대한전자공학회논문지 (Journal of the Korean Institute of Telematics and Electronics)
- 제26권5호
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- Pages.46-51
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- 1989
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- 1016-135X(pISSN)
DC 스트레스에 의해 노쇠화된 LDD MOSFET에서 문턱 전압과 Subthreshold 전류곡선의 변화
The Shift of Threshold Voltage and Subthreshold Current Curve in LDD MOSFET Degraded Under Different DC Stress-Biases
- Lee, Myung-Buk (Dept. of Optical Electron., KAIST) ;
- Lee, Jung-Il (Dept. of Optical Electron., KAIST) ;
- Kang, Kwang-Nham (Dept. of Optical Electron., KAIST)
- 발행 : 1989.05.01
초록
DC 스트레스에 의해 노쇠화된 짧은 채널 LDD NMOSFET에서 문턱전압과 subthreshold 전류곡선의 변화를 관측하여 hot-carrier 주입에 의한 노쇠화를 연구하였다. 포화영역에서 정의된 문턱전압의 변화
The degradation phenomena induced by hot-carrier injection was studied from the shift of threshold voltage and subthreshold current curve in LDD NMOSFET degraded under different DC stress-biases. Threshold voltage shift
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