References
- S. Nishnino, H. Suhara, H. Ono, H. Matsuna-mi, J. Appl. Phys., 61 (1987) 4889 https://doi.org/10.1063/1.338355
- O. Kordina, L. O. Bjorketun, A. Henry, C.Hallin, R. C. Glass, L. Hultman, J. E. Su-ndgren, E. Janzen, J. Cryst. Gr., 154 (1995)303 https://doi.org/10.1016/0022-0248(95)00136-0
- J. M. Bonard, H. Kind, T. Stockli, L. O. NiIson, Solid-State Electronics, 45 (201) 893 https://doi.org/10.1016/S0038-1101(00)00213-6
- J. H. Boo, K. S. Yu, Y. Kim, S. H. Yeon. J. N. Jung, Chem. Mater., 7 (1995) 694 https://doi.org/10.1021/cm00052a014
- H. J. Dai, E. W. Wang, Y..Z. Lu, S. S. Fang,C. M. Lieber, Nature, 375 (1995) 769 https://doi.org/10.1038/375769a0
- G. W. Meng, L. D. Zhang, C. M. Mo, F. Phi-llipp, Y. Qin, H. J. Li, S. P. Feng, S. Y. Zha-ng, Mater. Res. Bull., 34 (1999) 783 https://doi.org/10.1016/S0025-5408(99)00073-2
- C. C. Tang, S. S. Fan, H. Y. Dang, J. HZhao, C. Zhang, P. Li, Q. Gu, J. Cryst. Gr.,223 (2001) 125 https://doi.org/10.1016/S0022-0248(01)00597-8
- W. Shi, Y. Zheng, H. Peng, N. Wang, C. S.Lee, S. T. Lee, J. Am. Ceram. Soc., 83(2000) 3228 https://doi.org/10.1111/j.1151-2916.2000.tb01714.x
- Y. B. Li, S. S. Xie, X. P. Zou, D.S. tang, Z. Q.Liu, W. Y. Zhou, G. Wang, J. Cryst. Gr., 223(2000) 125
- C. C. Tang, S. S. Fan H. Y. Dang, J. H. Zhao,C. Zhang P. Li, Q. Gu, J. Cryst. Gr 210(2000) 595 https://doi.org/10.1016/S0022-0248(99)00737-X
- E. I. Givargizov, J. Cryst. Gr., 31 (1975) 20 https://doi.org/10.1016/0022-0248(75)90105-0
- Ishizaka. A, Shiraki. Y, J. Electrochem. Soc.,133 (1986) 166
- I. C. Leu, M. H. Hon, J. Cryst. Gr., 236(2002) 171 https://doi.org/10.1016/S0022-0248(01)02274-6
- Y. H. Tang, Y. F. Zhang, N. Wang, C. S. Lee,X. D. Han, I. Bello, S. T. Lee, J. Appl. Phys.,85 (1999) 7981 https://doi.org/10.1063/1.369389
- J. Lahaye, D. Badie, J. Ducret, Carbon, 15(1977) 87 https://doi.org/10.1016/0008-6223(77)90022-7
- Z. W. Pan, S. S. Xie, L. F. Sun, G. Wang,Chem Phys. Lett., 299 (1999) 97 https://doi.org/10.1016/S0009-2614(98)01240-8
- E. I. Givargizov, J. Cryst. Gr., 20 (1973) 217 https://doi.org/10.1016/0022-0248(73)90008-0