Acceleration Aging System for the Large Capacity Thyristor with Voltage and Heat

대용량 사이리스터의 전압/열에 의한 가속열화 시스템

  • Seo, K.S. (Korea Electrotechnology Research Institute, KEPCO) ;
  • Lee, Yang-Jae (Korea Electrotechnology Research Institute, KEPCO) ;
  • Kim, H.W. (Korea Electrotechnology Research Institute, KEPCO) ;
  • Kim, S.C. (Korea Electrotechnology Research Institute, KEPCO) ;
  • Bahng, W. (Korea Electrotechnology Research Institute, KEPCO) ;
  • Kim, N.K. (Korea Electrotechnology Research Institute, KEPCO) ;
  • Kim, E.D. (Korea Electrotechnology Research Institute, KEPCO) ;
  • Shin, E.C. (Korea Electrotechnology Research Institute, KEPCO)
  • 서길수 (한국전기연구원, 한국전력공사) ;
  • 이양재 (한국전기연구원, 한국전력공사) ;
  • 김형우 (한국전기연구원, 한국전력공사) ;
  • 김상철 (한국전기연구원, 한국전력공사) ;
  • 방욱 (한국전기연구원, 한국전력공사) ;
  • 김남균 (한국전기연구원, 한국전력공사) ;
  • 김은동 (한국전기연구원, 한국전력공사) ;
  • 신의철 (한국전기연구원, 한국전력공사)
  • Published : 2004.07.14

Abstract

본 고에서는 해남-제주간에 사용되는 Phase Control Thyristor의 구입비용을 고려하여, 해남-제주간 PCT와 동일 구조를 갖지만 전압/전류용량이 작은 A, B사의 PCT를 각각 40개씩 확보하였다. PCT의 가속열화를 위한 스트레스 인자는 전압/열이며, 이를 동시에 인가할 수 있도록 가속열화 시험장치를 구성하였다. 또한 가속열화에 의해 열화정도를 파악하기 위해 초기 특성을 측정하였으며, 이에 대한 결과를 기술하였다.

Keywords