Acknowledgement
This work was supported by the National Research Foundation of Korea (NRF) grants funded by the Ministry of Science, ICT and Future Planning (MSIT) (NRF-2022R1A4A3033320 and RS-2023-00278906), and the Commercializations Promotion Agency for R&D Outcomes (COMPA) grant funded by the Korean Government (Ministry of Science and ICT, 2023).
References
- H. E. Lee, J. Korean Inst. Electr. Electron. Mater. Eng., 34, 221 (2021). doi: https://doi.org/10.4313/JKEM.2021.34.4.221
- J. H. Lee, J. Korean Inst. Electr. Electron. Mater. Eng., 36, 563 (2023). doi: https://doi.org/10.4313/JKEM.2023.36.6.4
- Y. G. You, Y. J. Song, and D. W. Kim, J. Korean Contents Assoc., 9, 23 (2009). doi: https://doi.org/10.5392/jkca.2009.9.1.023
- H. E. Lee, J. H. Shin, J. H. Park, S. K. Hong, S. H. Park, S. H. Lee, J. H. Lee, I. S. Kang, and K. J. Lee, Adv. Funct. Mater., 29, 1808075 (2019). doi: https://doi.org/10.1002/adfm.201808075
- J. Shin, H. Kim, S. Sundaram, J. Jeong, B. I. Park, C. S. Chang, J. Choi, T. Kim, M. Saravanapavanantham, K. Lu, S. Kim, J. M. Suh, K. S. Kim, M. K. Song, Y. Liu, K. Qiao, J. H. Kim, Y. Kim, J. H. Kang, J. Kim, D. Lee, J. Lee, J. S. Kim, H. E. Lee, H. Yeon, H. S. Kum, S. H. Bae, V. Bulovic, K. J. Yu, K. Lee, K. Chung, Y. J. Hong, A. Ougazzaden, and J. Kim, Nature, 614, 81 (2023). doi: https://doi.org/10.1038/s41586-022-05612-1
- D. Chen, Y. C. Chen, G. Zeng, D. W. Zhang, and H. L. Lu, Research, 6, 0047 (2023). doi: https://doi.org/10.34133/research.0047
- C. Choi, H. Kim, J. H. Kang, M. K. Song, H. Yeon, C. S. Chang, J. M. Suh, J. Shin, K. Lu, B. I. Park, Y. Kim, H. E. Lee, D. Lee, J. Lee, I. Jang, S. Pang, K. Ryu, S. H. Bae, Y. Nie, H. S. Kum, M. C. Park, S. Lee, H. J. Kim, H. Wu, P. Lin, and J. Kim, Nat. Electron., 5, 386 (2022). doi: https://doi.org/10.1038/s41928-022-00778-y
- M. Choi, B. Jang, W. Lee, S. Lee, T. W. Kim, H. J. Lee, J. H. Kim, and J. H. Ahn, Adv. Funct. Mater., 27, 1606005 (2017). doi: https://doi.org/10.1002/adfm.201606005
- Y. W. Ha, G. H. Kim, and D. C. Lim, J. Korean Inst. Electr. Electron. Mater. Eng, 37, 36 (2024). doi: https://doi.org/10.4313/JKEM.2024.37.1.4
- J. E. Ryu, S. Park, Y. Park, S. W. Ryu, K. Hwang, and H. W. Jang, Adv. Mater., 35, 2204947 (2023). doi: https://doi.org/10.1002/adma.202204947
- P. J. Parbrook, B. Corbett, J. Han, T. Y. Seong, and H. Amano, Laser Photonics Rev., 15, 2000133 (2021). doi: https://doi.org/10.1002/lpor.202000133
- J. C. Heo, J. E. Kim, D. G. Lee, Y. S. Hwang, Y. M. Woo, H. E. Lee, and J. H. Park, J. Korean Inst. Electr. Electron. Mater. Eng., 36, 286 (2023). doi: https://doi.org/10.4313/JKEM.2023.36.3.12
- D. J. Joe, S. Kim, J. H. Park, D. Y. Park, H. E. Lee, T. H. Im, I. Choi, R. S. Ruoff, and K. J. Lee, Adv. Mate., 29, 1606586 (2017). doi: https://doi.org/10.1002/adma.201606586
- X. Zhou, P. Tian, C. W. Sher, J. Wu, H. Liu, R. Liu, and H. C. Kuo, Prog. Quantum Electron., 71, 100263 (2020). doi: https://doi.org/10.1016/j.pquantelec.2020.100263
- S. H. Park, T. J. Kim, H. E. Lee, B. S. Ma, M. Song, M. S. Kim, J. H. Shin, S. H. Lee, J. H. Lee, Y. B. Kim, K. Y. Nam, H. J. Park, T. S. Kim, and K. J. Lee, Nat. Commun., 14, 7744 (2023). doi: https://doi.org/10.1038/s41467-023-43342-8
- C. W. Cheng, K. T. Shiu, N. Li, S. J. Han, L. Shi, and D. K. Sadana, Nat. Commun., 4, 1577 (2013). doi: https://doi.org/10.1038/ncomms2583
- H. E. Lee, S. H. Lee, M. Jeong, J. H. Shin, Y. Ahn, D. Kim, S. H. Oh, S. H. Yun, and K. J. Lee, ACS Nano, 12, 9587 (2018). doi: https://doi.org/10.1021/acsnano.8b05568
- D. Lee, S. Cho, C. Park, K. R. Park, J. Lee, J. Nam, K. Ahn, C. Park, K. Jeon, H. Yuh, W. Choi, C. H. Lim, T. Kwon, Y. H. Min, M. Joo, Y. H. Choi, J. S. Lee, C. Kim, and S. Kwon, Nature, 619, 755 (2023). doi: https://doi.org/10.1038/s41586-023-06167-5
- H. E. Lee, J. H. Choi, S. H. Lee, M. Jeong, J. H. Shin, D. J. Joe, D. H. Kim, C. W. Kim, J. H. Park, J. H. Lee, D. Kim, C. S. Shin, and K. J. Lee, Adv. Mater., 30, 1800649 (2018). doi: https://doi.org/10.1002/adma.201800649
- S. H. Lee, J. Kim, J. H. Shin, H. E. Lee, I. S. Kang, K. Gwak, D. S. Kim, D. Kim, and K. J. Lee, Nano Energy, 44, 447 (2018). doi: https://doi.org/10.1016/j.nanoen.2017.12.011
- M. Koo, K. I. Park, S. H. Lee, M. Suh, D. Y. Jeon, J. W. Choi, K. Kang, and K. J. Lee, Nano Lett., 12, 4810 (2012). doi: https://doi.org/10.1021/nl302254v
- H. E. Lee, J. H. Park, T. J. Kim, D. Im, J. H. Shin, D. H. Kim, B. Mohammad, I. S. Kang, and K. J. Lee, Adv. Funct. Mater., 28, 1801690 (2018). doi: https://doi.org/10.1002/adfm.201801690
- S. C. Park, J. Fang, S. Biswas, M. Mozafari, T. Stauden, and H. O. Jacobs, Adv. Mater., 26, 5942 (2014). doi: https://doi.org/10.1002/adma.201401573
- Z. Liu, C. H. Lin, B. R. Hyun, C. W. Sher, Z. Lv, B. Luo, F. Jiang, T. Wu, C. H. Ho, H. C. Kuo, and J. H. He, Light: Sci. Appl., 9, 83 (2020). doi: https://doi.org/10.1038/s41377-020-0268-1
- C. Linghu, S. Zhang, C. Wang, and J. Song, npj Flexible Electron., 2, 26 (2018). doi: https://doi.org/10.1038/s41528-018-0037-x
- G. Shen, X. Da, X. Guo, Y. Zhu, and N. Niu, J. Lumin., 127, 441 (2007). doi: https://doi.org/10.1016/j.jlumin.2007.02.00