• 제목/요약/키워드: $SrTa_2O_6$

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R-F magnetron sputtering 법으로 제조된 SrBi$_2$Ta$_2$O$_9$ 강유전성 박막의 미세구조 특성 및 전기적 특성 (Microstructure and Electrical Properties of SrBi$_2$Ta$_2$O$_9$ Ferroelectric Thin Films Prepared by RF Magnetron Sputtering Method)

  • 김효영;박상준;장건익
    • 마이크로전자및패키징학회지
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    • 제6권2호
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    • pp.51-61
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    • 1999
  • R.f. magnetron sputtering법에 의해 $SrBi_2Ta_2O_9$ 박막을 $Pt/SiO_2$/Si p-tyPp (100) 기판 위에 제조하였다. 제조된 박막을 $800^{\circ}C$에서 열처리한 후 증착 조건에 따라 미세구조와 전기적 특성을 측정하였다. $800^{\circ}C$에서 열처리된 박막은 (006), (111), (200) 및 이차상인 BiPt 피크가 XRD 분석 결과 나타났으며, 가스 압력의 감소와 기판 온도의 증가에 따라 결정입자는 성장하였다. 50mtorr, $100^{\circ}C$에서 증착 후 $800^{\circ}C$에서 열처리한 박막의 두께는 200nm이었다. 이 박막의 잔류분극과 항전계 값은 각각 20.07 $\mu$C/$\textrm {cm}^2$, 79kV/cm이었다.

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New Oxide Crystals as Substrates for GaN-based Blue Light Emitting Devices

  • Fukuda, T.;Shimamura, K.;Tabata, H.;Takeda, H.;Futagawa, N.;Yoshikawa, A.;Kochurikhin, Vladimir-V.
    • 한국결정성장학회:학술대회논문집
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    • 한국결정성장학회 1999년도 PROCEEDINGS OF 99 INTERNATIONAL CONFERENCE OF THE KACG AND 6TH KOREA·JAPAN EMG SYMPOSIUM (ELECTRONIC MATERIALS GROWTH SYMPOSIUM), HANYANG UNIVERSITY, SEOUL, 06월 09일 JUNE 1999
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    • pp.3-26
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    • 1999
  • We have successfully grown <111>-oriented (La,Sr)(Al,Ta)$O_3$(LSAT) mixed-perovskite single crystals and <0001>-oriented $Ca_8La_2(PO_4)_6O_2$(CLPA) single crystals with the apatite structure by the Czochralski method. The compositional and lattice parameter uniformity of the crystals are discussed in relation to the growth conditions. Since LSAT and CLPA single crystals have excellent lattice matching with GaN, they ar promising as new substrates for the growth of high quality GaN epitaxial layers.

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Sr$_2AlTaO_6$ 절연막을 이용한 계면처리된 경사형 모서리 조셉슨 접합의 제작 (Fabrication of the interface-treated ramp-edge Josephson junctions using Sr$_2AlTaO_6$ insulating layers)

  • 최치홍;성건용;한석길;서정대;강광용
    • 한국초전도학회:학술대회논문집
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    • 한국초전도학회 1999년도 High Temperature Superconductivity Vol.IX
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    • pp.63-66
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    • 1999
  • We fabricated ramp-edge Josephson junctions with barriers formed by interface treatments instead of epitaxially grown barrier layers. Low-dielectric Sr$_2AITaO_6$(SAT) layer was used as an ion-milling mask as well as an insulating layer for the ramp-edge junctions. An ion-milled YBa$_2Cu_3O_{7-x}$ (YBCO)-edge surface was not exposed to solvent through all fabrication procedures. The barriers were produced by structural modification at the bottom YBCO edge using plasma treatment prior to deposition of the top YBCO electrode. We investigated the effects of pre-annealing and post-annealing on the characteristics of the interface-treated Josephson junctions. The junction parameters were improved by using in-situ RF plasma cleaning treatment.

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Orientation Control of $SrBi_2Ta_2O_9$ Thin Films on Pt (111) Substrates

  • Lee, Si-Hyung;Lee, Jeon-Kook;Choelhwyi Bae;Jung, Hyung-Jin;Yoon, Ki-Hyun
    • The Korean Journal of Ceramics
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    • 제6권2호
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    • pp.116-119
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    • 2000
  • The a-axis and c-axis prefer oriented SBT thin films could be deposited on Pt(111)/Ti/$SiO_2$$650^{\circ}C$). The c-axis preferred orientation of SBT film can be obtained by Sr deficiency and high compressive stress. However, the a-axis-oriented grains can be formed under stoichiometric Sr content and nearly stress-free state.

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통가열도 TA26 해저산의 모암변질과 원소분산 (Element Dispersion and Wallrock Alteration of TA26 Seamount, Tonga Arc)

  • 유봉철;최헌수;고상모
    • 자원환경지질
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    • 제44권5호
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    • pp.359-372
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    • 2011
  • 통가열도의 남단에 위치하는 TA26 해저산은 열수활동이 가장 활발한 것으로 알려진 해저산으로 열수플룸이 광범위하게 존재하며 열수광석 및 열수변질암이 채취된 지역이다. 이 지역에서 채취한 암석들은 현무암내지 현무암질 안산암이다. 열수용액에 의한 변질암석시료에서는 사장석, 휘석류, 황철석, 티탄철석, 비결정질 살리카, 중정석, 녹점토, iron sulfates, Fe-Si sulfates 및 Fe silicates 등이 산출된다. 모암변질시 열수작용에 의한 변질 암석의 주원소, 미량원소 및 희토류원소 이득 및 손실을 계산하면, $K_2O$(+0.04~+0.45 g), $SiO_2$(-6.52~+10.56 g), $H_2O$(-0.03~+6.04 g), $SO_4$(-0.46~+17.54 g), S(-0.46~+13.45 g) 및 총 S(-0.51~+16.93 g)들이 모암변질시 이득되었다. 또한 미량원소들 중 특히 Ba(-7.60~+185078.62 g), Sr(-36.18~+3033.08 g), Ag(+54.83 g), Au(+1467.49 g), As(-5.80~+1030.80 g), Cd(+249.78 g), Cu(-100.57~+1357.85 g), Pb(+4.91~+532.65 g), Sb(-0.32~+66.59 g), V(-113.58~+102.94 g), 및 Zn(-49.56~+14989.92 g)들이 모암변질시 이득되었다. 따라서 이득된 주원소 및 미량원소의 종류 및 함량($K_2O$, $H_2O$, $SO_4$, S, 총 S, Ba, Sr, Ag, Au, As, Cd, Cu, Pb, Sb, V, Zn) 등을 지시원소로서 활용하면 통가열도 심해저 열수광상 탐사시 유용하게 이용될 수 있다.

Aging Properties of SBT Thin Films Prepared by RF Magnetron Sputtering Method

  • Cho, C.N.;Kim, J.S.;Oh, Y.C.;Shin, C.G.;Choi, W.S.;Kim, C.H.
    • 한국전기전자재료학회:학술대회논문집
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    • 한국전기전자재료학회 2007년도 하계학술대회 논문집 Vol.8
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    • pp.474-475
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    • 2007
  • The $Sr_{0.8}Bi_{2.2}Ta_2O_9$(SBT) thin films are deposited on Pt-coated electrode(Pt/$TiO_2/SiO_2$/Si) using RF magnetron sputtering method. The aging properties of SBT capacitor with top electrodes represents a favorable properties in Pt electrode. The dielectric constant and leakage current density with Pt electrode is 340 and $6.81{\times}10^{-10}\;A/cm^2$ respectively. The maximum remanent polarization and the coercive electric field with Pt electrode are $12.40{\mu}C/cm^2$ and 30kV/cm respectively.

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Reactive Sputtering으로 제조된 /SrBi_2Ta_2O_9$박막의 전기적 특성에 미치는 조성의 영향 (Effect of Composition on Electrical Properties of SBT Thin Films Deposited by Reactive Sputtering)

  • 박상식;양철훈;채수진;윤손길;김호기
    • 한국재료학회지
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    • 제6권9호
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    • pp.931-936
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    • 1996
  • 비휘발성 메모리 소자에의 적용을 위한 SrBi2Ta2O9(SBT)박막이 고순도의 Sr, Bi, Ti 금속타겟을 사용하여 Pt/Ti/SiO2/Si 기판 위에 reactive sputtering 법에 의해 증착되었다. 조성의 영향을 평가하기 위하여 Bi 타겟에 인가되는 전원의 변화와 열처리에 따른 C-F(capacitance-frequency), P-E(polarization-electric field), I-V(current-voltage)등의 전기적 특성이 조사되었다. Bi의 양이 증가함에 따라 Bi layer 구조를 나타내는 (105)회절 피크가 증가하였고 $700^{\circ}C$, 산소분위기에서 1시간 동안 열처리후 Sr과 Bi가 심하게 휘발되었으며 박막의 미세구조는 다공질이 되었다. 이러한 이유로 열처리된 박막의 누설 전류 밀도는 증가하였다. 열처리된 시편의 조성은 거의 화학양론비를 이루었으며 4.5$\mu$C/$\textrm{cm}^2$의 Pr값을 갖는 강유전(ferroelectric)특성을 나타내었다.

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SrBi$_2$Ta$_2$O$_9$ 박막에 있어서 Ar/C1$_2$가스의 비율 및 RF/DC Power Density의 변화에 따른 수직 식각의 특성연구 (Vortical Etching Characteristics of SrBi$_2$Ta$_2$O$_9$ thin Films Depending on Ar/Cl$_2$ Ratios and RF/DC Power Densities)

  • 황광명;이창우;김성일;김용태;권영석;심선일
    • 마이크로전자및패키징학회지
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    • 제8권3호
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    • pp.49-53
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    • 2001
  • 유도결합형 플라즈마 (ICP-RIE) 장치를 이용하여 SBT ($SrBi_2Ta_2O_9$)/Si의 수직식각 실험을 하였다. 이와 같은 실험의 목적은 수직 단면구조의 강유전체 gate구조 및 capacitor 제조에 있어서 유효면적을 확보하고 parasitic effect를 최소화 하는 기술이 우수한 소자 특성을 얻기 위해 매우 중요한 기술이기 때문이다. $Ar/C1_2$를 반응가스로 사용하였으며 $Ar/C1_2$유량비를 각각 1, 0.8, 0.6, 0.4로 바꾸어 가면서 각 유량비에 대해 RF power를 700, 600, 500W로 변화시키는 동안 DC power를 각각 200, 150, 100, 50 W로 변화시키면서 식각 실험을 하였다. 식각조건 변화에 따른 수직 및 수평 식각율, 선택식각율, 감광막의 보호성, 리소그라피 조건에 따른 식각율 및 식각단면 구조의 특성, 식각율 변화에 따른 패턴 크기의 변화, SBT의 식각 단면 특성 등을 조사하였다. $Ar/C1_2$유량비가 0.8, RF power 700 W, DC power 200 W 일 때 식각속도는 1050 A/min으로 최적의 식각율을 확인하였다. 그리고 주사전자현미경의 관찰 결과 수 적도는 $82^{\circ}C$ 정도로 매우 양호함을 알 수 있었다.

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Effects of annealing temperatures on the electrical properties of Metal-Ferroelectric-Insulator-Semiconductor(MFIS)structures with various insulators

  • Jeong, Shin-Woo;Kim, Kwi-Jung;Han, Dae-Hee;Jeon, Ho-Seoung;Im, Jong-Hyun;Park, Byung-Eun
    • 한국전기전자재료학회:학술대회논문집
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    • 한국전기전자재료학회 2009년도 하계학술대회 논문집
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    • pp.112-112
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    • 2009
  • Temperature dependence of the ferroelectric properties of poly(vinylidefluoride-trifluoroethylene) copolymer thin films are studied with various insulators such as $SrTa_2O_6$ and $La_2O_3$. Thin films of poly(vinylidene fluoridetrifluoroethylene) 75/25 copolymer were prepared by chemical solution deposition on p-Si substrate. Capacitance-voltage (C-V) and current density (J-V) behavior of the Au/P(VDF-TrFE)/Insulator/p-Si structures were studied at ($150-200\;^{\circ}C$) and dielectric constant of the each insulators were measured to be about 15 at $850\;^{\circ}C$ for 10 minutes. Memory window width at 5 V bias the MFIS(metal-ferroelectric-insulator-semiconductor) structure with as deposited films was about 0.5 V at high temperature ($200\;^{\circ}C$). And the memory window width increased as voltage increased from 1 V to 5 V.

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