한국산업정보학회논문지 (Journal of Korea Society of Industrial Information Systems)

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MCU에 내장된 플레쉬 메모리 오동작 테스트 가능한 ROM Writer 개발

Development of a ROM Writer for Shmoo Test of a Flash Memory Integrated into the MCU

  • 김태선 (경운대학교 항공전자공학과) ;
  • 박차훈 (경운대학교 항공전자공학과)
  • 투고 : 2015.08.03
  • 심사 : 2015.08.20
  • 발행 : 2015.08.30
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초록

본 논문은 MCU에 내장된 플레쉬 메모리의 오동작 테스트를 shmoo 테스트 기법을 사용하고, 이 기능을 내장한 롬라이트 개발에 관한 논문이다. shmoo 테스트는 다양한 입력조건에 대한 응답을 도표로 나타내고 분석하는 기법으로, 마이크로프로세서, ASIC 및 메모리와 같은 집적회로 또는 컴퓨터 시스템의 성능분석의 기법으로 사용된다. 개발된 롬라이터는 Shmoo 검사를 수행하고 Flash 32K의 쓰기를 수행하였을 때 6.4s 정도의 시간이 소요되었으며, 이는 현재 사용하고 있는 ROM Writer의 속도에 비해 약 20% 정도 향상되었다.

This paper presents the development of a ROM writer for shmoo test of a flash memory integrated into the MCU(Micro Controller Unit). A shmoo test is a graphical display of the response of a component or system varying over a range of conditions and inputs. Often used to represent the results of the testing of complex electronic systems such as computers or integrated circuits such as DRAMs, ASICs or microprocessors. A shmoo test and data write time(32k) of the development ROM writer is 6.4 seconds, which was improved by about 20% compared to the rate of the currently used ROM writer.

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참고문헌

  1. Tae-Hwan Kim, Jin-Wan Kim, and Hoon Chang,"MLC NAND-type Flash Memory Built-In Self Test for research",Journal of the Institute of Electronics Engineers of Korea, Vol. 3, pp.61-72, April, 2014
  2. Keun-hyung kim, Myung-Kyun Kim, Chan-Oh Jung, "Fault Test Algorithm for MLC NAND-type Flash Memory",Journal of the Institute of Electronics Engineers of Korea, Vol. 4, pp. 26-33, 2012.
  3. S. Lai, "Tunnel oxide and ETOXtm flash scaling limitation," in Tech. Dig. of Int'l NonVolatile Memory Technology Conference, pp. 6-7, 1998.
  4. A. Thean and J.-P. Leburton, "Flash memory: towards singleelectronics," IEEE Potentials, pp. 35-41, October 2002.
  5. S. J. Baik, S. Choi, U.-I. Chung, and J. T. Moon, "High speed and nonvolatile Si nanocrystal memory for scaled flash technology using highly field-sensitive tunnel barrier," IEDM Tech. Dig., pp. 545-548, 2003.
  6. In Su Cho, and Shim Il Lim, "Implement of a High Speed Comparator for High Speed Automatic Test Equipment", Journal of the Korea Industrial Information System Society Vol. 19, No. 3, 2014.
  7. Jun Seo Lee, Whan Woo Kim, and Ji Hoon Kim, "Development of FPGA-based failure detection equipment for SMART T TV embedded camera",Journal of the Korea Industrial Information System Society, Vol. 18, No. 5, pp.45-50, 2013 https://doi.org/10.9723/jksiis.2013.18.5.045
  8. Jong Sik Hyun, Youn Gyearl Han, "Error Correcting Technique with the Use of a Parity CHeck Bit", Proceeding of the Korea Society for Industrial Systems Conference, pp. 137-146, 1997.