A Study on the Vision Algorithm for the Inspection of very small RF-Chip Inductor

초소형 RF-chip inductor의 외관 검사 알고리즘에 관한 연구

In this paper, we propose a vision algorithm for the inspection of very small RF-chip inductor which is used in mobile-communication terminal. The proposed method divides coil part from the inductor body by local adaptive thresholding and integral projection method. After dividing work, the coil components are extracted by thinning and labelling techniques. The test items are the number of turns, the intervals in coil, and the measure of uniformity between the extracted lines. If the values of these are more than the specific value a tested product is decided bad one. In the simulation, the proposed method has a good performance.

본 논문에서는 이동 통신용 단말기에 주로 사용되는 RF-chip inductor의 자동 외관검사를 위한 시스템에 필요한 알고리즘을 제안하였다 제안한 방법은 취득한 영상에 국부적응 이진화 방법, 가산투영 기법을 적용하여 코일 부분과 코어 부분을 분리한다. 분리된 코일부분에 세선화(thinning) 방법, 체인코드(chain-code) 방법, 라벨링(labeling) 방법 등을 적용하여 코일성분을 추출하여 코일의 길이, 연결성, 코일의 turn수 그리고 피치간격에 의한 불균일 검사를 수행하여 소자의 불량 유무를 검사한다. 제안한 방법의 성능을 시험하기 위해 여러 가지 부품에 대한 모의실험을 통해 제안된 알고리즘의 성능을 검증하였다.