• Title/Summary/Keyword: 불량조건

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Quality Assurance of a Large Foundation (대형기초의 품질관리)

  • Jung, Gyung-Ja;Kim, Hong-Jong;Jung, Jong-Hong
    • Proceedings of the Korean Geotechical Society Conference
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    • 2007.09a
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    • pp.115-123
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    • 2007
  • 설계 하중이 큰 대형 구조물의 기초로 많이 사용되는 현장타설말뚝은 현장에서 지반을 굴착하여 조립된 철근망을 삽입한 후, 콘크리트를 타설하여 제작되므로 복잡한 시공 과정과 현장의 특수한 지하수 및 지반 조건으로 인하여 현장타설말뚝의 내부에는 결함이 포함될 수 있다. 발생 가능한 대표적인 결함으로 연약한 말뚝 선단, 말뚝체 콘크리트의 품질 저하, 말뚝과 지반의 접촉 불량, 주 철근의 부식 등이 있으며, 이들 결함을 감지하기 위한 건전도 시험법으로 공대공초음파 검층, 충격반향시험, 충격응답시험, 감마-감마 검층법 등이 있다. 결함은 말뚝의 수평지지력을 감소시키며, 일반적으로 발생하는 비대칭단면 결함에 의한 응력 집중현상과 수평 하중에 의한 휨모멘트는 연직지지거동에 영향을 준다. 따라서 결함을 감지하고 평가하는 것이 현장타설말뚝의 품질관리에 있어 매우 중요하다.

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A Performance Assessment of 2MW Wind Turbine Gearbox by Considering Various Operating Conditions (다양한 운전조건을 고려한 2MW 풍력증속기의 성능평가)

  • Jo, Joon-Haeng;Park, Koo-Ha;Moon, Byung-Sun
    • 한국신재생에너지학회:학술대회논문집
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    • 2007.11a
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    • pp.391-394
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    • 2007
  • Wind turbine gearbox is a complex mechanical system that includes gear trains, shafts, bearings, and gearbox housings. All these components are interacting with each other therefore it is important to assess the whole performance by considering the individual component design. In this paper, the performance assessment of 2MW wind turbine gearbox was conducted under various operating conditions at test bench and test result was compared with the design calculation.

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TOF spectrometer를 사용하는 중이온 후방산란장치 (HIRBS)

  • Kim, Jun-Gon;Kim, Young-Seok;Kim, Gi-Dong;Hong, Wan;Woo, Hyung-Joo;Choi, Han-Woo
    • Proceedings of the Korean Vacuum Society Conference
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    • 1999.07a
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    • pp.76-76
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    • 1999
  • 한국자원연구소 제작된 TOF spectrometer는 입자의 비행시간과 에너지를 동시에 측정 기록하여 질량분별된 에너지 스펙트럼을 얻고자 하는 목적으로 제작되었다. 그러나 질량분별이 필요치 않은 후방 산란실험에서는 비행시간의 측정만으로 훌륭한 에너지 계측기가 된다. 중이온 산란분석법(heavy ion RBS)은 He을 사용하는 산란분석법에 비하여 원리적으로 분해능이 우수하나 사용하는 반도체 검출기의 에너지 분해능의 불량이 이러한 장점을 상쇄하는 실정이다. 그러나 TOF spectrometer를 중이온 산란실험의 에너지 계측기로 사용하면 H, He에 대한 반도체 검출기 정도의 낮은 에너지분해능 수준을 유지할 수 있으므로 중이온 산란실험의 원리적인 장점을 살릴 수 있다. 한국자원연구소에서는 He RBS의 취약점으로 지적되어온 medium elements에 대한 질량분해능과 깊이 분해능을 향상시키고자 140$^{\circ}$ 산란각에 TOF spectrometer가 위치하는 Heavy Ion Rutherford Backscattering Spectrometry (HIRBS) 시스템을 설계하였다. 설계된 TOF spectrometer를 채용하였을 때 기대되는 질량분해능 향상효과와 분석의 최적조건에 관하여 논한다.

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Study on characteristics of seed cultivation using artificial light source (인공광원을 이용한 작물배양 특성에 관한 연구)

  • Cha In-Su;Cho Kyung-Chul
    • Proceedings of the KIPE Conference
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    • 2006.06a
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    • pp.178-180
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    • 2006
  • 광은 식물의 광합성 작용뿐만 아니라 조직이나 기관의 분화, 종자의 발달 등 식물의 형태형성에도 관여하는 중요한 요인 중 하나이다. 불량한 광환경조건 하에서는 작물의 생육부진 뿐만 아니라 다양한 생리장해 및 병발생 등을 유발하기 때문에 경제적으로 광효율을 증가시키기 위하여 적절한 시설구조를 채택해야 한다. 또한 작물의 생육과 품질을 향상시키기 위하여 보광 및 차광 등 광환경 관리기술 개발이 요구된다. 본 연구에서 도입한 적외선램프는 새로운 인공광원으로서 태양광과 80% 정도 유사하고 용도에 따라 근적외선, 중적외선 및 원적외선이 방사되도록 할 수 있으며, 적은 전력소모량과 발생되는 열원은 겨울철 온풍난방기를 보조하거나 대체할 수 있어 에너지 절감효과를 동시에 기대할 수 있다. 따라서 본 연구는 인공광원에 대한 기초연구로서 인공광원의 종류별 분광특성을 비교 분석하고, 일몰 후 적외선램프의 조사 시간이 배추와 상추 유묘의 생장에 미치는 영향을 구명하고자 실시하였다.

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A Metric for Evaluation of Component Quality (컴포넌트의 품질 측정을 위한 메트릭에 대한 연구)

  • Jang, Yeun-Sae
    • 한국IT서비스학회:학술대회논문집
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    • 2002.06a
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    • pp.147-151
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    • 2002
  • 최근 국내 SI 사업체들은 소프트웨어의 가치를 향상시키기 위해 컴포넌트를 적극 도입하고 있다. 그러나 컴포넌트 시장을 활성화 시키기 위해서는 다양한 범주의 고객이 요구하는 양질의 컴포넌트를 풍부하게 갖추고, 고객이 시스템을 직접 개발하는 것보다 적은 비용과 시간을 소모하면서도 시스템을 구축할 수는 환경을 조성해야 한다. 그러한 환경을 구축하기 위한 요소중 고객의 구매 결정과 직결되는 가장 중요한 항목은 컴포넌트의 기술적 가치와 비즈니스적 가치의 평가와 이를 위한 시험 기준이다. 객관적이고 공정한 시험 기준이 마련되지 않는 상태에서 품질 평가가 이루어 지지 못한다면, 잠재적 고객이 구매 또는 사용하고자 하는 컴포넌트가 적절한 가치를 갖고 있는 것인지 판단할 수 있는 근거가 없고 시장 형성 초기부터 불량 컴포넌트 제품이 공급됨으로 인해 신뢰성이 저하되어 컴포넌트를 구매하는 대신 다른 대안을 선택하려 할 것이다. 객관적이고, 유력한 품질 평가 시스템을 구축하기 위해서는 품질 시험 평가를 위한 기준 마련이 선결 조건이다. 품질 시험 평가 가이드라인은 고품질의 소프트웨어 컴포넌트의 생산을 가능하게 하여, 궁극적으로 소프트웨어의 신뢰도를 향상 시키는 가장 유력한 방안이 될 것이다. 이를 통해 컴포넌트 소프트웨어의 유통 촉진 및 시장 성장을 견인, 생산/개발-유통-사용에 이르는 전체 컴포넌트 산업의 완결된 서비스를 제공 할 수 있을 것이다. 본 연구에서는 이러한 기준 마련을 위한 메트릭을 제공한다.

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유기 EL용 ITO 표면 연마장비의 운전변수와 균일도의 상관관계에 대한 연구

  • 김면희;손준호;이태영;배준영;이상룡
    • Proceedings of the Korean Society of Precision Engineering Conference
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    • 2004.05a
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    • pp.215-215
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    • 2004
  • 본 연구는 차세대 FPD의 소재로서 각광받고 있는 유기EL 의 제조공정을 위한 연구이다. 유기 EL 의 모재로서 이용되고 있는 ITO 코팅 유리는 그 표면의 정밀도에 따라서 제품의 불량률이 변화되게 됨으로 제조공정에 있어서는 매우 중요한 역할을 한다. 하지만, ITO 코팅유리의 표면 정밀도를 얻기 위하여 필수적인 연마공정 내에서 연마입자와 ITO 코팅유리의 상호작용에 의하여 연마가 이루어질 뿐 아니라, 불순물의 유입이나 기타 공정조건에 의하여 유리 표면 결함이 발생 및 불균일 연마가 수행되는 것은 피할수 없는 상황이다.(중략)

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Regularized LS Signal Detection for OFDM in Fast Time Varying Channels (고속 시변 채널 OFDM을 위한 안정화된 LS 신호검출)

  • Lim, Dongmin
    • The Journal of Korean Institute of Communications and Information Sciences
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    • v.41 no.1
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    • pp.83-85
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    • 2016
  • The OFDM with LS signal detection performs worse in fast time varying channels as the channel matrix has higher chance of becoming ill-conditioned. Various regularization methods are applied to avoid performance degradation in LS signal detection. In this paper, we proposed a CGLS method with the stopping criteria imposed by the characteristics of the modulation method, which shows performance comparable to that of the optimal LMMSE.

Design and Analysis of Injection-Molded Portable Telephone-Charging Equipment Using Integrated CAE Approach (통합적 CAE 기술에 의한 휴대폰 충전기 설계 해석)

  • Oh Jung-Yeol;Huh Yong-Jeong;Li Gil-Goo
    • Proceedings of the KAIS Fall Conference
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    • 2004.06a
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    • pp.72-74
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    • 2004
  • 본 연구의 목적은 천안시 소재 (주)삼우금형의 생산 제품인 휴대폰 충전기에 대해 CAE 프로그램인 Moldflow와 CAPA를 이용하여 유동해석과 냉각해석을 수행함으로써 성형불량을 최소화하고 좋은 설계를 얻을 수 있는 최적의 성형조건을 얻으려는 것이다. 사출성형 관련 설계를 설계초기 단계에서 CAE기술을 활용하여 합리적인 설계로 나아가기 위한 구체적인 과정을 기술하였다. 제품 성형에 있어서의 문제점을 최소화하고 재료비 절감, 설계납기 단축, 제품 품질 향상을 달성하기 위해서 CAE 해석을 통하여 현재 제품의 문제점을 도출하고 그 해결책을 제시하였다.

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IoT - based sewing machine presser foot sensing system for smart manufacturing (스마트 제조를 위한 IoT기반 봉재기 노루발 센싱 시스템)

  • Lee, Dae-hee;Lee, Jae-yong;Park, Jung-Hyun
    • Proceedings of the Korea Information Processing Society Conference
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    • 2018.10a
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    • pp.472-474
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    • 2018
  • 봉제 공정에서 노루발 압력 센싱이 중요한 이유는 적정 압력 조건으로 봉제원단을 눌러주지 못할 경우 봉제 스티치의 불량 및 최종 마감 원단의 손실로 이어져 납기시간 증가 및 원가상승에 막대한 영향을 미칠 수 있다. 이러한 점을 사전 예방하여 적기생산 및 양품 생산 데이터를 획득 양산시 반영하도록 하여 궁극적으로 CPS환경의 스마트 팩토리를 실현하는데 본 연구가 필요하다.

Life time test & Failure mode analysis of LED chip level for LCD back lighting unit (LCD BLU 광원용 LED chip level의 수명시험 및 고장모드 분석)

  • Park, Seung-Hyun;Lim, Sue-Hyun;Hwang, Nam;Cho, Young-Ick
    • Proceedings of the KIEE Conference
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    • 2007.07a
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    • pp.1556-1557
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    • 2007
  • LCD BLU에 광원의 수명을 측정하고, 고장모드를 분석하기 위해서는 광원을 구성하고 있는 각각의 성분 중에서 광원 자체를 구성하고 있는 R/G/B 광원에 대한 Burn-in test 및 고장모드를 분석하였다. LCD BLU에 있어서 R/G/B LED광원의 역할은 BLU 자체의 수명과 성능에 가장 큰 영향을 미친다. 서로 각각 사용조건하에서의 수명과 성능의 차이에 따라서 BLU 자체의 수명이 결정된다. 이를 평가가기 위해 LED device에 대한 가속수명테스트를 위한 Burn-in test를 실시하였으며, 발생한 고장모드를 분석하였다. 분석결과 누설전류 증가로 인한 불량이 주로 발생하였다. 누설전류 증가를 평가하기 위해 Photo emission microscope(PHEMOS-1000, MoDooTEK Inc.)을 이용하여 저전류에서의 LED chip의 누설전류에 의한 발광을 관찰함으로 인해, LED chip의 신뢰성 및 평가 기준이 됨을 알 수 있다.

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