• 대한화학회지
• /
• 제57권1호
• /
• pp.40-51
• /
• 2013

전기전자 부품 및 제품상에서 주로 사용되는 Plastic 중 함유된 Perfluorooctanesulfonic acid (PFOS)의 정량 분석법을 개발하기 위해 LDPE 시료를 대상으로 soxhlet 용매추출과 액체크로마토그래피/질량분석법(LC/MS)을 사용하여 시험방법 유효화를 진행하였다. 그 결과 검출한계(LOD)와 정량한계(LOQ)는 각각 $2.58{\mu}g/L$, $7.82{\mu}g/L$였으며, 회수율은 96-102%를 나타내었다. LC/MS의 검량선은 $7.82-100{\mu}g/L$ 농도범위에서 $r^2$값 0.9992의 직선성을 확인하였다. 또한 EU 환경규제 대응을 위한 전기전자 제품 중의 PFOS 분석법 표준화를 위해서 국내외 시험기관을 대상으로 비교숙련도 시험을 실시하였다. 그 결과 참여한 10개 시험기관 중 3개 시험기관이 이상값을 제출하였다. 이에 $^{19}F$ 핵자기공명분광분석법($^{19}F$ NMR)을 사용하여 이상값의 원인을 규명한 결과 그 주요 원인이 표준시약 및 시료 중에 존재하는 PFOS 이성질체들에 대한 결과처리의 오류였음을 확인하였다.

• 대한화학회지
• /
• 제29권3호
• /
• pp.213-219
• /
• 1985

고정된 사이크로 프로판환을 가진 양이온계에서 구조적 변화에 따른 상대적 안정도를 불소 19-핵자기공명분광기로 분석 검토했다. 이를 위해 8-파라-불화벤젠트리사이크로 옥탄 양이온과 9-파라불화벤젠 트리사이크로 노난 및 10-파라불화벤젠 트리사이크로데칸 양이온을 해당알코올과 불화황산과의 반응에서 얻었다. 풀루오르 19-NMR 스펙트럼에서 얻어진 결론은 사이크로프로판환이 양이온 탄소의 궤도와 ${\sigma}$ 컨쥬게이션을 위해 대칭적이며 바이섹트 구조의 유지가 하전의 안정화에 매우 중요한 요인인 반면, 사이크로 프로판기의 면과 양하전을 띈 탄소와 연결되는 결합각도(${\theta}$)의 변화는 하전의 안정화에 영향이 없음을 보여주었다.