한국전자파학회논문지 (The Journal of Korean Institute of Electromagnetic Engineering and Science)

  • 제20권1호
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  • Pages.91-99
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  • 2009
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  • 1226-3133(pISSN)
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  • 2288-226X(eISSN)
한국전자파학회 (The Korean Institute of Electromagnetic Engineering and Science)
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Micro-TEM Cell을 사용한 표준 전자기장의 발생 및 측정불확도 평가

Standard Field Generation Using a Micro-TEM Cell and Its Measurement Uncertainty Evaluation

  • 강진섭 (한국표준과학연구원 기반표준부 전자파센터) ;
  • 김정환 (한국표준과학연구원 기반표준부 전자파센터) ;
  • 강웅택 (한국표준과학연구원 기반표준부 전자파센터) ;
  • 강노원 (한국표준과학연구원 기반표준부 전자파센터) ;
  • 강태원 (한국표준과학연구원 기반표준부 전자파센터)
  • Kang, Jin-Seob (Center for Electromagentic Wave, Division of Physical Metrology, Korea Research Institute of Standards and Science(KRISS)) ;
  • Kim, Jeong-Hwan (Center for Electromagentic Wave, Division of Physical Metrology, Korea Research Institute of Standards and Science(KRISS)) ;
  • Kang, Ung-Taek (Center for Electromagentic Wave, Division of Physical Metrology, Korea Research Institute of Standards and Science(KRISS)) ;
  • Kang, No-Weon (Center for Electromagentic Wave, Division of Physical Metrology, Korea Research Institute of Standards and Science(KRISS)) ;
  • Kang, Tae-Weon (Center for Electromagentic Wave, Division of Physical Metrology, Korea Research Institute of Standards and Science(KRISS))
  • 발행 : 2009.01.31
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초록

본 논문에서는 micro-TEM cell을 사용한 표준 전자기장 발생법을 기술하고 측정불확도를 평가하였다. 표준 전자기장 발생 시스템은 auto-leveling 기능을 가진 신호발생부, 최대 1.2 GHz까지 동작하는 micro-TEM cell, 서미스터 마운트를 사용한 전력측정부로 구성된다. 표준 전자기장 발생법의 타당성을 보이기 위해 $10\;MHz{\sim}1\;GHz$ 대역에서 전자기장의 세기 20 V/m에 대해 실시된 전자기장의 세기 국제비교(CCEM.RF-K20)의 참여 결과를 제시하였다.

In this paper, a standard field generation method using a micro-TEM ceil is described and its measurement uncertainty is evaluated. The standard field generation system consists of an auto-leveling signal source, a micro-TEM cell operating up to 1.2 GHz, and a power measuring Instrument using a thermistor mount. Measurement results of a field strength key comparison (CCEM.RF-K20) for the field strength of 20 V/m at frequencies between 10 MHz and 1 GHz are presented for validating the standard field generation method.

키워드

참고문헌

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