Wafer Map Defect Pattern Classification with Progressive Pseudo-Labeling Balancing (점진적 데이터 평준화를 이용한 반도체 웨이퍼 영상 내 결함 패턴 분류)
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- Proceedings of the Korean Society of Broadcast Engineers Conference
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- 한국방송∙미디어공학회 2020년도 추계학술대회
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- pp.248-251
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- 2020