The optical system of lens must be designed to tramsmit light over wide wavelength range and to have lower reflectivity in order to obtain higher spectral transmittance. However, the reflection color light appears due to the remain-reflection light in any optical system of lens. The wavelength of the reflection color light can be controlled by the structure of the number of layers, thickness of layer, reflective index, wavelength of incidence, and substrate etc. In the optical systems of the single layer and the double layers, the reflection color light appears in the condition of the anti-reflection of ${\lambda}s/{\lambda}$ = 1.0 by the color mixture of the remain-reflection lights in the ranges of the longer wavelength side and the shorter one of the ${\lambda}s/{\lambda}$ = 1.0, and of the double layers and triple layers, the reflection color light positioned at P1 < ${\lambda}s/{\lambda}$ < P2 appears in the condition of the antireflection of ${\lambda}s/{\lambda}$ = $PI{\ll}1$ and $P2{\gg}1$. In the optical system of the multi-layers, many antireflection points are existed at the various s/ values, and the reflection color light by the color mixture of the remain-reflection lights in the ranges except for the antireflection points.
Proceedings of the Korean Vacuum Society Conference
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2011.02a
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pp.98-98
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2011
수직으로 정렬된 1차원 나노구조는 입사되는 빛에 대하여 반사율을 줄일 수 있는 유효 굴절률 profile을 갖고 있어, 태양광소자 및 광전자소자의 성능을 향상시키기 위해 널리 응용되어 왔으며, 이러한 수직으로 정렬된 1차원 나노구조를 제작하는 연구가 매우 활발하게 이루어지고 있다. 그 중 화학적 방법으로 성장시킨 산화아연 나노로드(ZnO nanorod)는 비교적 간단하고 저렴한 제작공정을 통해서 높은 결정성을 갖는 수직형 1차원 나노구조체로 이용 할 수 있다. 한편, 효과적인 무반사(antireflection) 층을 제작하기 위해서는 표면에서 발생되는 Fresnel 반사율을 낮춰야 하는데, 이를 위해서 입사되는 매질에서 기판 사이의 유효 굴절률이 연속적이고, 점진적인 변화가 필요하다. 이에 본 연구에서는 무반사 특성향상을 위해서 실리콘 (Si) 기판위에 tapered 산화아연 나노로드를 화학적으로 성장시켜 반사율 특성을 분석하였다. 실험을 위해, 먼저 Si 기판에 AZO (Al doped ZnO) seed 층을 RF magnetron 스퍼터를 사용해 증착한 후, zinc nitrate $Zn(NO_3)_2{\cdot}6H_2O$과 hexamethylentetramines으로 혼합된 용액에 담가두어 산화아연 나노로드를 성장시켰다. Tapered 산화아연 나노로드를 형성하기 위해 용액의 온도를 서서히 낮춤으로 산화아연나노로드의 끝을 뾰족하게 제작할 수 있었다. 한편, 이론적으로 AZO seed 층의 두께에 대한 반사 스펙트럼을 rigorous coupled wave analysis (RCWA) 계산법을 통해서 시뮬레이션을 수행하였으며, 최적화된 AZO seed 층의 두께를 결정하여, 그 위에 tapered 산화아연 나노로드를 성장시켜 반사율을 측정하여 무반사 특성 향상을 확인 할 수 있었다. 또한, 태양광소자 응용을 위해, 표준 AM1.5G 태양광 스펙트럼을 고려한 solar weighted reflection을 계산하였다.
The Journal of Korean Institute of Electromagnetic Engineering and Science
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v.21
no.12
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pp.1401-1411
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2010
In this paper, we suggested the tolerance limits of FAR(Fully Anechoic Room) using correlation factor between OATS(Open area Test Site) to measure EMI(Electromagnetic Interference) and FAR to measure EMS(Electromagnetic Susceptibility). FAR Project(SMT4-CT96-2133), CISPR/A/665/DTR, and CISPR A/665/DTR documents are analyzed and theoretical correlation factor based on the documents and theoretical equations is drawn. To obtain the experimental correlation factor, EUT(Equipment Under Test) is fabricated as well as measured at the 10 m distance OATS and in the 3 m distance FAR. Also, to suggest the tolerance limits of EUT with multi sources, radiation theory for electric and magnetic dipoles is programmed. We drew the correlation factor for EUT with multi sources through the programs. As the tolerance limits of FAR is newly defined, It can be used alternative test site for OATS to measure EMI, efficiently.
Proceedings of the Korean Vacuum Society Conference
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2016.02a
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pp.274-274
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2016
터치스크린패널로 응용하기 위하여 80%이상의 높은 투과도와 낮은 저항이 요구된다. 그 중에서도 무반사 효과 (anti-reflective, AR) 를 크게하여 투과도를 향상시키는 방법으로 나노구조물, 증착시 경사각, 다층박막 방법 등이 연구 개발되고 있다. 단일 박막을 이용하여 무반사 코팅을 하는 경우, 정밀한 굴절률 조절이 어려우며 낮은 반사율 영역의 선폭이 좁은 단점이 있다. 반면, 저/고굴절률 다층박막의 경우 비교적 굴절률 조절이 용이하고 가시광영역 전반적으로 높은 투과도를 가질 수 있다. plasma enhanced chemical vapor deposition (PECVD) 증착법을 이용하여 무반사 효과를 증대시키기 위해 저/고굴절률 다층구조의 박막을 두께조합에 따라 평가하였으며, 가장 널리 사용되고 있는 Sputtering증착법과 비교하여 연구하였다. 제작된 다층박막의 구조는 glass(sub.)/SiN/SiO2/ITO 이며, 무반사 코팅층인 SiN/SiO2층은 각각 PECVD와 Sputtering 증착법을 통해 성장되었고, ITO는 스퍼터링 증착법을 이용하여 동일하게 성장하였다. 그 결과 PECVD 증착법이 Sputtering 증착법에 비하여 가시광영역(400~800nm)에서 더 높은 투과도를 얻게 되었다. 결과의 차이에 대해서 PECVD 증착법과 Sputtering 증착법으로 성장된 SiN, SiO2 박막의 광학적 특성과 물리적 특성의 변화를 spectroscopic ellipsometry (SE), Rutherford backscattering (RBS), atomic force microscopy (AFM) 을 이용하여 비교, 분석하였다.
Park, M.C.;Son, Y.B.;Jung, B.Y.;Lee, I.S.;Hwangbo, C.K.
Journal of Korean Ophthalmic Optics Society
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v.5
no.1
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pp.7-11
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2000
The anti-reflective anti-static (ARAS) optical film is designed using absorbent materials such as ITO, $TiN_xW_y$, Ag by Essential Macleod program. [air ${\mid}TiN_xW_y{\mid}SiO_2{\mid}$ glass] two layer shows wide-band AR coating in the wavelength range of 450~700 nm. The reflectivity, transmittance of this coating are below 0.5%, about 75%, respectively. [air $SiO_2{\mid}TiO_2{\mid}SiO_2{\mid}$, ITO glass] layer can adjust reflectance of below 0.5% with above 97% transmittance. In the [air ${\mid}SiO_2{\mid}TiO_2{\mid}SiO_2{\mid}$ Ag glass] layer, the transmission can be controlled at above 96% with reflectance of 1~2%.
Proceedings of the Acoustical Society of Korea Conference
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autumn
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pp.273-276
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2000
본 연구에서는 무반향 수조의 내벽 흡음 물질로 사용되는 무반향 타일을 쐐기형으로 제작하여 쐐기의 꼭지 각 변화에 따른 음향학적인 특성을 고찰하였다. 실험에서 사용된 쐐기형 무반향 타일의 크기는 $40{\cal}cm{\times}38.5{\cal}cm$ 이며, 타일을 구성하는 각 쐐기의 길이는 $2.75{\cal}cm$로 고정하고 각각 쐐기의 꼭지각이 $30^\circ$ 와 $60^\circ$ 인 타일을 제작하였다. 수중에서 쐐기가 없는 무반향 시료와 쐐기형 무반향 타일에 음파를 수직 입사하여 반사계수를 측정하였으며, 쐐기의 유무와 무반향 타일을 구성하는 쐐기의 꼭지각 변화에 따른 반사 및 흡음 특성을 고찰하였다. 음향특성 임피던스가 $2.14\times10^6$ Pa$\cdot$s/m인 쐐기형 무반향 타일을 25kHz 에서 100kHz의 주파수 영역의 음파를 입사했을 애 쐐기의 꼭지각이 $30^\circ$ 일 때 $60^\circ$보다 압력반사계수가 작고, 반사손실이 증가함을 알 수 있었으며, 그 결과로써 본 실험에서 사용된 $30^\circ$의 쐐기 꼭지각을 갖는 무반향 타일이 내벽 흡음 물질로서 성능이 더 좋다는 것을 확인하였다.
KSCE Journal of Civil and Environmental Engineering Research
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v.31
no.3B
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pp.305-308
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2011
In this study, generation methods of 3-D multi-directional random wave are examined using the fully non-linear numerical model with non-reflected wave generation system (LES-WASS-3D). Directional distribution functions obtained by EMLM method are compared for multidirectional random waves generated by various generation methods. As a results, it is revealed that multi-directional wave field can be simulated using LES-WASS-3D.
In this study we have calculated an ideal complex refractive index of a TiN trim used in a layer of anl1reilecnon (I\R) coatmg, [air$ISiO_2ITiNIglass$] in the visible. Also we simulated the rellectance of lwo-layer AR coating by varying the thicknesses of TiN and $SiO_2$ layers, respecl1vely. The simolation results show that we can controllhe lowest reflectance and AR band of tile AR coating. The TIN fihns were fabricated by a RF magnetron sputtering apparalus. The chemical, structural and electrical properties of TiN fih11S were inveshgated by the Rutherford backscattering spech'oscopy (RBS), atomic force microscope (AFM) and 4-point probe. The optical properlies were inve,tigated by the spectrophotometer and vanable angle spectroscopic ellipsometer (VASE). The smface roughness of TiN flhns \vas $9~10\AA$. TIle resistivity of TiN films was TEX>$360~730\mu$\Omega $ cm. The ,toichlOllletry of TiN film was 1'1: O:N = I: 0.65 :0.95 and ilic oxygen wa~ found on ilie smface. With these experimental and simu]al1on resulLs, we deposited duo: two-layer AR coating, [air$ISiO_2ITiNIglass$] and the refleClance was under 0.5% ill the regIOn of 440-650 run. 0 run.
We fabricated the textured silicon (Si) surface on Si substrates by the electrochemical etching using gold (Au) nanoparticle catalysts. The antireflective property of the fabricated Si nanostructures was improved. The Au nanoparticles of ~20-150 nm were formed by the rapid thermal annealing using thermally evaporated Au films on Si. In the chemical etching, the aqueous solution containing $H_2O_2$ and HF was used. In order to investigate the effect of electrochemical etching on the etching depth and reflectance characteristics, the sample was immersed in the aqueous etching solution for 1 min with and without applied cathodic voltages of -1 V and -2 V. As a result, the solar weighted reflectance, i.e., the averaged reflectance with considering solar spectrum (air mass 1.5), could be efficiently reduced for the electrochemically etched Si by applying the cathodic voltage of -2 V, which is expected to be useful for Si solar cell applications.
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[게시일 2004년 10월 1일]
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