC. The proposed DAC is designed using a $0.35{\mu}m$ CMOS process with a 3.3 V supply. The simulated DNL and INL are +0.15/-0.21 LSB and +0.15/-0.16 LSB, respectively.
Journal of the Korea Institute of Information and Communication Engineering
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v.23
no.7
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pp.816-821
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2019
A counter-type time-to-digital converter was designed using a dual edge T flip-flop. The time-to-digital converter was designed with a $0.18{\mu}m$ CMOS process at a supply voltage of 1.5 volts. In a typical time-to-digital converter, when the period of the clock is T, a conversion error corresponding to the period of the clock occurs due to the asynchronism between the input signal and the clock. However, the clock of the time-to-digital converter proposed in this paper is generated in synchronization with the start signal which is the input signal. As a result, conversion errors that may occur due to asynchronization of the start signal and the clock do not occur. The flip-flops constituting the counters are composed of dual-edge flip-flops operating at the positive and negative edges of the clock to improve the resolution.
Journal of the Korea Institute of Information and Communication Engineering
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v.16
no.6
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pp.1250-1259
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2012
In this paper, a time-domain comparator is proposed for a successive approximation (SA) analog-to-digital converter (ADC) with a low power and high resolution. The proposed time-domain comparator consists of a voltage-controlled delay converter with a clock feed-through compensation circuit, a time amplifier, and binary phase detector. It has a small input capacitance and compensates the clock feed-through noise. To analyze the performance of the proposed time-domain comparator, two 1V 10-bit 200-kS/s SA ADCs with a different time-domain comparator are implemented by using 0.18-${\mu}m$ 1-poly 6-metal CMOS process. The measured SNDR of the implemented SA ADC is 56.27 dB for the analog input signal of 11.1 kHz, and the clock feed-through compensation circuit and time amplifier of the proposed time-domain comparator enhance the SNDR of about 6 dB. The power consumption and area of the implemented SA ADC are 10.39 ${\mu}W$ and 0.126 mm2, respectively.
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[게시일 2004년 10월 1일]
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