• Title/Summary/Keyword: 고장경로

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A Study on the Efficient Fault Path Estimation Algorithm for Distribution System Switch IED (배전계통 개폐기 IED를 위한 효율적 고장경로 추정 알고리즘 연구)

  • Ko, Yun-Seok
    • Proceedings of the KIEE Conference
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    • 2008.07a
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    • pp.245-246
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    • 2008
  • 변전소 모선에서 측정되는 전압, 전류를 기반으로 하는 CB기반 고장거리 추정기법은 배전선의 다중 분기선 때문에 다중개의 고장위치를 추론하는 것은 물론 분기 부하모델의 불확실성으로 인해 거리 계산에 오차를 포함하게 된다. 따라서 본 연구에서는 유비쿼터스 기반의 배전계통 하에서 구간 측정 전압, 전류 및 IED간 정보교환을 통해 얻어지는 전압, 전류 정보를 이용하여 고장경로를 추정하는 IED 기반 고장경로 추정기법을 제안한다.

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A Method of BDD Restructuring for Efficient MCS Extraction in BDD Converted from Fault Tree and A New Approximate Probability Formula (고장수목으로부터 변환된 BDD에서 효율적인 MCS 추출을 위한 BDD 재구성 방법과 새로운 근사확률 공식)

  • Cho, Byeong Ho;Hyun, Wonki;Yi, Woojune;Kim, Sang Ahm
    • Journal of the Korea Institute of Information and Communication Engineering
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    • v.23 no.6
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    • pp.711-718
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    • 2019
  • BDD is a well-known alternative to the conventional Boolean logic method in fault tree analysis. As the size of fault tree increases, the calculation time and computer resources for BDD dramatically increase. A new failure path search and path restructure method is proposed for efficient calculation of CS and MCS from BDD. Failure path grouping and bottom-up path search is proved to be efficient in failure path search in BDD and path restructure is also proved to be used in order to reduce the number of CS comparisons for MCS extraction. With these newly proposed methods, the top event probability can be calculated using the probability by ASDMP(Approximate Sum of Disjoint MCS Products), which is shown to be equivalent to the result by the conventional MCUB(Minimal Cut Upper Bound) probability.

Longest Paths and Cycles in Faulty Star Graphs (고장난 스타 그래프에서 최장 경로와 사이클)

  • 박정흠;김희철
    • Proceedings of the Korean Information Science Society Conference
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    • 2001.04a
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    • pp.742-744
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    • 2001
  • 이 논문은 n-차원 스타 그래프 S$_{n}$, n$\geq$4에서 정점과 에지 고장의 수가 n-3 이하일 때, 임의의 두 고장이 아닌 정점 사이에 길이가 두 정점의 색이 같으면 n!-2f$_{v}$ -2 이상이고, 색이 다르면 n!-2f$_{v}$ -1 이상인 경로가 존재함을 보인다. 여기서 f$_{v}$ 는 고장인 정점의 수이다. 이 결과를 이용하면 고장의 수가 n-3이하일 때, 임의의 고장이 아닌 에지를 지나는 길이 n!-2f$_{v}$ 이상인 사이클을 설계할 수 있다.

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An Autonomous Master Node Election Algorithm in a Subnet (서브넷에서 마스터 노드의 자율적인 선출 알고리즘)

  • KiYong Kim;YeonSeung Ryu;DongHo Lee
    • Proceedings of the Korea Information Processing Society Conference
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    • 2008.11a
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    • pp.1355-1358
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    • 2008
  • 긴급 업무를 위한 네트워크 시스템에서는 네트워크 구성요소의 고장을 즉시 극복할 수 있는 메커니즘이 제공되어야 한다. 고장 극복을 위해서 네트워크 경로를 이중화하고 경로를 주기적으로 감시하여 고장 발생 시에 대체 경로를 사용하는 방법이 연구되어 왔다. 이를 위해서 서브넷 상의 경로를 감시하는 마스터 노드가 필요한데 마스터 노드의 고장 시 이를 극복할 방법이 필요하다. 본 논문에서는 마스터 노드가 있는 단일 서브넷에서 마스터의 고장 시에 모든 노드가 참여하여 자율적으로 새로운 마스터를 선출하는 알고리즘을 연구하였다.

Node Disjoint Parallel Paths of Even Network (이븐 연결망의 노드 중복 없는 병렬 경로)

  • Kim, Jong-Seok;Lee, Hyeong-Ok
    • Journal of KIISE:Computer Systems and Theory
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    • v.35 no.9_10
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    • pp.421-428
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    • 2008
  • A. Ghafoor proposed Even networks as a class of fault-tolerant multiprocessor networks in [1] and analyzed so many useful properties include node disjoint paths. By introducing node disjoint paths in [1], fault diameter of Even networks is d+2(d=odd) and d+3(d=even). But the lengths of node disjoint paths proved in [1] are not the shortest. In this paper, we show that Even network Ed is node symmetric. We also propose the shortest lengths of node disjoint paths using cyclic permutation, and fault diameter of Even networks is d+1.

Fault coverge metric for delay fault testing (지연 고장 테스팅에 대한 고장 검출율 메트릭)

  • Kim, Myeong Gyun;Gang, Seong Ho;Han, Chang Ho;Min, Hyeong Bok
    • Journal of the Institute of Electronics Engineers of Korea SD
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    • v.38 no.4
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    • pp.24-24
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    • 2001
  • 빠른 반도체 기술의 발전으로 인하여 VLSI 회로의 복잡도는 크게 증가하고 있다. 그래서 복잡한 회로를 테스팅하는 것은 아주 어려운 문제로 대두되고 있다. 또한 집적회로의 증가된 집적도로 인하여 여러 가지 형태의 고장이 발생하게 됨으로써 테스팅은 더욱 중요한 문제로 대두되고 있다. 이제까지 일반적으로 지연 고장 테스팅에 대한 신뢰도는 가정된 고장의 개수에 대한 검출된 고장의 개수로 표현되는 전통적인 고장 검출율로서 평가되었다. 그러나 기존의 교장 검출율은 고장 존재의 유무만을 고려한 것으로써 실제의 지연 고장 테스팅에 대한 신뢰도와는 거리가 있다. 지연 고장 테스팅은 고착 고장과는 달리 경로의 진행 지연과 지연 결함 크기 그리고 시스템 동작 클럭 주기에 의존하기 때문이다. 본 논문은 테스트 중인 경로의 진행 지연과 지연 결함 크기를 고려한 새로운 고장 검출율 메트릭으로서지연 결함 고장 검출율(delay defect fault coverage)을 제안하였으며, 지연 결함 고장 검출율과 결함 수준(defect level)과의 관계를 분석하였다

Many-to-Many Disjoint Path Covers in Two-Dimensional Bipartite Tori with a Single Fault (하나의 고장을 가진 2-차원 이분 토러스에서 다대다 서로소인 경로 커버)

  • Kim, Ho-Dong;Park, Jung-Heum
    • Proceedings of the Korean Information Science Society Conference
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    • 2011.06b
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    • pp.492-495
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    • 2011
  • 그래프 G의 쌍형 다대다 k-서로소민 경로 커버 (k-DPC)는 k개의 서로 다른 소스 정점과 싱크 정점 쌍을 연결하며 그래프에 있는 모든 정점을 지나는 k개의 서로소인 경로 집합을 말한다. 2-차원 $m{\times}n$ 토러스는 길이가 각각 m과 n인 두 사이클 $C_m$$C_n$의 곱으로 정의되는 그래프이다. 이 논문에서는 고장 정접이나 에지가 하나인 $m{\times}n$ 이분 토러스(짝수 m,n ${\geq}$4)에는, 정점 고장이 있고 소스나 싱크 중에 고장 정점과 같은 색을 가진 정점이 오직 하나 존재하거나 혹은 정점 고장이 없고 에지 고장이 하나 존재하면서 둘은 흰색 정점이고 둘은 검정색 정점이면 항상 두 소스-싱크 쌍을 잇는 쌍형 다대다 2-DPC가 존재 힘을 보인다.

A Routing Protocol with Fast-Recovery of Failures Using Backup Paths on MANETs (MANET에서 백업경로를 이용한 빠른 경로복구 능력을 가진 라우팅 프로토콜)

  • Thai, Ahn Tran;Kim, Myung-Kyun
    • Journal of the Korea Institute of Information and Communication Engineering
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    • v.16 no.7
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    • pp.1541-1548
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    • 2012
  • This paper proposes a new multipath-based routing protocol on MANETs with Fast-Recovery of failures. The proposed protocol establishes the primary and secondary paths between a source and a destination considering the end-to-end packet reception reliability of routes. The primary path is used to transmit messages, and the secondary path is used to recover the path when detecting failures on the primary path. If a node detects a link failure during message transmission, it can recover the path locally by switching from the primary to the secondary path. By allowing the intermediate nodes to recover locally the route failure, the proposed protocol can reduce the number of packet loss and the amount of control packets for setting up new paths. The simulation result using QualNet simulator shows that the proposed protocol was about 10-20% higher than other protocols in terms of end-to-end message delivery ratio and the fault recovery time in case of link fault was about 3 times faster than the other protocols.

Path Delay Testing for Micropipeline Circuits (마이크로파이프라인 회로를 위한 지연 고장 테스트)

  • Kang, Yong-Seok;Huh, Kyung-Hoi;Kang, Sung-Ho
    • Journal of the Institute of Electronics Engineers of Korea SD
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    • v.38 no.8
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    • pp.72-84
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    • 2001
  • The timings of all computational elements in the micropipeline circuits are important. The previous researches on path delay testing using scan methods make little account of the characteristic of the path delay tests that the second test pattern must be more controllable. In this paper, a new scan latch is proposed which is suitable to path delay testing of the micropipelines and has small area overhead. Results show that path delay faults in the micropipeline circuits using the new scan are testable robustly and the fault coverage is higher than the previous researches. In addition, the new scan latch for path delay faults testing in the micropipeline circuits can be easily expanded to the applications such as BIST for stuck-at faults.

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