한국전기전자재료학회:학술대회논문집 (Proceedings of the Korean Institute of Electrical and Electronic Material Engineers Conference)
- 한국전기전자재료학회 2003년도 하계학술대회 논문집 Vol.4 No.2
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- Pages.984-987
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- 2003
유기 발광소자내 dark spot의 마이크로파 근접장 현미경(near-field scanning microwave microscope)을 이용한 연구
Investigation of dark spots in OLEDs by using a near-field scanning microwave microscope
- Yun, Soon-Il (Seokang Univ.) ;
- Park, Mi-Hwa (Seokang Univ.) ;
- Yoo, Hyeon-Jun (Seokang Univ.) ;
- Lim, Eun-Ju (Seokang Univ.) ;
- Kim, Joo-Young (Seokang Univ.) ;
- Lee, Kie-Jin (Seokang Univ.)
- 발행 : 2003.07.10
초록
유기발광소자 안에 존재하는 비발광영역(dark spot)의 전압에 대한 영향을 근접장 마이크로파 현미경(near-field scanning microwave microscope)을 이용하여 관찰하였다. 유기발광소자는 glass/indiumtin oxide(ITO)/Cu-Pc/tris-(8-hydroquinoline)aluminum(Alq3)/aluminum(Al) 의 기본구조로 제작하였다. Dark spot은 ITO 기판을 부분적으로 에칭하여서 형성시켰다. Dark spot에