한국재료학회:학술대회논문집 (Proceedings of the Materials Research Society of Korea Conference)

한국재료학회 (Materials Research Society of Korea)
권호 표지

양전자 소멸 분광에 의한 실리콘에서의 결함 측정

Positron Annihilation Spectroscopy for Defect Characterization : Application to Si

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  • J. Schaffer (Lafayette College)
  • 발행 : 1996.11.01
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