Songgwang lead zinc mine is located in about 12km to the north-east of Jeonju City. Geology of the mine and its visinity is consisted of Jeonju series belonged to so-called Okcheon system, Seodaesan tuff formation, Silla series, and the quartz porphyry intruded into these formations. Jeonju series comprising 3 formations; that is, of Sadaeri, Sindong, and Girinbong. Jeonju series is generally distributed in southern part of the area, striking NNW, and diping NE $30^{\circ}$, or NW $30^{\circ}$. It is deformed to form synclinorium and anticlinorium plunging to the north with low angle. In the northern part of the area, Jeonju series was cut by Sinpeongri-fault of NEE direction near Sinpeongri. In the north side of the fault, it is overturned and shows NEE or NWW strikes and NW $60^{\circ}$ dips. At the west of Songgwangri, it is cut by 3 thrusts; the two are almost parallel each other, and the third oneis manifested by the fact that the lower black shale zone thrusted over the upper limestone. Songgwangri thrust, so named, is a post-mineral fault and its plane represents a premineral slip plane. Enrichment of are took place along the bedding plane or fissure parallel to it, as seen in adit No. 1 or No. 2 along the floor of the thrust, and along the sheared zone or the brecciated zone oblique to the plane near the thrust in crystalline limestone of Sindong formation as observed in the underground levels of inclined slope. Ore minerals are chiefly zincblende, galena, pyrrhotite, arsenopyrite, acompanied pyrite and chalcopyrite, and contain Au and Ag. In earlier stage of mineralization, the limestone was recrystalized, and sulphide minerals were enriched in the· permiable zone said above by pyrometasomatism, and in later stage the limestone was affected chloritization and sericitization. However hydrothermal replacement was weak, so that enrichment did not took place. It seems that minerallizing materials came up through the premineral slip plane and injected, and replaced the limestone in permiable zone said above with sulphide are minerals. Then Songgwangri thrust took place and, the lower black shale zone thrusted upon crystalline limestone.
ZnS thin films were prepared on glass substrate at various deposition conditions by a HW apparatus and were systematically investigated the growth characteristics, in terms of deposition edges by a double beam spectro- photometer, and structural analysis by a x-ray diffraction rates were increased with incresing the cell temperature and vapor pressure of sulfur, but were decreased with increasing substrate temperature. The optical characteristics of thin films depends on the deposition rates. The band gap energies of 3.46∼3.52eV measured at room temperature are smaller than the theoretical value of 3.54eV, indicating that impurities exist in the crystal. All ZnS thin films are oriented in the (III) principal direction of a zincblende structure. By introducing the S vapor, optical and crystalline properties have been improved.
Proceedings of the Korean Institute of Electrical and Electronic Material Engineers Conference
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2002.11a
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pp.31-34
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2002
HgTe quantum dots were synthesized in aqueous solution at room temperature by colloidal method. The synthesized materials were identified to be zincblende cubic structured HgTe quantum dots by X-ray diffraction and transmission electron microscopy image revealed that these quantum dots are agglomerate of a individual particle. The colloidally prepared HgTe quantum dots have the sphere-like shape with a diameter of approximately 4 nm. The optical properties of the HgTe quantum dots were investigated with photoluminescence(PL). The PL appears in the near-infrared region, which represent a dramatic shift from bulk HgTe behavior. The analytic results revealed that HgTe quantum dots have the broad size distribution, as PL emission spectrum covers the spectral region from 900 to 1400 nm. In this study, the factors affecting PL of HgTe quantum dots and particle size distributiont are described. 會Ā᐀ 䁇?⨀ 젲岒 Ā 㰀 會Ā㰀 顇?⨀ 끩 Ā ㈀ 會Ā㈀ ?⨀ 䡪 ఀ Ā ᐀ 會Ā᐀ 䡈?⨀ Ā ᐀ 會Ā᐀ ꁈ?⨀ 硫 ᜀ Ā 저 會Ā저 ?⨀ 샟ග ऀ Ā 저 會Ā저 偉?⨀ 栰岒 ఀ Ā 저 會Ā저 ꡉ?⨀ 1岒 Ā 저 會Ā저 J?⨀ 惝ග Ā 會Ā 塊?⨀ ග 嘀 Ā 切 會Ā切 끊?⨀ ⣟ග Ā 搀 會Ā搀 ࡋ?⨀ 큭킢 Ā 저 會Ā저 恋?⨀ 桮킢 Ā 저 會Ā저 롋?⨀ ⣅沥 ࠀ Ā ࠀ 會Āࠀ ၌?⨀ 샅沥 Ā 저 會Ā저 桌?⨀ 壆沥 ሀ Ā 저 會Ā저 쁌?⨀ o킢 瀀 ꀏ 會Ā ᡍ?⨀ 棤좗 Ā Ā Ā 會ĀĀ 灍?⨀ å좗 Ā Ā Ā 會ĀĀ 졍?⨀ 飥좗 Ā Ā Ā 會ĀĀ ⁎?⨀ ?ꆟ ᤀ
The hetero-epitaxial growth of AmB v type onto-electronic material is attempted by means of the laser-induced chemical vapour deposition technique. The bimolecular gas phase reaction of trimethylgallium with ammonia on (001) alumina substrate for the epitaxy of gallium nitride is chosen as a model system. In this study, ArF exciter laser (193nm) is employed as a photon source. Marked difference is found in nucleation and in subsequent crystal incorporation between the doposits formed with and without the laser-irradiation. The surface coverage with isomorphically grown drystallites is pronounced upon "volume-excited" irradiation in comparison with the conventional thermal process. As to the crystal structure of the grown layers, the laser-induced deposits of GaN may be represented by either of the following two models: (001) plane of sapphire //y (001) plane of wurtzite-type GaN, OR (001) plane of sapphire//(001) plane of wurtzite-type-GaN (111) plane of twinned zinc blende-type GaN.
Journal of the Korean Crystal Growth and Crystal Technology
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v.13
no.3
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pp.122-126
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2003
In this study, $Zn_{0.86}Mn_{0.14}$Te epilayer of 0.7 $\mu\textrm{m}$-thickness was grown on GaAs(100) substrate by using hot wallepitaxy. GaAs(100) substrate was removed from $Zn_{0.86}Mn_{0.14}$Teepilayer by the selective etching solution. The crystal structure and the lattice constant of only Z $n_{0.86}$ M $n_{0.14}$Te epilayer were investigated to be zincblende and 6.140 $\AA$ from X-ray diffraction pattern, respectively. Mn composition x of $Zn_{1-x}Mn_x$Te epilayer was found to be 0.14 using this lattice constant and Vegard's law. The crystal quality of the epilayer was confirmed to be very good due to 256 arcsec-full-width at half-maximum of the double crystal rocking curve. The absorption spectra from the transmission ones were obtained to measure the band gap energy of $Zn_{0.86}Mn_{0.14}$Te epilayer from 300 K to 10 K. With the decreasing temperature,. strong absorption regions in the absorption spectra were shifted to higher energy side and the absorption peak meaning the free exciton formation appeared near the absorption edge. The band gap energy values of $Zn_{0.86}Mn_{0.14}$Te epilayer at 0 K and 300 K were found to be almost 2.4947 eV and 2.330 eV from the temperature dependence of the free exciton peak position energy of $Zn_{0.86}Mn_{0.14}$Te epilayer, respectively. The free exciton peak position energy of $Zn_{0.86}Mn_{0.14}$Te epilayer without GaAs substrate was larger 15.4 meV than photoluminescence peak position energy at 10 K. This energy difference between two peaks was analysed to be Stokes shift.
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[게시일 2004년 10월 1일]
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