References
- R. L. Hoffman, B. J. Norris, and J. F. Wager, Appl. Phys. Lett. , 82, 733 (2003). [DOI: http://dx.doi.org/10.1063/1.1542677]
- P. Barquinha, L. Pereira, G. Goncalves, R. Martins, and E. Fortunato, Electrochem. Solid-State Lett. , 11, H248 (2008). [DOI: http://dx.doi.org/10.1149/1.2945869]
- K. Nomura, H. Ohta, A. Takagi, T. Kamiya, M. Hirano, and H. Hosono, Nature , 432, 488 (2004). [DOI: http://dx.doi.org/10.1038/nature03090]
- H. Yabuta, M. Sano, K. Abe, T. Aiba, T. Den, H. Kumomi, K. Nomura, T. Kamiya, and H. Hosono, Appl. Phys. Lett. , 89, 112123 (2006). [DOI: http://dx.doi.org/10.1063/1.2353811]
- J. Y. Choi, S. Kim, B. U. Hwang, N. E. Lee, and S. Y. Lee, Semicond. Sci. Technol. , 31, 125007 (2016). [DOI: https://dx.doi.org/10.1088/0268-1242/31/12/125007]
- S. Jacob, S. Abdinia, M. Benwadih, J. Bablet, I. Chartier, R. Gwoziecki, E. Cantatore, A.H.M. van Roermund, L. Maddiona, F. Tramontana, G. Maiellaro, L. Mariucci, M. Rapisarda, G. Palmisano, and R. Coppard, Solid State Electron. , 84, 167 (2013). [DOI: https://doi.org/10.1016/j.sse.2013.02.022]
- W. Honda, T. Arie, S. Akita, and K. Takei, Sci. Rep. , 5, 15099 (2015). [DOI: https://doi.org/10.1038/srep15099]
- L. Y. Liang, Z. M. Liu, H. T. Cao, Z. Yu, Y. Y. Shi, A. H. Chen, H. Z. Zhang, Y. Q. Fang, and X. L. Sun, J. Electrochem. Soc. , 157, H598 (2010). [DOI: https://doi.org/10.1149/1.3385390]
- S. Han and S. Y. Lee, Appl. Phys. Lett. , 106, 212104 (2015). [DOI: http://dx.doi.org/10.1063/1.4921791]
- J. M. Lee, I. T. Cho, J. H. Lee, and H. I. Kwon, Jpn. J. Appl. Phys. , 48, 100 (2009). [DOI: https://dx.doi.org/10.1143/JJAP.48.100202]
- L. Y. Liang, J. J. Yu, M. Wang, and H. T. Cao, ECS Transactions , 75, 261 (2016). [DOI: https://doi.org/10.1149/07510.0261ecst]
- P. B. Shea, J. Kanicki, and N. Ono, J. Appl. Phys. , 98, 014503 (2005). [DOI: http://dx.doi.org/10.1063/1.1949713]
- S. Han and S. Y. Lee, Phys. Status Solide A , 214, 2 (2016). [DOI: https://doi.org/10.1002/pssa.201600469]