Study on the Calibration Method of a EFT/Burst Immunity Test Generator

EFT/Burst 내성시험 발생기의 교정 방법에 관한 연구

  • Park B. K. (Dept. of Electronics, Information & Communication, Daelim College) ;
  • Han S. C. (Dept. of Computer Science, Sangji Youngseo College) ;
  • Oh S. H. (Dept. of Electronics, Chungnam National University)
  • 박병권 (대림대학 전자정보통신계열) ;
  • 한상철 (상지 영서대학 컴퓨터정보과) ;
  • 오승엽 (충남대학교 공대 전자공학과)
  • Published : 2004.07.01