In this paper we show the LCD simulator for defect inspection using image processing algorithm and neural network. The defect inspection algorithm of the LCD consists of preprocessing, feature extraction and defect classification. Preprocess removes noise from LCD image, using morphology operator and neural network is used for the defect classification. Sample images with scratch, pinhole, and spot from real LCD color filter image are used. From some experiments results, the proposed algorithms show that defect detected and classified in the ratio of 92.3% and 94.5 respectively. Accordingly, in this paper, a possibility of practical implementation of the LCD defect inspection system is finally suggested.
Proceedings of the Korean Information Science Society Conference
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2004.04b
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pp.337-339
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2004
우리는 대규모의 유전자 데이터베이스에서 원하는 패턴을 빠르고 정확하게 찾고 싶어한다 하지만 지금까지 나온 대부분의 검색방법들은 인덱스의 크기를 실제 데 이 터 보다 훨씬 크게 만들어 사용해왔다. 그런 방법들은 기하급수적으로 증가하고 있는 데 이 터를 처 리 하는 데는 비효율적이다. 따라서 인덱스 크기를 실제 데이터보다 작게 만들면서도 원하는 패턴을 빨리 찾을 수 있는 효율적 인 방법 이 필요하다. 이렇게 하기 위해서는 일정한 크기의 데이터를 작은 크기의 데이터로 줄인 후, 이 데이터를 이용하여 인덱스를 만들어야 한다. 이 논문에서는 일정한 크기의 문자열(=윈도우)을 작은 크기의 숫자들(=서명)로 표현해서 인덱스를 구축한 후, 이를 이용해 우리가 원하는 패턴을 최소한의 디스크 접근을 통해 빠르게 찾을 수 있는 방법을 제시한다.
Proceedings of the Korea Institute of Convergence Signal Processing
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2000.08a
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pp.177-180
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2000
기존의 제한적 단어 인식과는 달리 무제한 단어 음성인식에 있어서는 방대한 용량의 단어 모델을 참조로 인식이 이루어지게 되어, 참조모델과 입력패턴과의 비교를 위한 탐색시간이 너무 길어지게 된다. 본 논문에서 제한하는 방법은 무제한 단어 음성인식 시스템을 구축하기 위해 선행되어야 하는 모음열 사전을 구축하는 것이다. 음성인식시 입력패턴과 참조모델에 속한 모든 단어와의 비교를 수행하지 않고, 입력패턴의 모음열을 인식한 후, 인식된 모음열 단어들만을 참조모델에서 인식 후보로 두어 인식을 수행하게 하여 시간적인 측면에서의 효율성을 기하는 것이다. 결과적으로 본 연구 방법은 무제한 단어 음성인식에서의 실시간 처리라는 점에 주 목적을 두었다.
Proceedings of the Korean Institute of Surface Engineering Conference
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2008.11a
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pp.57-58
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2008
외부 자기장이 spin-flip field보다 작은 조건 하에서 마이크로 사이즈로 패턴된 synthetic antiferromanet의 ferromagnetic resonance frequency를 표현할 수 있는 이론식을 유도했다. 또한 유도된 이론식을 통해 synthetic antiferromagnet의 기하학적, 자기적 성질이 ferromagnetic resonance frequency가 미치는 영향에 대해 연구했다.
In this paper we show the LCD simulator for defect inspection using image processing algorithm and neural network. The defect inspection algorithm of the LCD consists of preprocessing, feature extraction and defect classification. Preprocess removes noise from LCD image, using morphology operator and neural network is used for the defect classification. Sample images with scratch, pinhole, and spot from real LCD color filter image are used. From some experiments results, the proposed algorithms show that defect detected and classified in the ratio of 92.3% and 94.5 respectively. Accordingly, in this paper, a possibility of practical implementation of the LCD defect inspection system is finally suggested.
This study examined the attention and attention shift of general students and mathematically gifted students about pattern by the types of mathematical patterns. For this purpose, we analyzed eye movements during the problem solving process of 5th general and mathematically gifted students using eye tracker. The results were as follows: first, there was no significant difference in attentional style between the two groups. Second, there was no significant difference in attention according to the generation method between the two groups. The diversion was more frequent in the incremental strain generation method in both groups. Third, general students focused more on the comparison between non-contiguous terms in both attributes. Unlike general students, mathematically gifted students showed more diversion from geometric attributes. In order to effectively guide the various types of mathematical patterns, we must consider the distinction between attention and attention shift between the two groups.
본 논문에서는 열화된 이미지상에서의 자동 패턴 분할을 위해 농담 정규화 정합(NGC)법과 다중 템플레이트를 이용하여 검사 이미지내의 각 문자의 정합 계수치 합을 이용한 문자나 패턴을 자동으로 분할(segmentation)하는 알고리즘을 제안한다. 전통적인 NGC를 사용하는 검사 알고리즘은 기준 패턴의 기하학적인 level 값에 의해 계산되어 지기 때문에 검사 이미지의 획득이 불완전하다면 정합의 부독율(reject rate)은 높아진다. 제안한 알고리즘은 가시화가 좋지 않은 영상 회득 시 문자부와 배경부를 효과적으로 자동으로 분류하며 이미지 영역내의 정보와 정규화 된 상관관계를 이용하여 실제 영상에 적용시켜 제안된 알고리즘의 검증을 목표로 한다.
Sequential pattern mining finds all of the frequent sequences satisfying a minimum support threshold in a large database. However, when mining long frequent sequences, or when using very low support thresholds, the performance of currently reported algorithms often degrades dramatically. In this paper, we propose a novel sequential pattern algorithm using only closed frequent sequences which are small subset of very large frequent sequences. Our algorithm generates the candidate sequences by depth-first search strategy in order to effectively prune. using bitmap representation of underlying databases, we can effectively calculate supports in terms of bit operations and prune sequences in much less time. Performance study shows that our algorithm outperforms the previous algorithms.
The purpose of this study is to investigate the overall understanding of patterns by second- and third-grade elementary school students. For this purpose, 12 classes per grade were selected from 10 schools, and a 46-item test was administered to 216 second graders and 223 third graders. The results of the study showed that in most cases, there was no statistically significant difference in the understanding of patterns between second- and third-graders. The exception occurred regarding the 10 items of identifying the structure of a pattern: Second-graders did better than third-graders regarding 8 items, whereas vice versa regarding 2 items. The items that both second- and third-graders struggled with included finding multiple components of a given pattern, comparing the structures between patterns, and guessing a particular term in an open pattern. Based on these findings, this paper discusses second- and third-graders' understanding of patterns and suggestions for further instruction.
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[게시일 2004년 10월 1일]
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