Mask design for Uniformity of Si Nanowire fabricated by Top-down approach in 8-inch class large area

8인치급 대면적에서 Top-down 방식으로 제작된 Si Nanowire의 Uniformity를 고려한 Mask Design

  • 이준형 (서울과학기술대학교 기계시스템디자인공학과) ;
  • 조영학 (서울과학기술대학교 기계시스템디자인공학과) ;
  • 김성만 ;
  • 박상희 ((주)마이크로프랜드) ;
  • 허윤석 ((주)마이크로프랜드)
  • Published : 2012.10.24