참고문헌
- Gijs, M. A. M. Microfluid Nanofluid 2004, 1, 22.
- Kazakova, O.; Gallop, J. C.; See, P.; Cox, D.; Perkins, G. K.; Moore, J. D.; Cohen, L. F. IEEE Trans. Magn. 2009, 45, 4499. https://doi.org/10.1109/TMAG.2009.2025513
- Graham, D. L.; Ferreira, H. A.; Freitas, P. P.; Cabral, J. M. S. Bio. Sens. Bioelectron. 2003, 18, 483. https://doi.org/10.1016/S0956-5663(02)00205-1
- Rife, J. C.; Miller, M. M.; Sheehan, P. E.; Tamanaha, C. R.; Tondra, M.; Whitman, L. J. Sens. Actuat. 2003, A107, 209.
- Thanh, N. T.; Kim, D. Y.; Kim, C. G. J. Magnetics 2007, 12, 40. https://doi.org/10.4283/JMAG.2007.12.1.040
- Ejsing, L.; Hansen, M. F.; Menon, A. K.; Fereira, H. A.; Graham, D. L.; Freitas, P. P. Appl. Phys. Lett. 2004, 84, 4729. https://doi.org/10.1063/1.1759380
- Hulteen, J. C.; Martin, C. R. J. Mater. Chem. 1997, 7, 1075. https://doi.org/10.1039/a700027h
- Huczko, A. Appl. Phys. A, Mater. Sci. Process 2000, 70, 365. https://doi.org/10.1007/s003390051050
- Sudha Rani, V.; Caltun, O. F.; Yoon, S. S.; Parvatheeswara Rao, B.; Kim, C. G. J. Opt. Adv. Mater. 2007, 10, 7.
- Bantu, Kazadi Mukenga.; Rivas, J.; Zaragoza, G.; Lopez-Quintela, M. A.; Blanco, M. C. J. Appl. Phys. 2001, 89, 6.
- Rani, V. S.; Anandakumar, S.; Lee, H.; Bang, W.; Hong, K.; Yoon, S. S.; Jeong, J.-R.; Kim, C.-G. Phys. Status Solidi A 2009, 206, 667. https://doi.org/10.1002/pssa.200881262
- Moffat, T. P.; Bonevich, J. E.; Huber, W. H.; Stanishevsky, A.; Kelly, D. R.; Stafford, G. R.; Josell, D. J. Electrochem. Soc. 2000, 147, 4524. https://doi.org/10.1149/1.1394096
- Josell, D.; Wheeler, D.; Huber, W. H.; Moffat, T. P. Phys. Rev. Lett. 2001, 87, 016102. https://doi.org/10.1103/PhysRevLett.87.016102
- Reid, J. Jpn. J. Appl. Phys. 2001, 40, 2650. https://doi.org/10.1143/JJAP.40.2650
- West, A. C.; Mayer, S.; Reid, J. Electrochem. Solid-State Lett. 2001, 4, C50. https://doi.org/10.1149/1.1375856
- Moffat, T. P.; Wheeler, D.; Edelstein, M. D.; Josell, D. IBM J. Res. Dev. 2005, 49, 19. https://doi.org/10.1147/rd.491.0019
- Moffat, T. P.; Wheeler, D.; Witt, C.; Josell, D. Electrochem. Solid- State Lett. 2002, 5, C110. https://doi.org/10.1149/1.1521290
- Lee, J. H.; Lee, J. J.; Bae, J. H.; Bang, W. B.; Hong, K. M.; Lee, M. H.; Pyo, S. G.; Kim, S. B.; Kim, J.-G. J. Electrochem. Soc. 2006, 153, C521. https://doi.org/10.1149/1.2203098
- Moffat, T.; Bonevich, J.; Huber, W.; Stanishevsky, A.; Kelly, D.; Stafford, G.; Josell, D. J. Electrochem. Soc. 2000, 147, 4524. https://doi.org/10.1149/1.1394096
- Blondel, A.; Meier, J. P.; Doudin, B.; Ansermet, J.-Ph. Appl. Phys. Lett. 1994, 65, 5.
- Bard, A. J.; Faulkner, L. R. Electrochemical Methods, Fundamentals and Applications; Wiley: New York, 2001.
- Operation Manual, Qualilab QL-10, ECI Technology.
- Suh, H. Y.; Keum, D. Y.; Kim, J.-G.; Song, K.; Ko, Y.-D.; Chung, J.-S.; Hong, K. M. Electrochem. Solid-State Lett. 2011, 14, H483. https://doi.org/10.1149/2.020112esl