Proceedings of the Korean Information Science Society Conference (한국정보과학회:학술대회논문집)

  • 2005.07a
  • /
  • Pages.580-582
  • /
  • 2005
  • /
  • 1598-5164(pISSN)
Korean Institute of Information Scientists and Engineers (한국정보과학회)
권호 표지

High Voltage Electron Microscopy Remote Access System Using Grid Computer

그리드 컴퓨터를 이용한 초고전압 투과전자현미경 원격제어 시스템

  • Ahn Young-Heon (Electron Microscopy Team, Korea Basic Science institute) ;
  • Hur Man-Hoi (Electron Microscopy Team, Korea Basic Science institute) ;
  • Kweon Hee-Seok (Electron Microscopy Team, Korea Basic Science institute) ;
  • Kim Youn-joong (Electron Microscopy Team, Korea Basic Science institute)
  • 안영헌 (한국기초과학지원연구원 전자현미경팀) ;
  • 허만회 (한국기초과학지원연구원 전자현미경팀) ;
  • 권희석 (한국기초과학지원연구원 전자현미경팀) ;
  • 김윤중 (한국기초과학지원연구원 전자현미경팀)
  • Published : 2005.07.01
Download PDF
⟨ Previous Next ⟩

Abstract

거리가 상당히 먼 곳에서 고가의 장비를 사용하기 위해서는 사용할 연구 인력이 직접 와야 하는 많은 시간적 비용적 문제가 발생한다. 특히 본원에 장비되어 있는 초고전압 투과전자현미경(High Voltage Electron Microscopy - 이하 HVEM)의 경우 고가의 장비로 지역마다 기기를 구비할 수 없어 사용자는 직접 장비가 있는 연구실까지 와서 사용해야 한다. HVEM은 1천만 배율의 성능을 가진 국내 유일은 물론 전 세계적으로도 손꼽히는 고성능의 투과전자현미경으로 NT(Nano Technology), BT(Bio Technology) 연구에 있어서 핵심적인 역할을 하는 청단 연구기기이다. 따라서 본 논문에서는 그리드 컴퓨터 기술을 이용하여 HVEM을 원격제어 하는 시스템을 구축하였다.

Keywords