현대의 시스템은 지속적으로 대형화, 복잡화되어 왔기 때문에 시스템의 오류 발생 가능성이 커졌다. 시스템의 고장은 안전 사고를 발생시키고, 인명과 재산상의 막대한 피해를 줄 수 있다. 이러한 이유로 미 국방성과 IEC 등의 국제표준기구에서는 시스템의 안전성을 확보하기 위한 안전 관련 국제표준을 제정하였고, 시스템 설계와 안전 활동이 통합적으로 수행되어야 함을 권고하였다. 이에 따라 최근의 연구들은 모델기반 시스템 설계를 진행함과 동시에 모델을 활용하여 시스템의 안전성 검증을 수행하였다. 하지만 시스템 설계를 위한 모델과 안전성 분석 및 검증을 위한 고장모델을 서로 다른 모델링 언어를 기반으로 생성하였기 때문에 시스템 설계와 안전 활동이 통합적으로 수행되지 못하였다. 또한, UML 또는 SysML 기반으로 고장모델을 활용하여 안전 요구사항을 도출한 연구들은 안전 분석 및 검증에 고장모델이 제한적으로 활용되었다. 이와 같은 문제점을 해결하기 위해서 기존의 고장모델 활용법을 확장 시킬 필요가 있다. 우선 시스템 설계와 안전성 검증 활동을 통합적으로 수행할 수 있는 개선된 SysML 기반의 고장모델을 생성해야 한다. 다음으로 이 고장모델을 활용하여 도출된 안전요구사항이 시스템 설계에 제대로 반영되었는지 검증할 수 있어야 한다. 따라서 본 논문에서는 개선된 SysML 기반 고장모델의 개념과 생성 절차를 제시하였고, 자동차 시스템에 대한 고장모델을 생성하였다. 또한, 자동차 시스템의 안전성을 검증하기 위해서 고장모델의 시뮬레이션을 수행하였다. 이를 통해서 개선된 SysML 기반 고장모델을 활용하여 시스템 설계와 안전성 검증 활동을 수행할 수 있음을 보였다.
전력 산업구조개편으로 인하여 전력회사의 민영화가 진행됨에 따라 전력회사에서는 한정된 예산으로 배전계통을 운영함으로써 유지보수를 위한 충분한 여유가 없어지게 될 것이다. 이러한 환경에서 한정된 비용으로 계통의 신뢰도를 일정 수준 이상으로 유지해야만 하는 문제에 직면하게 되며, 이는 매우 어려운 일이다. 이를 위해서는 최소의 비용으로 최대의 유지보수 효과를 낼 수 있는 방법을 개발해야 하며, 최적의 유지보수 주기를 찾는 것이 중요한 문제라 할 수 있다. 본 논문에서는 이런 문제론 해결하기 위해, 유지보수 기기 선정 및 유지보수 주기를 결정하는데 있어 검증된 기법인 Reliability Centered Maintenance (RCM) 기법을 이용하였다. 배전계통 기기의 유지보수에 있어서 Four-state Markov 모델을 이용하여 기기의 유지보수에 드는 비용과 기기의 고장에 의한 정전비용 사이의 trade-off를 고려하여 총 비용이 최소가 되는 최적의 유지보수 주기를 찾고자 한다. 이를 위하여 기존의 모델에서 평균고장률(mean failure rate)을 사용한 것과는 달리 시변 고장률(time-varying failure rate)을 적용하였으며, 또한 유지보수에 따른 고장률의 감소도 고려함으로써 최적의 유지보수 주기를 결정할 수 있었다.
소프트웨어 시스템을 언제까지 테스팅해서 사용자에게 양도할 것인가를 결정하는 소프트웨어 양도 정책은 개발자가 해결해야 하는 중요한 문제의 하나이다. 이 양도 정책 문제에 대한 일반적인 접근법은 주어진 신뢰성 요구사항을 만족하기 위해 필요한 고장 발견수나 테스팅 시간을 결정하는 것이다. 소프트웨어 신뢰성은 잔존 고장수 또는 수정된 고장수에 의존하며, 불완전 디버깅 환경에서는 발견된 고장이 모두 수정되는 것이 아니므로 불완전 디버깅 환경에서의 양도 정책을 구하는 새로운 방법이 필요하다. 본 논문에서는 불완전 디버깅 환경에서의 신뢰성 요구사항을 만족하였음을 원하는 신뢰수준으로 보증하는 양도 정책을 제안하고, 이를 구현하였다.
NAND 플래시 메모리는 저전력과 빠른 접근 속도의 특징 때문에 차세대 저장장치로 주목 받고 있다. 특히 플래시 메모리로 만들어진 SSD(solid state disk)는 인터페이스가 기존의 하드디스크와 동일하고 대용량화 되고 있기 때문에 가까운 미래에 다양한 저장시스템의 저장장치로 사용될 것으로 예상된다. 그러나 NAND 플래시메모리 기반 저장장치는 쓰기 전 소거 구조와 같은 독특한 하드웨어 특징을 가지고 있기 때문에 특정 지역에 반복적인 쓰기 요청을 발생하는 B트리를 구축하는 것은 심각한 성능저하를 야기 할 것이다. 이러한 문제를 해결하기 위해 버퍼를 이용하여 B트리 구축 성능을 개선한 방법들이 제안되었다. 그러나 이러한 기법들은 갑작스러운 전원 차단 시 버퍼에 유지하고 있던 데이터를 모두 유실하기 때문에 고장회복을 위한 추가적인 방법이 필요하다. 따라서 본 논문에서는 버퍼를 이용한 방법 중 IBSF기법을 기반으로 NAND 플래시 메모리 기반 저장장치에서 고성능의B트리 구축 방법뿐만 아니라 전원 차단시 효율적인 고장회복을 할 수 있는 기법을 제안한다. 본 논문에서 제안하는 기법은 B트리 변경시 변경 된 정보를 로그에 저장하여 관리한다. 또한 루트노드가 변경될 때 검사점(checkpoint)을 수행한다. 마지막으로 다양한 실험을 통하여 본 논문의 고장회복 성능을 보여준다.
최근 웹의 사용이 일반화되면서 인터넷의 사용자가 급속히 증가하고 있어서. 기존의 단일 웹서버 방식에서는 막대한 접속 트래픽의 수용과 유연한 시스템 확장 등의 문제점이 예상되고 있다. 이와 함께 business-critical한 작업의 경우, 웹서버의 안정성 및 가용성 문제가 가장 중요한 문제로 지적되고 있어서 이러한 문제를 해결할 수 있는 웹전용 서버를 개발이 절대적으로 필요하다. 본 연구에서는 이를 위해. 급격한 트래픽 변화의 수용 및 웹서버의 확장성이 용이한 가상머신 개념과 고신뢰성의 시스템 운영을 위한 고장포용(fault-tolerant)기법을 적용하여 클러스터링 웹전용 서버를 구축하고, 특히 클러스터 웹서버의 부하를 분배해주는 로드밸런서의 고가용성 보장을 위해 heartbeat, fake, mon등의 기법을 이용하여 백업(backup)을 구현한다. 또한 구현된 시스템의 고성능 및 고가용성을 극대화하고. 시스템의 고장시 데이터 손실의 최소화와 이의 복구를 위해 고장 검출 및 진단 기법에 대한 방안을 제시한다.
본 논문에서는 CMOS 회로의 stuck-open 고장 검출을 위한 로브스트(robust)테스트 생성방법을 제안한다. CMOS 회로에 대한 입력 벡터들간의 비트(bit)위치와 해밍중(Hamming weight)의 관계를 고려하여 초기화 패턴을 구함으로써 stuck-open 고장검출을 위한 테스트 생성 시간을 감소시킬 수 있으며, 고장검출을 어렵게하게 하는 입력변이지연(input transition skew)의 문제를 해결하고, 테스트 사이퀸스의 수를 최소화시킨다. 또한 회로에 인가할 초기화 패턴과 테스트 패턴간의 해밍거리(hamming distance)를 고려하여 테스트 사이퀸스를 배열하므로써 테스트 사이퀸스의 수를 감소시킨다.
EPDM 봉인물질을 가진 SOV의 작동실패 사례 및 원인을 분석해보면 많은 SOV 고장(SOV failures)은 결국 EPDM 봉인물질이 원인인 것으로 나타났다. SOV 고장은 SOV가 그것의 설계 범위를 초과하는 주위 온도(ambient temperature)에 노출되어 있었기 때문에 발생되었다. 그러한 SOV 고장은 증기누설, 주위 온도의 부정확한 평가 등의 원인에 의해 발생되었다. 또한 SOV 고장은 연속적인 coil의 여기시 발생하는 가열(heatup from energization)로 인해 수명이 단축되는 영향이 서비스 수명 기간에 적절하게 포함되지 않았기 때문에 발생되었다 많은 발전소 운용자는 이러한 사실을 알고 있지 못하였으며 결과적으로 서비스 수명 기간이 과도 예측되는 결과가 초래되었다 SOV의 또 다른 연성(Soft) 봉인물질로, 열저항 특성이 EPDM에 비해 약 $50^{\circ}C$ 정도 우수한 Viton 봉인물질에 대한 특성이 제시되었다. 더불어 현재 많은 국외 솔레노이드구동밸브 전문 생산업체들이 Viton 재료를 옵션으로 채택하고 있는 추세이다. 그러나 고온주변에서 지속적으로 노출되어 있는 환경에서 Viton이 EPDM의 문제점을 어느 정도 해결할 수 있는 지의 여부는 현재 결론 내리기 어려울 것으로 판단되며, 향후 이를 채택한 SOV의 운전경험을 계속 주시할 필요가 있을 것으로 판단된다.
무선 통신 시스템에서는 무선 채널의 속성상 채널 고장과 복구를 고려한 성능분석을 수행해야 한다. 본 논문에서는 고정 혼합 모델과 근사 모델 기법에 대하여 논의하고 이들에 대한 SRN 모델을 개발한다. 고정 혼합 모델은 채널 고장 및 복구와 채널 할당 및 서비스를 혼합한 모델로 상태 크기의 문제점이 발생할 수 있어 이를 해결할 수 있는 계층 모델을 개발한다. 계층 모델은 고장과 복구를 고려한 가용도를 상위 모델로 채널 할당 및 서비스를 하위레벨로 갖는 근사 모델이다. 하위모델은 핸드오프 호를 위한 가드채널과 음성 호의 선점 핸드오프 방식을 모델링한다. 성능지표인 신규 호 차단 확률과 핸드오프 호 분실 확률의 수치결과가 주어진다.
테스트 기술자들에게 아날로그 회로(또는 혼합신호 회로)의 테스트와 진단은 여전히 어려운 문제여서 이를 해결할 수 있는 효과적인 테스트 방법이 크게 요구된다. 본 논문에서는 time slot specification(TSS) 기반의 내장 전류감지기(Built-in Current Sensor)를 이용한 새로운 아날로그 회로의 테스트 기법을 제안한다. 또한 TSS에 기반 하여 고장 위치를 찾아내고 고장의 종류를 구별해 내는 방법을 제시한다. TSS 기법과 함께 제안하는 내장 전류감지기는 높은 고장 용이도와 높은 고장 검출을 그리고 아날로그 회로내 강고장과 약고장에 대한 높은 진단율을 갖는다. 제안하는 방법에서는 주출력과 전원단자등을 테스트 포인트로 사용하고 전류감지기를 자동 테스트 장치(Automatic Test Equipment)에 구성하므로써 테스트 포인트 선택과정의 복잡도를 줄일 수 있다. 내장 전류 감지기의 디지털 출력은 아날로그 IC 테스트를 위한 내장 디지털 테스트 모듈과 쉽게 연결된다.
본 논문에서는 게이트 레벌 소자와 스위치 레벨 소자가 함께 사용한 혼합형 조합 회로에서의 고착 고장(stuck-at fault) 검출을 위한 고장 시뮬레이션에 대하여 기술 한다. 실용적인 혼합형 회로의 고장 검출용으로 사용하기 위하여 게이트 레벨 및 정 적 스위치 레벨 회로는 물론 동적 스위치 레벨의 회로들도 처리할 수 있도록 한다. 또한, wired 논리 소자에서의 다중 신호 충돌 현상을 해결하기 위하여 새로운 6치 논 리값과 연산 규칙을 정의하여 신호 세기의 정보와 함께 사용한다. 고장 시뮬레이션의 기본 알고리즘으로는 게이트 레벨 조합 회로에서 주로 사용되는 병렬 패턴 단일 고장 전달(PPSFP:parallel pattern single fault propagation) 기법을 스위치 레벨 소자에 확장 적용한다. 마지막으로 스위치 레벨 소자로 구현된 ISCAS85 벤치 마크 회로와 실 제 혼합형 설계 회로에 대한 실험 결과를 통하여 본 연구에서 개발된 시스템의 효율 성을 입증한다.
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[게시일 2004년 10월 1일]
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