Proceedings of the KIEE Conference (대한전기학회:학술대회논문집)

The Korean Institute of Electrical Engineers (대한전기학회)
권호 표지

Life time test & Failure mode analysis of LED chip level for LCD back lighting unit

LCD BLU 광원용 LED chip level의 수명시험 및 고장모드 분석

  • Park, Seung-Hyun (Korea Photonics Technology Institute, Technical diffusion team) ;
  • Lim, Sue-Hyun (Korea Photonics Technology Institute, Technical diffusion team) ;
  • Hwang, Nam (Korea Photonics Technology Institute, LED module Team) ;
  • Cho, Young-Ick (Korea Photonics Technology Institute, Technical diffusion team)
  • 박승현 (한국광기술원 기술확산팀) ;
  • 임수현 (한국광기술원 기술확산팀) ;
  • 황남 (한국광기술원 LED모듈팀) ;
  • 조용익 (한국광기술원 기술확산팀)
  • Published : 2007.07.18
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Abstract

LCD BLU에 광원의 수명을 측정하고, 고장모드를 분석하기 위해서는 광원을 구성하고 있는 각각의 성분 중에서 광원 자체를 구성하고 있는 R/G/B 광원에 대한 Burn-in test 및 고장모드를 분석하였다. LCD BLU에 있어서 R/G/B LED광원의 역할은 BLU 자체의 수명과 성능에 가장 큰 영향을 미친다. 서로 각각 사용조건하에서의 수명과 성능의 차이에 따라서 BLU 자체의 수명이 결정된다. 이를 평가가기 위해 LED device에 대한 가속수명테스트를 위한 Burn-in test를 실시하였으며, 발생한 고장모드를 분석하였다. 분석결과 누설전류 증가로 인한 불량이 주로 발생하였다. 누설전류 증가를 평가하기 위해 Photo emission microscope(PHEMOS-1000, MoDooTEK Inc.)을 이용하여 저전류에서의 LED chip의 누설전류에 의한 발광을 관찰함으로 인해, LED chip의 신뢰성 및 평가 기준이 됨을 알 수 있다.

Keywords