Proceedings of the Korean Society of Computer Information Conference (한국컴퓨터정보학회:학술대회논문집)

Korean Society of Computer Information (한국컴퓨터정보학회)
권호 표지

TFT-LCD 3D Module Testing System using Embedded Environment

임베디드 환경을 이용한 TFT-LCD 3D 모듈 검사 시스템

  • Kim, Hyo-Nam (Dept. of Computer Game, ChungKang College of Culture Industries) ;
  • Park, Jin-Yang (Dept. of Computer Science, InHa Technical College)
  • 김효남 (청강문화산업대학교 게임전공) ;
  • 박진양 (인하공업전문대학 컴퓨터정보과)
  • Published : 2013.01.24
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Abstract

3D LCD Module은 기존 TFT-LCD에 Parallax Barrier 방식과 Passive Glasses 방식 및 Active Glass 방식의 기술을 적합하여 만들어 진다. 현재는 3D Module 제작 후 기타 ASSY 장치를 부착 하여 시제품 출시 전에 3D 패턴을 기반으로 출하 검사를 통해 제품 이상 유무를 검사하다 보니 제품 출하 검사 시 불량 요인으로 불량 제품에 대한 모든 Repair공정을 위해 많은 시간 및 인력, 자재 등의 많은 로스 부분이 발생 하여 생산성 절감 및 제품 원가 상승의 요인이 발생 한다. 따라서 본 논문에서 제안하고자 하는 내용은 기존의 2D TFT-LCD Module 검사장비에 3D Pattern 및 동영상을 구현하여 보다 신속 하고 정확한 임베디드 환경을 이용한 2D 및 3D LCD Module용 검사 시스템을 개발 하는데 있다.

Keywords