대한전기학회:학술대회논문집 (Proceedings of the KIEE Conference)
- 대한전기학회 2008년도 제39회 하계학술대회
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- Pages.1332-1333
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- 2008
게이트 전압 패턴 분석을 통한 IGBT의 대전류 스위칭 특성 분석 방법
A Gate Pattern Diagnosis Method of IGBT to Evaluate Internal Temperature
- Kim, Bong-Seong (Applied high power Lab, Electric engineering department, Hanyang University) ;
- Ko, Kwang-Cheol (Applied high power Lab, Electric engineering department, Hanyang University)
- 발행 : 2008.07.16