Kim, In-Seon;Lee, Sang-Kil;Kim, Jin-Mok;Kwon, Hyuk-Chan;Lee, Yong-Ho;Park, Yon-Ki;Park, Jong-Chul
Journal of Sensor Science and Technology
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v.6
no.4
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pp.258-264
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1997
$YBa_{2}Cu_{3}O_{7}$ single layer dc SQUID magnetometers, prepared on $1\;cm^{2}\;SrTiO_{3}$ substrates, have been fabricated and characterized. Based on the analytical description, a SQUID magnetometer design having a 8.5 mm pickup coil with 2.6 mm linewidth, and a SQUID inductance Ls = 50 pH with $3\;{\mu}m$ Josephson junctions is presented. The devices showed a maximum modulation voltage depth of $65\;{\mu}V$ and a magnetic field noise of 0.6 pT /$\sqrt{Hz}$ at 1 Hz. Clear traces of human magnetocardiogram could be obtained with the SQUID magnetometer operating at 77 K.
Kim, Jin-Tae;Kang, W.N.;Chung, S.H.;Ha, D.H.;Yoo, K.H.;Kim, M.S.;Lee, Sung-Ik;Park, Y.K.;Park, J.C.
Progress in Superconductivity
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v.1
no.1
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pp.1-8
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1999
The magnetization and/or resistivity of high $T_c$ superconductors ($YBa_2Cu_3O_{7-\delta}$(YBCO) single crystal, $Bi_2Sr_2CaCu_2O_8$ (Bi-2212) single crystal, $Tl_2Ba_2CaCu_2O_8$ (Tl-2212) film, $HgBa_2Ca_2Cu_3O_8$ (Hg-1223) film) have been measured as a function of magnetic field H and temperature T. The extracted fluctuation part of the magnetization and conductivity exhibits a critical behavior consistent with the three-dimensional XY model. The dynamic critical exponent z does not sensitively vary with a type of the superconductors. The value of z ranges from 1.5 to $1.8{\pm}0.1$. However, the static critical exponent ${\nu}$ is the most largely increased in Tl-2212 that has a weaker interlayer coupling strength than YBCO; the value of ${\nu}$ is 0.669, 0.909, 1.19, and 1.338 for YBCO, Bi-2212, Hg-1223, and Tl-2212 respectively. The results indicate that the weak interlayer coupling along the c-axis of high $T_c$ superconductors near $T_c$ does not influence the dynamic critical exponent z (the same value of superfluid $^4He$), but significantly increases the static critical exponent ${\nu}$.
Jo, Chun-Nam;Kim, Jin-Sa;Sin, Cheol-Gi;O, Jae-Han;Choe, Un-Sik;Kim, Chung-Hyeok;Lee, Jun-Ung
The Transactions of the Korean Institute of Electrical Engineers C
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v.49
no.2
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pp.107-112
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2000
$(Sr_{0.85}Ca_{0.15})TiO_3$(SCT) thin films were deposited on Pt-coated $TiO_2/SiO_2/Si$ wafer by the rf sputtering method. Experiments were conducted to investigate the electrical properties of SCT thin films with various top electrodes. Various top electrodes as Pt, Al, Ag, Cu were deposited on SCT thin films by sputter and thermal evaporator. The characteristics of C-F and C-V of SCT thin films were not obviously varied with various top electrodes, SCT thin films annealed at $600^{\circ}C$ represents as favorable capacitance characteristics than SCT thin films not annealed, and Pt top electrode have the most high capacitance. The characteristic of I-V of SCT thin films showed that Pt top electrode revealed more less leakage current density than other electrodes, had a leakage current density below 10-8$[A/cm^2]$ until 25[V] applied voltage.
We have developed a planar-type single layer second-order $high-T_{c}$ SQUID gradiometer, which can detect the $d^2$$B_{z/}$dxdy of the second-order field gradient. This SQUID gradiometer consists of four-way 'clover-leaf' pick-up loops and is coupled directly to a 4-junction dc SQUID in such a way that the coupling polarity of the two diagonal loops is opposite to that of the other two loops. The pickup loops are intrinsically balanced for both uniform field and the 1 st-order field gradient. The $YBa_2$$Cu_3$$O_{7}$ thin film was made by pulsed laser deposition method on $SrTiO_3$ single crystal substrate and patterned by photolithography with Ar ion milling technique. Response of this gradiometer was tested for both uniform field and the 2nd-order field gradient. Details of the design, fabrication, and results will be discussed.
We have studied the annealing effects of 570 (SrTiO$_3$) single crystal substrate and the I-V properties of step-edge junctions after Ar ion milling. YBa$_2Cu_3O_7$ (YBCO) thin films are fabricated on the substrates by using pulsed laser deposition (PLD) and photolithography. The surface of Ar ion milled substrate was characterized with atomic force microscope (AFM) and scanning electron microscope (SEM) images. After the substrate was damaged by milling, the critical current density of YBCO thin films deposited on the substrate was lowered. The annealing of the damaged substrate at about 1000 $^{\circ}C$ recovered the critical current density to that before the milling. Futhermore the annealing helped junction formation due to high quality film and increased the yield rate for the fabrication of high quality step-edge junction.
Proceedings of the Korean Institute of Electrical and Electronic Material Engineers Conference
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2001.11b
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pp.34-37
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2001
In this study, the capacitance-voltage properties of $(Sr_{1-x}\cdot Ca_x)TiO_3(0.05{\leq}x{\leq}0.20)$-based grain boundary layer ceramics were investigated. The ceramics were fabricated by the conventional mixed oxide method. The sintering temperature and time were $1480\sim1500^{\circ}C$ and 4 hours. respectively. The 2nd phase formed by the thermal diffusion of CuO from the surface leads to very excellent dielectric properties, that is, ${\varepsilon}_r$ >50000, tan$\delta$ <0.05, ${\Delta}C$ < ${\pm}10%.$ The capacitance is almost unchanged below about 20[V] but it decreases slowly about 20[V]. The results of the capacitance-voltage properties indicated that the grain boundary was composed of the continuous insulating layers.
[ $YBa_2C_3O_{7-x}$ ]films were fabricated on a $SrTiO_3$ (100) substrate using a trimethylaceate propionic acid (TMAP)-based MOD process by controlling the precursor solution viscosity, firing temperature, and by using various coatings. The viscosity of the precursor solution was controlled by the addition of Xylenes. The films were heat treated with different temperatures from 750 to $800^{\circ}C$. c-axis oriented films were obtained. After adding 9 ml of Xylene into the precursor solution, the $T_c$ of the YBCO film, which was coated 2 times and heat treated at $800^{\circ}C$, was 86 K and the measured $J_c$ was above 2.5 MA/$cm^2$ at 77 K in a zero-field.
We have fabricated high-$\textrm{T}_c$ superconducting $\textrm{YBa}_{2}\textrm{Cu}_{3}\textrm{O}_{7-x}$(YBCO) grain boundary junctions at a step-edge on (001) $\textrm{SrTiO}_3$(STO) substrates. A diamond-like carbon (DLC) film grown by plasma enhanced chemical vapor deposition were used as an ion milling mask to make steps on the STO (100) single crystal and was removed by an oxygen reactive ion etch process. The c-axis oriented YBCO and TO thin films were deposited epitaxially on the STO substrate with a step-edge by pulsed laser deposition. The grain boundary junctions were formed at the top and the bottom of the step. The junctions worked at temperatures above 77 K, and had I\ulcornerR\ulcorner products of 7.5mV at 16K and 0.3 mV at 77K, respectively. The I-V characteristics of these junctions showed the shape of the two noisy resistively shunted junction model.
Perovskite oxide materials are very important for the electronics industry, because they exhibit promising properties. With an interest in the obvious applications, significant effort has been invested in the growth of highly crystalline epitaxial perovskite oxide thin films in our laboratory. And the desired structure of films was formed to achieve excellent properties. $Y_1Ba_2Cu_3O_{7-x}$ (YBCO) superconducting thin films were simultaneously deposited on both sides of 3 inch wafer by inverted cylindrical sputtering. Values of microwave surface resistance R$_2$ (75 K, 145 GHz, 0 T) smaller than 100 m$\Omega$ were reached over the whole area of YBCO thin films by pre-seeded a self-template layer. For implementation of voltage tunable high-quality varactor, A tri-layer structured SrTiO$_3$ (STO) thin films with different tetragonal distortion degree was prepared in order to simultaneously achieve a large relative capacitance change and a small dielectric loss. Highly a-axis textured $Ba_{0.65}Sr_{0.35}TiO_3$ (BST65/35) thin films was grown on Pt/Ti/SiO$_2$/Si substrate for monolithic bolometers by introducing $Ba_{0.65}Sr_{0.35}RuO_3$ (BSR65/35) thin films as buffer layer. With the buffer layer, the leakage current density of BST65/35 thin films were greatly reduced, and the pyroelectric coefficient of $7.6\times10_{-7}$ C $cm^{-2}$$K^{-1}$ was achieved at 6 V/$\mu$m bias and room temperature.
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[게시일 2004년 10월 1일]
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