• Title/Summary/Keyword: 반도체소자

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Analysis and Design of the ignitor for Metal Halide Lamp driven by Full-Bridge Inverter (풀 브리지 인버터에 적합한 메탈 핼라이드 램프용 점화기의 해석 및 설계)

  • Park, Chong-Yun;Lee, Bong-Jin
    • Journal of the Korean Institute of Illuminating and Electrical Installation Engineers
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    • v.21 no.8
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    • pp.20-26
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    • 2007
  • A high ignition voltage is required to turn on the metal halide discharge(MHD) lamp. The igniter with high frequency resonance circuit needs more devices, such as sidac, arc-gab, SCR(silicon control rectifier), DIAC and so of which increase the complexity and decrease the reliability of the ignitor. This paper analyzes and designs a simple LC resonance type igniter without any extra switch devices. Moreover, the igniter will not influence the steady-state operation of the lamp. Through the mathematical analysis, the computer simulation and experiment results of a prototype ballast for 1[kW] metal halide lamp(MHL) lamp, the proposed igniter was verified to be effective.

Improvement in Bias Stability of Amorphous IGZO Thin Film Transistors by High Pressure H2O2 Annealing

  • Song, Ji-Hun;Kim, Hyo-Jin;Han, Yeong-Hun;Baek, Jong-Han;Jeong, Jae-Gyeong
    • Proceedings of the Korean Vacuum Society Conference
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    • 2014.02a
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    • pp.231.2-231.2
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    • 2014
  • 훌륭한 전기적 특성을 갖는 ZnO 기반의 산화물 반도체 박막트랜지스터(TFT)는 AMOLEDs에 적용될 수 있다. 하지만 이러한 장점에도 불구하고 산화물 반도체 TFT소자에 전압이 인가되었을 때 문턱 전압이 이동하게 되는 안정성 문제를 갖는다. 따라서 이를 해결하기 위한 연구가 널리 진행 되고 있다. 본 연구소에서는 고압 분위기 열처리를 통해 안정성의 원인으로 작용할 수 있는 산소공공(Oxygen vacancy)을 감소시키는 연구를 진행하였다. 산화물 반도체 TFT소자의 안정성을 향상시키는 대표적인 분위기 열처리로는 산소 고압 열처리(HPA)가 있으며, 또한 H2O 기체를 사용한 열처리를 통해 TFT소자의 안정성을 높일 수 있다는 연구 결과가 보고된 바 있다. 본 연구에서는 IGZO TFT소자에 H2O보다 더 큰 반응성을 갖는 산화제인 H2O2 기체를 사용한 HPA를 통해 positive bias stress(PBS) 및 negative bias illumination stress(NBIS) 조건에서 안정성이 향상됨을 확인하였고 이를 H2O 기체를 사용한 경우와 비교하였다. 그 결과 H2O2 기체를 산화제로 사용할 때 기존 H2O 기체에 비해 효과적인 PBS 및 NBIS 신뢰성 개선을 확인하였다.

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사파이어 기판 위에 성장한 N-tyep ZnO Ohmic 접합 연구

  • Lee, Gyeong-Su;Seo, Ju-Yeong;Song, Hu-Yeong
    • Proceedings of the Korean Vacuum Society Conference
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    • 2011.02a
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    • pp.96-96
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    • 2011
  • ZnO는 실온에서 3.37 eV의 큰 밴드갭 에너지와 60 meV의 높은 exciton binding energy를 가지고 있어 광소자를 만드는데 큰 관심을 얻고 있다. 또한 최근에는 ZnO를 기반으로 한 동종접합 전광소자를 만드는데 성공하였다. 그러나 소자의 성능을 높이기 위해 여러 가지 개선할 사항이 있다. 그 중에 하나는 캐리어를 잘 주입 시키기 위한 금속-반도체 접합을 구현하는 것이다. 이러한 문제를 개선하기 위해서는 ZnO 기반으로 한 낮은 비저항을 가진 소자가 필요하다. 일반적으로 n-type ZnO Ohmic 접합에서 쓰이는 금속은 Ti/Au, Ta/Au, Al/Au 등이 있다. 실험방법은 c-plane 사파이어 기판 위에 펄스 레이저 증착 방법으로 3시간 동안 $500^{\circ}C$ 환경에서 ZnO 박막을 성장하고, 표면을 고르게 하기 위해 $1000^{\circ}C$에서 1분 동안 열처리를 진행하였다. 샘플 위에 photo-resist 코팅을 한 다음 transfer length method(TLM)를 이용하기 위해 포토리소그래피 장비를 통하여 샘플을 노광하였다. 그 위에 Ti/Au (30 nm/80 nm)를 E-beam/thermal evaporation으로 증착 하였다. 이는 일반적인 반도체 공정과 Lift-off방식을 이용하여 패터닝 하였다. 샘플을 열처리하는 것은 금속과 반도체의 접촉 접착과 전기적인 성질을 개선하고 응력과 계면 결함을 감소시키기 때문에 샘플을 100, 200, 300, 400, $500^{\circ}C$에서 각각 열처리하였다. 저항을 구하기 위해 각각 열처리된 샘플과 as-deposited의 전류, 전압 특성을 측정하고, 이러한 실험 방법으로 n-type ZnO의 Ohmic 접합을 구현하는 것이 목표이다.

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Organic Electronics, Organic Thin-Film Transistor (유기 전자소자, OTFT)

  • Kim, S.H.;Lee, J.H;Lim, S.C.;Ku, J.B.;Ku, C.H.;Sung, G.Y.;Zyung, T.H.
    • Electronics and Telecommunications Trends
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    • v.20 no.5 s.95
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    • pp.56-69
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    • 2005
  • 유기물이 반도체 성질을 가질 수 있다는 것이 밝혀지면서 많은 여러 가지 응용분야에 많은 연구가 진행되어 왔다. 유기 반도체는 무기 반도체와 다르게 적절한 용매에 녹는다는 장점이 있다. 이 장점을 활용해 소자 제작에 직접 인쇄법인 그래픽 인쇄 방식을 사용할 수 있다. 본 기고문에서는 유기 반도체의 여러 응용 분야 중 직접 인쇄법으로 제작한 유기 전계효과 트랜지스터(OTFT)를 중심으로 기술 발전 방향과 연구 동향, 대표적 벤처 기업 등에 관하여 기술하였다.

Gate-voltage controlled Rashba effect in semiconductor

  • 홍진기;이진서;주성중;이긍원;안세영;이제형;김진상;신경호;이병찬
    • Proceedings of the Korean Magnestics Society Conference
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    • 2003.06a
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    • pp.168-169
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    • 2003
  • 최근 세계적 주목을 받고 있는 spin FET 소자는 반도체에 주입된 spin 편향된 전자가 gate voltage(V$_{G}$)에 의해 반도체 계면에 유도된 전기장의 영향을 받아, Spin 세차운동을 하는 mechanism(Rashba 효과)이 근간을 이루고 있다. 작은 band gap을 가지는 반도체(narrow gap 반도체)는 작은 유효질량의 전자에 의해서 이러한 Rashba 효과를 크게 할 수 있어서, spin FET 구현을 위한 강력한 후보이며, 요즘 한창 연구되고 있는 주제이기도 하다. Rashba 효과가 저자기장 영역에서의 weak antilocalization효과로 나타남을 이용하여, 본 논문에서는 metal gate가 형성된 HgCdTe FET를 제작하여(FET1 시료, Fig. 1(a)참조), V$_{G}$에 따른 weak localization(WL) 및 weak antilocalization(WAL) 효과를 얻었다. 또한, Rashba 효과에 의한 spin 세차운동을 측정할 수 있는 소자(FET3 시료, Fig.1(b) 참조)를 제작하여 spin FET 구조에 대하여 연구하였다.

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Numerical Simulation of AlGaN/GaN HEMT (AlGaN/GaN HEMT의 수치해석 시뮬레이션 연구)

  • Ha, Min-Woo;Choi, Kangmin;Kwag, Jaewon
    • Proceedings of the KIEE Conference
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    • 2015.07a
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    • pp.1124-1125
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    • 2015
  • 밴드-갭이 큰 반도체는 실리콘에 비하여 다양한 전기 물성 장점을 가져 고주파수 증폭 소자나 차세대 전력 반도체 소자로 각광을 받고 있다. 다양한 와이드 밴드-갭 반도체 중 AlGaN/GaN 이종접합 반도체는 채널의 높은 전도성과 높은 임계 전계로 인하여 우수한 전기적 특성을 가진다. 최근 발전된 수치해석 시뮬레이션을 이용하여 AlGaN/GaN 고전자 이동도 트랜지스터 (high-electron-mobility transistor, HEMT)의 설계연구를 진행하였다. AlGaN 장벽층의 두께가 증가할수록 채널의 전자 면 농도가 증가하도록 설계하였다. 또한 게이트 필드 플레이트 설계를 통하여 AlGaN/GaN HEMT의 역방향 전계 피크를 1개에서 2개로 증가시켜 항복전압을 368 V에서 최대 822 V로 개선하였다. 수렴문제를 개선한 수치해석 시뮬레이션은 RF power AlGaN/GaN HEMT의 설계에 유용하다.

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X-ray 시스템의 구성 및 TSV (Through Silicon Via) 결함 검출을 위한 응용

  • Kim, Myeong-Jin;Kim, Hyeong-Cheol
    • Proceedings of the Korean Vacuum Society Conference
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    • 2014.02a
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    • pp.108.1-108.1
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    • 2014
  • 제품의 고성능 사양을 위해 초미소 크기(Nano Size)의 구조를 갖는 제품들이 일상에서 자주 등장한다. 대표 제품은 주변에서 쉽게 접할 수 있는 전자제품의 반도체 칩이다. 반도체 칩 소자 구조는 크기를 줄이는 것 외에도 적층을 통해 소자의 집적도를 높이는 방향으로 진화를 하고 있다. 복잡한 구조로 인해 발생되는 여러 반도체 결함 중에 TSV 결함은 현재 진화하는 반도체 칩의 구조를 대변하는 대표 결함이다. 이 결함을 효율적으로 검출하고 다루기 위해서는 초미소 크기(Nano Size)의 결함을 비파괴적인 방법으로 가시화하고 분석하는 장비가 필요하다. X-ray 시스템은 이러한 요구를 해결하는 훌룡한 한 방법이다. 이 논문에서는 X-ray 시스템의 구성 및 위의 TSV 결함을 검출하고 분석하기 위한 시스템의 특징에 대해 설명을 한다. X-ray 시스템은 크게 X선을 발생시키는 X선튜브와 대상 물체를 투과한 X선을 영상화하는 디텍터, 대상물체의 영상화를 위해 물체를 적절하게 구동시키는 이동장치로 구성되어 있다. 초미소크기(Nano Size)의 결함 검출을 위해서는 X선 튜브, 디텍터, 이동장치에 요구되는 사양의 복잡도, 정밀도는 이러한 시스템의 개발을 어렵게 만든다. 이 논문에서는 이러한 시스템을 개발 시에 시스템 핵심 요소의 특징을 분석한다.

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Semiconductor nonlinear optical spectroscopy (반도체의 비선형 분광학)

  • 박승한
    • Korean Journal of Optics and Photonics
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    • v.3 no.4
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    • pp.280-287
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    • 1992
  • The nonlinear optical properties of semiconductors and semiconductor microstructures have been the subject of intense research, not only from a fundamental physics point of view, but also for their potential applications to future opto-electronic devices. In this paper, steady-state and time-resolved nonlinear optical spectroscopic techniques to investigate the microscopic world of semiconductor materials were briefly described.

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A study on Parasitic Impedance of Power Semiconductor Modules for EV (차량용 전력반도체 모듈의 기생 임피던스에 관한 고찰)

  • Jang, Tae Eun;Kim, Tae Wan;Jang, Dong Keun;Kim, Jun Sik;Park, Sihong
    • Proceedings of the KIPE Conference
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    • 2012.07a
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    • pp.156-157
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    • 2012
  • 최근 국내에서도 다양한 형태의 전력반도체 모듈이 개발되고 있으며 대용량화에 따라 전력반도체 패키지 내부에 소자의 병렬연결이 흔히 사용되고 있다. 이에 따라 회로의 구조에 따른 기생 임피던스, 즉, 인덕턴스와 저항 성분은 개별 소자의 안전영역(SOA)을 넘는 스트레스를 발생시키고 고장을 일으킬 수 있다. 이러한 기생 임피던스를 모듈 설계 단계에서 시뮬레이션을 통해 분석하여 이에 의한 영향을 예측하고 설계에 반영하여 고 신뢰성 차량용 전력반도체 모듈을 개발하고자 한다.

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Modulation characteristics of semiconductor electrooptic light modulators (반도체 전계광학 광변조기의 변조특성)

  • 이종창;최왕엽;박화선;변영태;김선호
    • Proceedings of the Optical Society of Korea Conference
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    • 2000.08a
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    • pp.22-23
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    • 2000
  • GaAs/AlGaAs나 InGaAs/InGaAsP와 같은 반도체 기판을 이용한 전계광학 광변조기는 LD나 SOA와 같은 광소자와 단일기판 집적이 가능하고 낮은 chirping과 높은 변조대역폭을 갖는 외부광변조기로서의 장점으로 인하여 마이크로파 대역의 초고속광통신소자로 각광을 받아왔다. 특히 진행파의 속도가 정합된 traveling-wave 전극 구조를 갖는 경우 변조대역폭은 30-400Hz에 달하고 있다$^{(1)}$ . 그러나 한편으로는 반도체의 전계광학계수(electro-Optic Coefficient)가 LiNbO$_3$에 비해 10분의 1정도로 작아 상대적으로 동작전압이 커지는 단점이 대두되며 실제 구동전압이 수십 V에 이르고 있다. 이런 단점을 극복하기 위하여 p-i-n 구조를 이용하여 전계 집속도를 높이는 방법이 제안되어 동작전압이 2 V/mm 정도까지 감소하였다$^{(2)}$ . 본 논문에서는 이와 같은 반도체 전계광학 광변조기에서의 소신호 및 대신호 광변조특성을 분석함으로써 보다 높은 변조대역폭과 보다 낮은 동작전압을 갖는 구조를 연구하였다. (중략)

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