ETRI Journal

Electronics and Telecommunications Research Institute (한국전자통신연구원)
권호 표지

RSB를 이용한 As 이온 주입된 실리콘 시료분석

  • Published : 1988.10.01
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Abstract

반도체 소자에서 $N^+$ 접합에 이용되는 As 이온주입된 시편을 RBS(Rutherford backscattering spectrometry)법으로 분석하였다. Random 스펙트럼으로부터 $R_p$, $\DeltaR_p$, As의 최대농도를 구하고 channeled 스펙트럼으로부터 이온 주입에 의한 결정 손상층의 두께와 열처리 후 interstitial site에서 substitutional site로 치환된 As의 비를 구하였다.

Keywords