High Voltage Electron Microscopy DataBase System Using Data Grid

데이터 그리드를 이용한 초고전압 투과전자현미경 데이터베이스 시스템

  • Ahn Young-Heon (Electron Microscopy Team, Korea Basic Science Institute) ;
  • Kweon Hee-Seok (Electron Microscopy Team, Korea Basic Science Institute) ;
  • Kim Youn-Joong (Electron Microscopy Team, Korea Basic Science Institute)
  • 안영헌 (한국기초과학지원연구원 전자현미경팀) ;
  • 권희석 (한국기초과학지원연구원 전자현미경팀) ;
  • 김윤중 (한국기초과학지원연구원 전자현미경팀)
  • Published : 2005.07.01

Abstract

바이오 및 재료 분야 등 NT(Nano Technology), BT(Bio Technology)에 관련된 연구를 보다 더 수월하게 하기 위해 본원에 설치되어 있는 초고전압 투과전자현미경(High Voltage Electron Microscopy - 이하 HVEM)을 이용한다. HVEM을 통해 획득한 이미지의 정보는 매우 방대하여 하나의 시료를 관찰하는데 있어서 수백 메가 이상의 용량을 차지하고, 연구를 수행하는데 있어서 데이터를 여러 형태로 관찰 분석하기 때문에 수월한 지원을 위해 체계적으로 관리할 수 있는 데이터베이스 시스템이 필요하다. 그러나 일반적인 범용 데이터베이스로는 이러한 대규모의 데이터를 저장할 수 없다. 따라서 본 논문에서는 이러한 용량 데이터를 체계적으로 관리할 수 있도록, 데이터 그리드와 연구 데이터의 정보를 갖는 metadata 테이블을 통해 서로 먼 거리에 있는 연구원들이 데이터를 접근하고 대규모 저장 공간을 갖는 데이터베이스 시스템을 제안한다.

Keywords