Robust Test Generation for Stuck-Open Faults in CMOS Circuits

CMOS 회로의 Stuck-open 고장검출을 위한 로보스트 테스트 생성

In this paper robust test generation for stuck-open faults in CMOS circuits is proposed. By obtaining initialization patterns and test patterns using the relationship of bit position and Hamming weight among input vectors for CMOS circuit test generation time for stuck-open faults can be reduced, and the problem of input transition skew which make fault detection difficult is solved, and the number of test sequences are minimized. Also the number of test sequences is reduced by arranging test sequences using Hamming distance between initialization patterns and test patterns for circuit.

본 논문에서는 CMOS 회로의 stuck-open 고장 검출을 위한 로브스트(robust)테스트 생성방법을 제안한다. CMOS 회로에 대한 입력 벡터들간의 비트(bit)위치와 해밍중(Hamming weight)의 관계를 고려하여 초기화 패턴을 구함으로써 stuck-open 고장검출을 위한 테스트 생성 시간을 감소시킬 수 있으며, 고장검출을 어렵게하게 하는 입력변이지연(input transition skew)의 문제를 해결하고, 테스트 사이퀸스의 수를 최소화시킨다. 또한 회로에 인가할 초기화 패턴과 테스트 패턴간의 해밍거리(hamming distance)를 고려하여 테스트 사이퀸스를 배열하므로써 테스트 사이퀸스의 수를 감소시킨다.