Abstract
Bulk Current Injection(BCI) test is a method of injecting current into Integrated Circuit(IC) using a current injection probe to qualify the standards of Electromagnetic Compatibility(EMC). This paper, we propose a microstrip coupler structure that can replace the BCI current injection probe that is used to inject a RF noise in standard IEC 62132-part 3 documented by International Electrotechnical Commission. Conventional high cost BCI probe has mostly been used in testing automotive ICs that use high supply voltage. We propose a compact microstrip coupler which is suitable for immunity testing of low power ICs. We tested its validity to replace the BCI injection probe from 100 MHz to 1,000 MHz. We compared the power[dBm] that is needed to generate the same level of noise between current injection probe and microstrip coupler by sweeping the frequency. Results show that microstrip coupler can inject the same level of noise into ICs for immunity test with less power.
Bulk Current Injection(BCI) 테스트는 전류 주입 프로브를 사용하여 측정하고자 하는 Integrated Circuit(IC)에 전류를 주입하여 Electromagnetic Compatibility(EMC) 규격을 충족시키는지 시험하는 방법이다. 본 논문에서는 국제전기표준회의에서 제정한 IEC 62132-part 3에서 규정하는 BCI 테스트의 전류 주입 프로브를 대체하여, RF 잡음을 인가할 수 있는 마이크로스트립 커플러 구조를 제안하였다. 전통적으로 높은 전원 전압을 사용하는 자동차 IC 테스트에 사용되어 오던 BCI 전류 주입 프로브를 저 전압을 사용하는 저 전력 IC의 테스트에 사용할 수 있는 마이크로스트립 커플러 구조를 개발하여 그 유효성을 100 MHz에서부터 1,000 MHz까지의 주파수 영역에서 비교 및 검증하였다. 또한, 주파수에 따라 전류 주입 프로브를 통한 RF 잡음 인가와 마이크로스트립 커플러 구조를 통한 RF 잡음 인가 시 규정한 노이즈를 얻는데 필요한 전력을 dBm 단위로 측정, 비교하여 마이크로스트립 커플러 구조를 이용한 경우에 더 적은 전력으로 필요한 RF 잡음을 주입할 수 있음을 확인하였다.
