Abstract
For the testability, this paper proposed the algorithm at autonomous synthesis which includes the data path structure as the self testing as possible on high level synthesis method when VHDL, coding is used in the system design area. In the proposed algorithm of this paper, MUXs and registers are assigned to the data path of designed system. And the designed data path could be mapped the H/W specification of described VHDL coding to the testable library. As a results, it was mapped H/W to the assign algorithm that is minimized MUX and the registers in collision graph.
본 논문은 검사 용이화를 위하여 VHDL을 이용하여 설계를 할 때, 상위 수준 합성 방법에서 자체검사가 가능한 데이터 경로 구조를 자동으로 합성할 수 있는 알고리즘을 제안하였다. 그리고 MUX와 레지스터는 본 논문에서 제안된 디자인 시스템의 데이터 패스에 할당되어진다. VHDL에 의하여 기술된 하드웨어 명세를 검사 가능한 라이브러리로 매핑을 할 수 있는 검사 가능한 회로가 된다. 결과적으로 충돌그래프에서 레지스터를 최소로 하는 할당 알고리즘에 의하여 H/W로 매핑되는데 BILBO(built-in logic block Observation)레지스터를 재구성하여 TP(test pattern generator)와 MISR(multi input signature response)로서 데이터 경로 구조가 자체검사가 가능하게 되는 것이다.
