초록
본 연구는 PC 사용 환경에 주로 사용되는 2.5인치 HDD의 수명을 예측하기 위해서, 시장 불량 모드분석을 반영한 시험계획을 수립하고, 온도 스트레스 인자를 반영한 가속 수명 모델을 구하고자 하였다. PC 사용 환경을 분석 한 후, 쓰기와 읽기 동작을 각 50 %, 임의 주소와 순차 주소방식을 각 50 %로 시험 절차를 정했고, $50^{\circ}C$, $60^{\circ}C$ 환경에서 최대 성능의 95 % 성능조건으로 1000시간 시험하는 조건으로 가속 수명을 실시하였다. 시험과정에서 발생하는 불량 발생시간의 데이터로 anderson-darling 적합도 검증을 진행하여 불량 분포가 weibull 분포를 따름을 확인하였고, 형상모수와 척도모수가 동일함을 확인하였으며, 와이블-아레니우스 모형을분석하여, 형상모수 0.7177, 사용 조건($30^{\circ}C$)에 특성 수명 429434시간을 산출하였다. 가속 온도별 시험데이터로 동질성 검증을 실시한 결과 통계적으로 유의하지 않았으며(p<0.05), 활성화 에너지로 0.2775 eV를 산출하였다. 가속 시험의 정확성 확보차원에서 가속시험 불량시료와 시장 반품 시료로 고장분석을 진행한 결과, 불량 모드 별 점유율에 세부차이는 있으나, 점유율 순위는 일치 하였다. 본 연구는 PC환경에서 사용되는 2.5 inch HDD의 가속 시험 절차를 제안하며, 제조자와 사용자 간에 수명 예측에 대한 도움을 주고자 한다.
In order to estimate the life of 2,5 inch HDD which is adopted by PC environment, make the test plan which reflect the failure mode of market, make the test model of accelerated life test which reflect the stress of temperature. after an analysis of the environment of PC using, test procedure was decided that operation was write 50 % and read 50 %, and then access method was sequential 50 % and random 50%. The acceleration life test was executed on condition that temperature was $50^{\circ}C$ and $60^{\circ}C$, performance was 95 % in max performance, test time was 1000 hours. by the test of goodness of fit of anderson-darling of the failure data during test, it was confirmed that the distribution of failure fellow weibull. test for shape and scale was equal, and shape parameter was 0.7177, characteristic life was 429434 hours at normal user condition($30^{\circ}C$) by the analysis of weibull-arrhenius modeling. It made no difference about the statistics when equality test was executed. The activation energy was 0.2775eV. In analyzing between the failure samples of acceleration test and the samples of market return even though there is detail difference about the share of failure mode, the rank of share was almost same. This study suggest the test procedure of acceleration test of 2.5 inch HDD in PC using environment, and help the life estimation at manufacture and user.
