• 한국식품과학회지
• /
• 제48권5호
• /
• pp.418-423
• /
• 2016

근적외선분광분석기와 에너지 분산형 X선 형광분석기를 이용한 분석방법을 개발하여 각각 97.5, 98.0%의 높은 정확도의 판별식을 확립하였고, 시중 유통 시료를 분석하여 검증한 결과 각각 96.3, 95.0%의 판별 정확도를 확인하였다. 이상의 연구 결과를 통하여 근적외선분광분석기와 에너지 분산형 X선 형광분석기를 이용하여 청국장 원산지 판별이 가능함을 확인하였고 이는 유기성분 함량에 따른 근적외선 흡광도와 무기성분 함량에 따른 X선 형광에너지 강도가 국내산과 수입산 간에 차이가 있기 때문으로 사료된다.

• 분석과학
• /
• 제9권4호
• /
• pp.382-391
• /
• 1996

세라믹스 분야, 전자요업 분야 등에서 폭넓게 사용되고 있는 티탄산바륨 소재에 대하여 신속하고 정확하게 분석할 수 있는 X-선 형광분석용 표준물질 12종을 제작하였다. 특히 매질효과 제거, 보관성, 균질성 등을 고려하면서 융제 ($Li_2B_4O_7+LiBO_2$)로 시료를 16배 희석하여 제작 하였다. 티타늄을 비롯한 몇 원소는 매트릭스의 영향을 받는 것으로 보여 실험 계수법을 사용하고 Lucas Tooth와 Price의 식을 이용해 매트릭스의 영향을 보정해 주었다. 세 곳의 분석기관에서 X-선 형광분광기로 12개의 표준물질에 포함된 15 원소에 대하여 검정곡선을 작성해 본 결과 BaO, PbO, SrO, $Fe_2O_3$, $La_2O_3$, $SnO_2$, ZnO, $ZrO_2$, CaO들은 correlation factor가 0.995를 넘는 아주 좋은 곡선을 얻었다. $SiO_2$와 $Al_2O_3$는 X-선 형광세기도 약하고 correlation factor가 낮은 검정 곡선을 보였다.

• 한국구조물진단유지관리공학회 논문집
• /
• 제27권6호
• /
• pp.130-137
• /
• 2023

본 연구는 XRF 장비를 활용하여 고온조건에 노출된 시멘트 페이스트의 화학적 특성변화에 대한 연구를 진행하였다. 고온조건은 전기가열로를 이용하여 상온에서 1000도까지 총 11개의 목표온도를 계획하여 진행하였고, Geo-quant basic 표준 라이브러리를 이용하여 Ca, Si, Al, Fe, S, Mg, Ti, Sr, P, Mn, Zn, K 등 12종의 원소를 분석 대상으로 하였다. 실험 결과 피해온도가 증가할수록 시멘트페이스트를 구성하고 있는 각 원소의 비율이 증가하는 것으로 나타났다. 극히 일부의 미량 원소를 제외하고, 대부분의 원소 구성비율은 피해온도와 높은 상관성을 나타냈는데, R-squared 값 0.98 이상을 나타내었다. 본 연구에서는 100% 정규화 기능을 사용하지 않고 XRF 장비를 이용하여 일반환경과 고온 환경에 노출된 시멘트페이스트를 비교 분석하였는데, 결과의 차이가 발생한 이유에 대해서 일반 시멘트 원재료와 시멘트페이스트를 비교하였을 때 차이가 발생한 이유와 동일한 측면에서 설명하였다. 또한, 이를 통해 XRF 장비를 활용하여 시멘트페이스트를 분석할 때 잠재적으로 가장 중요한 영향인자에 대해 논의하였다.

• 대한화학회지
• /
• 제47권5호
• /
• pp.447-459
• /
• 2003

일반화된 이차원 상관 분광학은 모든 분자 분광학 즉, 적외선 (infrared, IR), 근적외선 (near-infrared, NIR), 라만 (Raman) 및 형광 (fluorescence) 분광학뿐만 아니라 X-ray 회절, X-ray 흡수 분광학 (XAS), 크로마토그래피 (chromatography) 등에 적용되어 시간뿐만 아니라 온도, 압력, 농도, 조성과 같은 다른 물리적 변화인 외부 섭동 (perturbation) 아래에서 얻은 스펙트럼 분석의 새로운 분광학으로 다양한 분야의 연구가 활발히 진행 중이다. 또한 같은 외부 섭동 아래에서 얻은 완전히 다른 두 스펙트럼의 2D hetero-spectral correlation analysis가 가능하므로 다양한 분야 즉, 생체 물질, 고분자, 나노입자 등의 연구가 활발히 진행 중이다. 이런 다양한 분야의 응용성 때문에 ？일반？?이차원 상관 분광학？？물리, 분석, 고분자, 나노물질 및 생화학 연구에 새로운 방향을 제시할 수 있을 뿐만 아니라 바이오 나노기술 연구에 상승 효과를 제공할 수 있다. 본 논문은 "일반화된 이차원 상관 분광학"의 원리와 그 다양한 응용성을 본 저자들의 연구를 중심으로 소개하고자 한다.

• 한국의류학회지
• /
• 제25권10호
• /
• pp.1770-1778
• /
• 2001

황토는 대표적인 천연 무기염재의 일종으로서 바람에 의해 운반되어 퇴적된 담황색 내지는 황회색을 띠는 실트질의 퇴적물을 일컫는다. 황토의 구성물질은 주로 석영, 장석, 산화철광물, 깁사이트 등의 여러 가지 점토광물을 포함하는데, 주로 적색을 띠는 것은 소량의 산화철 광물에 기인되는 경우가 많으며 황토를 구성하는 점토광물로는 버미큘라이트, 카오린 광물인 캐올리나이트와 할로이사이트, 일라이트 등이 있다. 본 연구에서는 면직물에 천연 무기염재인 황토를 사용한 염색시에 황토 단독염색과 콩즙 전처리 후 황토염색으로 나누어 염색을 실시하고, 원료 황토와 황토염색 후 면직물에 부착된 성분 간에 차이가 있는지를 확인하기 위해 X선 형광분석(X-ray fluorescence analysis, XRF)을 이용하여 염색 전.후 황토의 성분을 분석하였고, X선 회절분석(X-ray diffraction analysis, XRD)을 이용하여 황토 및 염색 전 후 면직물에 부착된 광물질의 주성분을 분석하였으며, energy dispersive spectrometer (EDS)가 장착된 주사전자현미경을 이용하여 면직물에 부착된 광물의 성분을 조사하였다. 그 결과, 황토로 면직물을 염색하는 경우 면직물에 부착되는 황토의 양과 K/S 값은 거 의 비례하여 증가하는 것으로 나타났다. 황토 염색 후 면직물에 부탁되는 주성분은 주로 SiO$_2$, A1$_2$O$_3$, Fe$_2$O$_3$등인 것으로 나타났으며, X선 회절분석과 EDS분석에 의해 캐올리나이트, 일라이트 등의 점토광물의 형태로 존재하는 것이 확인되었다.

• 한국재료학회지
• /
• 제33권9호
• /
• pp.367-371
• /
• 2023

In this study we examine variations in the structure of perovskite compounds of LaBa₂Cu₂O₉, LaBa2₂CaCu₃O₁₂ and LaBa₂Ca₂Cu₅O₁₅ synthesized using the solid state reaction method. The samples' compositions were assessed using X-ray fluorescence (XRF) analysis. The La: Ba: Ca: Cu ratios for samples LaBa₂Cu₂O₉, LaBa2₂CaCu₃O₁₂ and LaBa₂Ca₂Cu₅O₁₅ were found by XRF analysis to be around 1:2:0:2, 1:2:1:3, and 1:2:2:5, respectively. The samples' well-known structures were then analyzed using X-ray diffraction. The three samples largely consist of phases 1202, 1213, and 1225, with a trace quantity of an unknown secondary phase, based on the intensities and locations of the diffraction peaks. According to the measured parameters a, b, and c, every sample has a tetragonal symmetry structure. Each sample's mass density was observed to alter as the lead oxide content rose. Scanning electron microscope (SEM) images of the three phases revealed that different Ca-O and Cu-O layers can cause different grain sizes, characterized by elongated thin grains, without a preferred orientation.

• 대한화학회지
• /
• 제26권4호
• /
• pp.229-234
• /
• 1982

용액법을 이용하여 황화광석중 황을 X-선 형광분광법에 의하여 간접적으로 정량하였다. 시료를 B$r_2$와 HN$O_3$의 혼합용액으로 녹여서 황을 S$O^4_{2-}$상태로 산화시켰고 주성분인 Si$O_2$는 HF로 처리하여 날려 보냈다. 이 용액에 여분의 일정량 B$a^{2+}$용액을 가하여 BaS$O_4$로 침전시키고 거른 다음 거른액과 씻은액중의 Ba의 형광 X-선세기를 측정하여 역계산으로 황을 정량하였다. 무게분석법에 의한 결과와 비교하여 보면 함량 $20{\sim}40%$ 범위에서 ${\pm}1.7%$의 평균차이를 나타낸다. 정광시료의 표준편차는 0.69로서 좋은 재현성을 나타냈다.

• 전자공학회논문지
• /
• 제50권8호
• /
• pp.238-244
• /
• 2013

에너지 분산형 X-선 형광(EDXRF) 분석에서 X-선 스펙트럼에 존재하는 컨티넘(continuum)의 추정 및 제거는 필수적이다. 이를 위해 일반적으로 사용되는 알고리즘들은 많은 주의가 필요하며 복잡하다. 보통 이 알고리즘들은 제약적이거나 컨티넘의 데이터나 모양에 대한 가설을 필요로 한다. 본 논문에서는 제안된 에너지 분산형 X-선 형광 스펙트럼을 위한 효율적인 배경(background) 보정 방법은 배경 모델링과 배경 보정으로 구성된다. 이 방법은 스펙트럼에서 백그라운드영역과 피크영역을 구분하는 기본 개념을 기반으로 하며 성능향상을 위하여 SNIP알고리즘을 사용한다. 스펙트럼으로부터 배경에 속하는 점들을 획득한 후 이를 기반으로 곡선 근사화를 통해 배경을 모델링한다. 이후 획득된 배경 모델을 원 스펙트럼에서 뺌으로써 배경이 보정된 스펙트럼을 얻는다. 제안된 방법은 상대적으로 적은 사전 지식을 요구하면서 기존의 몇몇 방법들에 비해 우수한 결과를 보여주었다.

• 대한화학회지
• /
• 제29권3호
• /
• pp.265-270
• /
• 1985

희석 파라미터법을 이용한 X-선 형광분광법으로 주석슬랙중 Ta$_2$O$_5$, Nb$_2$O$_5$, SnO$_2$ 및 ZrO$_2$를 정량하였으며 그들의 분석결과를 표준검정곡선법으로 얻은 결과들과 비교하였다. 주석슬랙 시료와 주석슬랙과 비슷한 조성을 갖는 한개의 표준시료를 적당한 희석제(La$_2$O$_3$)로 1 : 1, 1 : 2, 1 : 3, 1 : 4로 각각 희석하였다. 원시료와 희석된 시료의 X-선 세기를 측정하여 희석 파라미터항이 포함된 계산식을 이용하여 함량을 계산하였다. 그 결과 분석값은 표준검정곡선법에 의한 기준값들과 잘 일치하고 있음을 확인하였다.

• Nuclear Engineering and Technology
• /
• 제53권9호
• /
• pp.3026-3034
• /
• 2021

Multi-target X-ray tube is a new type X-ray source, and can be applied in many fields such as sensitive X-ray fluorescence analysis and medical imaging. In this work, we report an electric field modulation multi-target X-ray tube, which contains four targets (Cr, Ni, Au, Mo) coated on a Beryllium (Be) window. A four-valve electric field deflector was developed to deflect the electron beam to bombard the corresponding targets. Particle dynamics analysis software was employed to simulate the particle tracking of electron beam. The results show that the 30 keV electron beam could get a 6.7 mm displacement on the target plane by 10⁵ V/m electric field. The focus areas are about 2 mm × 5 mm and 4 mm × 2.5 mm after deflection in two directions. Thermal behavior calculated by ANSYS shows that the designed target assembly could withstand a 10 W continuous power. The optimum target thicknesses and emission spectra were obtained by Geant4 when the thickness of Be window was 300 mm and the electron beam incident angle was 0.141 rad. The results indicate that this multi-target X-ray tube could provide different X-ray sources effectively.