References
- Salbeck, J.; Yu, N.; Bauer, J.; Weissortel, F.; Bestgen, H. Synth. Met. 1997, 91, 209-215 https://doi.org/10.1016/S0379-6779(98)80033-7
- Grice, A. W.; Tajbakhsh, A.; Burn, P. L.; Bradley, D. D. C. Adv. Mater. 1997, 9, 1174-1178 https://doi.org/10.1002/adma.19970091511
- Gao, Z. Q.; Lee, C. S.; Bello, I.; Lee, S. T.; Chen, R. M.; Lu, T. Y. Appl. Phys. Lett. 1999, 74, 865-868 https://doi.org/10.1063/1.123392
- Yan, Z. L.; Hu, G. W.; Wu, S. K. Acta Chim. Sin. 1995, 53, 227-229
- Wagner, A.; Schellhammer, C. W.; Petersen, S. Angew. Chem. Int. Ed. Engl. 1966, 5, 699-704 https://doi.org/10.1002/anie.196606991
- Dorlars, H.; Schellhammer, C. W.; Schroeder, J. Angew. Chem. Int. Ed. Engl. 1975, 14, 665-679 https://doi.org/10.1002/anie.197506651
- Sarkar, A. K. Fluorescent whitening agents; Watford: England, Merrow, 1971
- Ji, S. J.; Shi, H. B. Dyes. Pigments. 2006, 70, 246-250 https://doi.org/10.1016/j.dyepig.2005.03.007
- Yang, G. B.; Wu, Y.; Tian, W. J.; Zhou, X.; Ren, A. M. Curr. Appl. Phys. 2005, 5, 327-330 https://doi.org/10.1016/j.cap.2003.11.093
- Lu, Z. Y.; Jiang, Q.; Zhu, W. G.; Xie, M. G.; Hou, Y. B.; Chen, X. H.; Wang, Z. J.; Zou, D. C. T. Tsutsui, Synthetic Met. 2000, 111-112, 425-427 https://doi.org/10.1016/S0379-6779(99)00388-4
- Wang, M. L.; Zhang, J. X.; Liu, J. Z.; Xu, C. X.; Ju, H. X. J. Lumin. 2002, 99, 79-83 https://doi.org/10.1016/S0022-2313(01)00204-6
- Zhao, P. S.; Li, Y. F.; Guo, H. M.; Jian, F. F.; Wang, X. Bull. Korean Chem. Soc. 2007, 28, 1539-1544 https://doi.org/10.5012/bkcs.2007.28.9.1539
- Zhao, P. S.; Li, Y. F.; Guo, H. M.; Wang, X.; Jian, F. F. Polish J. Chem. 2007, 81, 1735-1742
- Jian, F. F.; Zhao, P. S.; Guo, H. M.; Li, Y. F. Spectrochim. Acta A 2008, 69, 647-653 https://doi.org/10.1016/j.saa.2007.05.016
- Zhao, P. S.; Wang, H. Y.; Li, R. Q.; Guo, H. M. Indian J. Chem. A 2008, 47, 986-991
- Guo, H. M.; Jian, F. F.; Zhao, P. S.; Zhang, Y. C.; Li, Y. F. Acta Cryst. 2007, E63, o215-o216
- Sheldrick, G. M. SHELXTL, v5 Reference Manual; Siemens Analytical X-Ray Systems: Madison, WI, 1997
- Wilson, A. J. International Table for X-Ray Crystallography; Kluwer Academic: Dordrecht, The Netherlands, 1992; Vol. C, Tables 6.1.1.4, pp 500-502 and 4.2.6.8, pp 219-222
- Dewar, M. J. S.; Zoebisch, E. G.; Healy, E. F.; Stewart, J. J. P. J. Am. Chem. Soc. 1985, 107, 3902-3909 https://doi.org/10.1021/ja00299a024
- Peng, C.; Ayala, P. Y.; Schlegel, H. B.; Frisch, M. J. J. Comput. Chem. 1996, 17, 49-56 https://doi.org/10.1002/(SICI)1096-987X(19960115)17:1<49::AID-JCC5>3.0.CO;2-0
- Frisch, M. J.; Trucks, G. W.; Schlegel, H. B.; Scuseria, G. E.; Robb, M. A.; Cheeseman, J. R.; Montgomery, J. A.; Vreven, Jr., T.; Kudin, K. N.; Burant, J. C.; Millam, J. M.; Iyengar, S. S.; Tomasi, J.; Barone, V.; Mennucci, B.; Cossi, M.; Scalmani, G.; Rega, N.; Petersson, G. A.; Nakatsuji, H.; Hada, M.; Ehara, M.; Toyota, K.; Fukuda, R.; Hasegawa, J.; Ishida, M.; Nakajima, T.; Honda, Y.; Kitao, O.; Nakai, H.; Klene, M.; Li, X.; Knox, J. E.; Hratchian, H. P.; Cross, J. B.; Adamo, C.; Jaramillo, J.; Gomperts, R.; Stratmann, R. E.; Yazyev, O.; Austin, A. J.; Cammi, R.; Pomelli, C.; Ochterski, J. W.; Ayala, P. Y.; Morokuma, K.; Voth, G. A.; Salvador, P.; Dannenberg, J. J.; Zakrzewski, V. G.; Dapprich, S.; Daniels, A. D.; Strain, M. C.; Farkas, O.; Malick, D. K.; Rabuck, A. D.; Raghavachari, K.; Foresman, J. B.; Ortiz, J. V.; Cui, Q.; Baboul, A. G.; Clifford, S.; Cioslowski, J.; Stefanov, B. B.; Liu, G.; Liashenko, A.; Piskorz, P.; Komaromi, I.; Martin, R. L.; Fox, D. J.; Keith, T.; Al-Laham, M. A.; Peng, C. Y.; Nanayakkara, A.; Challacombe, M.; Gill, P. M. W.; Johnson, B.; Chen, W.; Wong, M. W.; Gonzalez, C.; Pople, J. A. Gaussian, Inc., Gaussian 03, Revision C.01; Wallingford, CT, 2004
- Runge, E.; Gross, E. K. U. Phys. Rev. Lett. 1984, 52, 997-100 https://doi.org/10.1103/PhysRevLett.52.997
- Petersilka, M.; Gossmann, U. J.; Gross, E. K. U. Phys. Rev. Lett. 1966, 76, 1212-1215 https://doi.org/10.1103/PhysRevLett.76.1212
- Bauernschmitt, R.; Ahlrichs, R. Chem. Phys. Let. 1996, 256, 454-464 https://doi.org/10.1016/0009-2614(96)00440-X
- Jamorski, C.; Casida, M. E.; Salahub, D. R. J. Chem. Phys. 1996, 104, 5134-5138 https://doi.org/10.1063/1.471140
- Fahrni, C. J.; Yang, L. C.; VanDerveer, D. G. J. Am. Chem. Soc. 2003, 125, 3799-3812 https://doi.org/10.1021/ja028266o