Parallel Accessible Design for Detection of Neighborhood Pattern Sensitive Faults in High Density DRAMs

대용량 메모리의 이웃 패턴 감응 고장의 효율적 테스팅을 위한 메모리 구조

본 논문은 메모리 집적도의 증가로 인해 많이 발생하는 이웃 패턴 감응 고장에 대한 효율적인 테스팅 방법을 제안하고 있다. 기존의 테스팅 방법에서는 비트 단위의 순차적인 셀 어레이 접근으로 인해 결함 검출율과 테스팅 시간에 있어서 문제를 가지고 있다. 이러한 문제들을 본 논문에서는 이웃 패턴 감응 고장을 효율적으로 검출 할 수 있는 타일 방식으로 셀 어레이를 구분하여 이웃 셀의 영역을 제한한다 그리고 기본 셀과 이웃 셀에 필요한 패턴을 병렬로 입출력시킬 수 있는 병렬 접근 디코더와 검출기를 설계함으로써 전체 테스팅 시간을 줄이고 결함 검출율을 높일 수 있는 방법을 제안한다.