• 제목/요약/키워드: 검사장치

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Probe pin의 외관 vision 검사장치 개발 (Development of Vision Inspection System of Probe Pin)

  • 봉원우;김동현;이지연;고국원
    • 한국정보처리학회:학술대회논문집
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    • 한국정보처리학회 2015년도 추계학술발표대회
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    • pp.1071-1072
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    • 2015
  • MFC를 사용하여 기본 GUI를 제작하고 X축과 Y축, Z축에 모터를 장착하여 X축과 Y축으로 이동해 원하는 곳에 CCD카메라를 이동시켜 자동으로 영상을 확보 할 수 있도록 제작하며 Z축의 모터를 사용하여 CCD카메라와 광학 조명을 조절해 깨끗한 영상을 획득하여 Probe Pin의 Top과 Side를 검사한다.

Test System용 가상기계 설계 (Design of a Virtual Machine for the Test System)

  • 고훈준;안용균;조선문;유원희
    • 한국정보처리학회:학술대회논문집
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    • 한국정보처리학회 2001년도 춘계학술발표논문집 (상)
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    • pp.255-258
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    • 2001
  • 테스트 시스템(Test System)은 반도체 제품을 웨이퍼(Wafer) 또는 완성된 제품 상태 하에서 전기적 특성과 성능을 검사하고 그 결과를 산출해내는 검사장치이다. 테스트 시스템은 크게 하드웨어와 소프트웨어로 이루어져 있으며 시스템을 제어하고 사용자 인터페이스 및 각종 자료를 처리하는 소프트웨어는 그 중요성이 한층 더 부각되고 있다. 그러나 국내 고성능의 테스트 시스템을 개발하는 기업들의 하드웨어 개발은 잘 이루어지고 있으나 소프트웨어의 개발은 어려운 실정이다. 본 논문에서는 테스트 시스템에서 사용하고 있는 테스트 프로그램의 문제점을 지적하고, 문제점을 해결할 수 있는 가상기계를 설계한다. 그리고 가상기계를 테스트 관리 프로그램 내에 내장하여 테스트관리 시스템의 소프트웨어를 향상시키고자 한다.

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전기설비의 검사, 점검 및 시험⑦

  • 권순구;김기욱;이규복
    • 전기기술인
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    • 제256권12호
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    • pp.37-44
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    • 2003
  • 고압계통의 사고나 발전설비의 자동전압조정기의고장 등에 의하여 전압이 기준치보다 상승, 강하하였을 때 그 변동치를 검출하여 이상전압에서 전기설비를 보호하기 위하여 과전압 및 부족전압계 전기가 비상전원장치의 시동신호용으로서 부족전압계전기로 사용되고 있다.

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표면방사능 측정장치 개발동향 - 신속$\cdot$정확한 모니터시스템 -

  • 한국원자력산업회의
    • 원자력산업
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    • 제5권11호통권33호
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    • pp.71-75
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    • 1985
  • 방사성동위원소를 이용한 물품표면의 오염검사에 사용되고 있는 인체표면모니터, 물품모니터, 화물모니터 등의 최근 경향은 대면적검출기를 사용하여 오염검출의 고감도화, 마이콤사용에 의한 데이타처리기능의 향상, 보수점검의 기간단축 등이 도모되어 방사선관리의 자동화가 한층 진보되어 왔다. 이들의 성능, 기능 등에 대해 알아본다.

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