References
- Brieler, F. J.; Grundmann, P.; Froba, M.; Chen, L. M.; Klar, P. J.;Heimbrodt, W.; von Nidda, H. A. K.; Kurz, T.; Loidl, A. Eur. J. Inorg. Chem. 2005, 3597.
- Cheng, Y.; Wang, Y. S.; Jia, C.; Bao, F. J. Phys. Chem. B 2006,110, 24399. https://doi.org/10.1021/jp063698x
- Zuo, F.; Zhang, B.; Tang, X. Z.; Xie, Y. Nanotechnology 2007,18, 215608. https://doi.org/10.1088/0957-4484/18/21/215608
- Gumus, C.; Ulutas, C.; Esen, R.; Ozkendir, O. M.; Ufuktepe, Y.Thin Solid Films 2005, 492, 1. https://doi.org/10.1016/j.tsf.2005.06.016
- Piao, Y. Z.; Lim, H.; Chang, J. Y.; Lee, W. Y.; Kim, H. Electrochimica Acta 2005, 50, 2997. https://doi.org/10.1016/j.electacta.2004.12.043
- Gasparac, R.; Kohli, P.; Mota, M. O.; Trofin, L.; Martin, C. R.Nano. Letters 2004, 4, 513. https://doi.org/10.1021/nl0352494
- Zhao, L. L.; Steinhart, M.; Gosele, U.; Schlecht, S. Adv. Mater.2008, 20, 1218. https://doi.org/10.1002/adma.200702376
- Zhang, C.; Tao, F.; Liu, G. Q.; Yao, L. Z.; Cai, W. L. Materials Letters 2008, 62, 246.
- Masuda, H.; Fukuda, K. Science 1995, 268, 1466. https://doi.org/10.1126/science.268.5216.1466
- Yan, L.; Yu, R. B.; Chen, J.; Xing, X. R. Crystal Growth & Design2008, 8, 1474. https://doi.org/10.1021/cg800117v
- Sounart, T. L.; Liu, J.; Voigt, J. A.; Huo, M.; Spoerke, E. D.; Mc-Kenzie, B. J. Am. Chem. Soc. 2007, 129, 15786. https://doi.org/10.1021/ja071209g
- Cheng, Y.; Wang, Y. S.; Chen, D. Q.; Bao, F. J. Phys. Chem. B2005, 109, 794. https://doi.org/10.1021/jp0460240
- Yang, H. G.; Zeng, H. C. J. Phys. Chem. B 2004, 108, 3492. https://doi.org/10.1021/jp0377782
- Li, Y. R.; Liang, Z.; Zhang, Y.; Zhu, J.; Jiang, S. W.; Wei, X. H.Thin Solid Films 2005, 489, 245. https://doi.org/10.1016/j.tsf.2005.04.095
- Gibert, M.; Puig, T.; Obradors, X. Surface Science 2007, 601,2680. https://doi.org/10.1016/j.susc.2006.12.082
- Wang, Y. D.; Zang, K. Y.; Chua, S. J. Appl. Phys. Lett. 2006, 89,263116. https://doi.org/10.1063/1.2425036