Abstract
In this paepr, we show that the length of the test sequence can be reduced using non-minimal multiple UIO instead of minimal multiple UIO. Our test sequence generation method starts from the observation that Shen's approach cannot optimize the length of the test sequence whtn the difference between the number of incoming edge and that of outgoing edge is large. Usig the property, we propse a more efficient method to generate a UIO-based test sequence in terms of the length, and compares our method with other existing methods in terms of execution time for comformancetesting and time for generation of test sequence.
본 논문에서는 최소 다중 UIO를 사용했을 때보다 비 최소 다중 UIO를 사용했을 때 시험열의 길이가 줄어들 수 있음을 보여준다. 본 논문에서 제안하는 시험열 생성 방법은 Shen의 방법이 어떤 상태에서 들어오는 에지와 나가는 에지의 차가 클 때에는 최적화된 시험열을 생성하지 못한다는 데에 기초하고 있다. 이 성질을 이용하여 시험열의 길이를 줄이는 관점에서 UIO에 기초한 보다 향상된 기법을 제안하고 기존의 방법과 시험열의 길이와 적합성 검사를 위하여 걸리는 시간, 시험열을 생성하는데 걸리는 시간이 보다 효율적임을 기존의 방법과 비교하여 설명한다.
