Low-level Determinations of Uranium and Thorium in Geologic Samples by X-ray Fluorescence

x-선 형광분석기톨 이용한 지질시료 중 우라늄과 토륨의 미량분석

Trace levels of uranium and thorium in geologic samples are determined rapidly by a direct wavelength-dispersive X-ray fluorescence method. Relative intensity of scattered tube radiation was used as an internal standard to compensate for variations in instrumental operating characteristics. U and Th can be determined within a precision of ${\pm}10%$ and accuracy of ${\pm}15%$ or less with measuring times of 50 seconds for Th and 400 seconds for U, respectively. The results of XRF analysis were in good agreement with those of other methods such as nutron activation analysis and inductively coupled plasma atomic emission spectrometry.

암석 및 토양 등의 지질시료에 미량으로 존재하는 우라늄과 토륨을 파장분산형 X-선 형광분석법을 사용하여 정량하였다. X-선관의 target 물질로 사용되는 Rh의 산란선을 내부 표준물질로 사용하였다. 토륨의 경우는 50초, 그리고 우라늄의 경우는 400초 동안 측정하였을 때, 우라늄과 토륨의 X-선 형광분석결과는 중성자방사화분석 및 유도결합플라즈마 원자방출분광분석의 결과와 큰 차이를 보이지 않았으며 10% 이내의 정밀도와 15% 이내의 정확도를 보여 주었다.