• Proceedings of the KIEE Conference
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• 2003.07a
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• pp.543-545
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• 2003

한류형 전력퓨즈는 계통의 단락사고로 고장 전류가 흐를 때 퓨즈내부에서 발생하는 저항에 의해 고장전류를 회로 고유의 단락전류보다 아주 적은 값으로 제한하고 최소 시간내에 차단하여 회로를 보호하므로 계통기기의 단락용량를 최소한으로 감소시킬 수 있다. 본 논문에서는 이러한 한류형 전력퓨즈의 단락전류 차단성능 평가를 위해 동작책무에 따른 차단성능을 규명하고자 단락발전기를 사용하여 단락전류차단시험을 실시하고 그 결과를 제시하였으며, 또한 차단과정에 따른 스트레스들이 단락시험 시 차단성능에 미치는 영향을 다루고 있다.

• Proceedings of the KIPE Conference
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• 2019.07a
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• pp.299-300
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• 2019

본 논문에서는 MVDC(Medium-Voltage DC) 차단기의 성능평가를 수행하기 위해 사용되는 단락 시험 설비의 새로운 구조를 제시한다. 단락 시험 설비는 직류 고전압과 고전류를 발생시키고 이러한 조건에서 차단기의 개폐 성능을 검증한다. 고전압과 고전류를 단일 회로로 합성하는 구조의 경우, 단락 시험 설비의 규모와 전력용량이 매우 크다. 제시하는 단락 시험 설비는 별개의 회로인 고전류원과 고전압원으로 구성된다. 각 회로에서 직류 고전압과 고전류를 발생시켜 단락 시험을 수행하는 구조이다. 제시하는 단락 시험 설비의 구조와 동작 원리를 설명하고 시뮬레이션 분석을 통하여 그 성능을 검증하였다.

• Proceedings of the KIEE Conference
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• 2003.11a
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• pp.7-9
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• 2003

전력계통의 정상상태와 다양한 초장상태를 모의하기위한 단락시험설비는 크게 단락발전기, 보호차단기, 전류제한 리액터, 투입스위치, 단락변압기, 버스바 및 케이블, 투입피크 제한장치, 부하회로 및 측정장치 등으로 구성되어 있으며, 유효한 시험을 위해서는 이러한(변수)조합들을 적절하게 조절, 제어하여 실계통의 현상을 재현하거나 규격 또는 의뢰자의 요구에 부응하도록 하는 것이 중요하다. 이것을 위해서는 각 시험설비의 정상 및 과도 특성과 조합된 회로에 상존하는 변수(stray values)들을 찾아내고, 이들에 대한 독립성과 의존성 관계를 파악하여 계산 가능한 모델링을 도출 하여야 한다. 그러나 경험적으로 볼때 단락발전기의 과도임피던스 및 여자 특성과 변압기를 포함한 회로상의 stray values 등이 여러 변수들과 만들어내는 상관관계를 파악하는데는 좀 어려움이 있었다. 본 논문에서는 이러한 관점에서 상기 변수에 따른 변화 기여도를 가능한 한 정량적으로 분석하여 회복전압, TRV 및 전류와의 상관관계를 규명해 보고자 한다.

• Proceedings of the KIEE Conference
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• 2003.10b
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• pp.122-124
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• 2003

전기설비 중 차단기와 개폐기는 전기회로를 개폐하는 기기들이다. 차단기가 단락사고에 대한 주회로 보호가 목적이라면 개폐기는 건전회로의 개폐가 주요한 기능이다. 저압용 전자개폐기는 빈번한 개폐사용조건으로 인해 시험규격에서는 수천회에서 수만회까지 개폐시험을 통해 성능을 검 중하도록 되어 있고 배선용 차단기는 차단 시험과 개폐시험을 통해 성능을 검증하도록 규정되어 있다. 이 개폐시험 회로와 단락차단 시험회로는 규정된 전압, 전류, 역률조건을 맞추기 위해 저항과 리액터를 직렬 연결하여 구성한다. 개패시험과 단락차단시험을 진행하는 동안 시료 접점 사이에는 성능에 치명적인 과도한 회복전압이 발생한다. 따라서 규격에서는 과도회복전압을 적합한 수준으로 줄이기 위해 리액터 양단에 병렬로 고저항을 설치하도록 제안하고 있다.

• Proceedings of the KIEE Conference
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• 2005.11a
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• pp.74-76
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• 2005

수평형 에미터 스위치트 사이리스터(Lateral Emitter Switched Thyristor, LEST)의 고전압 전류 포화 특성을 위한 새로운 보호회로가 제안하였으며 성공적으로 제작 및 측정하였다. LEST의 부유(浮遊, floating) n+ 전압이 보호 MOSFET의 문턱 전압 보다 커지면 보호 회로는 LEST의 동작 모드를 regenerative 상태에서 non-regerative 상태로 전환시킨다. 일반적인 LEST의 전압 전류 포화 특성이 17 V로 제한되는 것에 비해 제안된 회로와 결합된 LEST는 200V 이상의 고전압 전류 포화 특성을 보였으며, Hard Switching Fault(HSF) 단락 회로 상황에서도 $10{\mu}s$ 이상 견디는 단락 회로 유지 능력을 보였다.

• Proceedings of the KIEE Conference
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• 2011.07a
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• pp.1109-1110
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• 2011

본 논문에서는 선간단락 시 단락전류에 의한 전력용 변압기의 단락특성을 해석하였다. 변압기 사양은 1[MVA], 6,600/660[V] 단상 내철형 배전용 변압기를 사용하였으며, 변압기에 유입되는 단락전류를 회로방정식을 이용해 계산하였다. 단락전류에 의해 발생되는 누설자속 밀도는 유한요소법을 이용해 계산하였고, 계산된 단락전류와 누설자속 밀도에 의해 권선에서 발생하는 축 방향과 반경방향 단락전자력을 계산하였다.

• Journal of the Korean Institute of Telematics and Electronics D
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• v.35D no.9
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• pp.26-34
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• 1998

This paper presents a characterization method for faults of circuit patterns on MCM(Multichip Module) or PCB(Printed Circuit Board) substrates with electron beams of a SEM(Scanning Electron Microscope) by inducing voltage contrast on the signal line. The experimentation employes dual potential electron beams for the fault characterization of circuit patterns with a commercial SEM without modifying its structure. The testing procedure utilizes only one electron gun for the generation of dual potential electron beams by two different accelerating voltages, one for charging electron beam which introduces the yield of secondary electron $\delta$ < 1 and the other for reading beam which introduces $\delta$ > 1. Reading beam can read open's/short's of a specific net among many test nets, simultaneously discharging during the reading process for the next step, by removing its voltage contrast. The experimental results of testing the copper signal lines on glass-epoxy substrates showed that the state of open's/short's had generated the brightness contrast due to the voltage contrast on the surface of copper conductor line, when the net had charged with charging electron beams of 7KV accelerating voltages and then read with scanning reading electron beams of 2KV accelerating voltages in 10 seconds. The experimental results with Au pads of a IC die and Au plated Cu pads of BGA substrates provided the simple test method of circuit lines with 7KV charging electron beam and 2KV reading beam. Thus the characterization method showed that we can test open and short circuits of the net nondestructively by using dual potential electron beams with one SEM gun.

• 방재와보험
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• s.137
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• pp.38-43
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• 2010

트랜지스터 또는 "트랜지스터 라디오" 배터리라고 부르고 어디에서나 흔히 볼 수 있는 9V PP3 건전지는 일반적으로 작은 크기로 인한 내부위험 또는 소각하여 폐기할 때에 발생하는 폭발 위험 이외의 중대한 위험을 내포하지 않는 것으로 알려져 있다. 후자의 위험은 모든 다른 배터리에도 적용된다. 그러나 약간 높은 에너지 밀도와 PP3 배터리 단자의 구조는 일부 사례에서 배터리의 낮은 내부 임피던스와 결합하여 단락 물질에 충분한 열을 발생시켜서 그것과 접촉하고 있는 가연물을 손상시키거나 점화시킬 수 있는 단락위험을 발생시킬 수 있다. 이 현상을 증명하기 위해 이 논문은 PP3 건전지의 단락시험에서 기록된 자료와 관찰사항을 기술한 것이다. 이 시험에는 2개 세트의 배터리, 완전 충전된 새 배터리와 완전 방전되지 않은 배터리(이 문서에서 "일부 사용된 배터리"라고 한다)를 사용하였다.

• Proceedings of the KIEE Conference
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• 2007.07a
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• pp.140-141
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• 2007

본 논문에서는 선박용 전기추진시스템의 전력특성을 분석하고자, 항해 시와 정박 시에 대하여 전력조류해석을 하여 전력의 흐름을 관찰하고, 서비스전원부하 측의 Bus를 3상 단락시켜 단락회로해석을 수행하여 단락전류의 흐름을 관찰한다.

• Proceedings of the KIPE Conference
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• 2010.07a
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• pp.43-44
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• 2010

본 논문에서는 저전압 구동 인버터의 게이트 구동회로 설계 시, 밀러 캡 영향이 야기할 수 있는 암 단락 현상 방지를 위한 양전원 방식의 게이트 구동회로 설계를 제안한다. 제안하는 회로는 부트스트랩 방식의 0~15[V] 의 전원을 사용하고, 커패시터와 다이오드를 통하여 마이너스 전압을 생성하며 이를 통해 양전원으로 게이트를 구동한다. 이는 단 전원 방식에 비하여 밀러 캡의 영향을 줄일수 있고 이를 통해 스위칭 시 소자의 스트레스를 감소시키며 또한 암단락을 방지한다. 제안하는 회로를 시뮬레이션과 실험을 통해 검증하였다.