ATSC-VSB 복조 칩의 필드 테스트 결과

  • 김기범 (삼성전자(주) 중앙연구소) ;
  • 오지성 (삼성전자(주) 중앙연구소) ;
  • 송동일 (삼성전자(주) 중앙연구소)
  • Published : 1999.12.01