Guard-Ring 변화에 따른 Digital X-ray 검출기 성능 평가

• Kim, Jin-Yeon ;
• Kim, Gyu-Chae ;
• Ban, Chang-Hyeon ;
• Im, Hyeon-U ;
• Park, Jin-Gu ;
• Jin, Seung-O (Korea Electrotechnology Research Institute) ;
• Jeon, Seong-Chae (Korea Electrotechnology Research Institute) ;
• Heo, Yeong (Korea Electrotechnology Research Institute)

• 김진영 (한양대학교 재료화학공학부) ;
• 김규채 (한양대학교 재료화학공학부) ;
• 반창현 (한양대학교 마이크로바이오칩센터) ;
• 임현우 (한양대학교 마이크로바이오칩센터) ;
• 박진구 (한양대학교 재료화학공학부) ;
• 진승오 ;
• 전성채 ;
• 허영

• Published : 2007.05.10

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