Ti0.5Al0.5N/CrN nano-multilayers, which are known to exhibit excellent wear resistances, were prepared using the unbalanced magnetron sputter for various periods of 2-7 nm. Ti0.5Al0.5N and CrN comprised a cubic structure in a single layer with different lattice parameters; however, Ti0.5Al0.5N/CrN exhibited a cubic structure with the same lattice parameters that formed the superlattice in the nano-multilayers. The Ti0.5Al0.5/CrN multilayer with a period of 5.0 nm exceeded the hardness of the Ti0.5Al0.5N/CrN single layer, attaining a value of 36 GPa. According to the low-angle X-ray diffraction, the Ti0.5Al0.5N/CrN multilayer maintained its as-coated structure up to 700℃ and exhibited a hardness of 32 GPa. The thickness of the oxidation layer of the Ti0.5Al0.5N/CrN multilayered coating was less than 25% of that of the single layers. Thus, the Ti0.5Al0.5N/CrN multilayered coating was superior in terms of hardness and oxidation resistance as compared to its constituent single layers.
Kim, SungMin;Kim, EunYoung;Kim, DongJun;La, JoungHyun;Lee, SangYul
Journal of the Korean institute of surface engineering
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v.45
no.6
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pp.257-263
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2012
CrN/AlN multilayer coatings with various bilayer periods in the range of 1.8 to 7.4 nm were synthesized using a closed-field unbalanced magnetron sputtering method. Their crystalline structure, chemical compositions and mechanical properties have been investigated with Auger electron spectroscopy, X-ray diffractometry, atomic force microscopy, nanoindentation, scratch tests. The properties of the multilayer coatings varied strongly depending upon the magnitude of the bilayer period. The multilayer coating with a bilayer period of 1.8 nm showed the maximum hardness and an elastic modulus of approximately 37.6 and 417 GPa, respectively, which was 1.54 times higher than the hardness predicted by the rule of mixture from the CrN and AlN coatings. The hardness of the multilayer coating increased as the bilayer period decreased, i.e. as the rotation speed increased. The Hall-Petch type relationship, hardness being related to (1/periodicity)$^{-1/2}$, suggested by Lehoczky was confirmed for the CrN/AlN multilayer coatings with bilayer period close to the 5-10 nm range. With decreasing bilayer period, the surface morphology of the films became rougher and the critical load of films for adhesion strength gradually decreased.
Proceedings of the Korean Institute of Electrical and Electronic Material Engineers Conference
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1996.11a
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pp.49-53
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1996
Crystal structures of N $a_{x}$W $O_3$(0.5$\leq$x$\leq$1.0) were investigated. Transmission electron microscopy (TEM) studies indicate that there is an ordering of sodium ions when x=0.75. The direction of ordering is [110] and the wavelength of ordering is twice of the interplanar distance of (110) plane. It has been confirmed that a superlattice containing eight N $a_{0.75}$W $O_3$is the unit cell of ordered structure. In this unit cell, Na sites at (100) and ($\frac{1}{2}$$\frac{1}{2}$$\frac{1}{2}$) are vacant. The ordered phase was preserved after the annealing at $600^{\circ}C$ in the air. In reduced N $a_{x}$W $O_3$with x=0.5 and 1.0, extra phases were found to coexist with the partially ordered perovskite phase. After annealing at $600^{\circ}C$, theses phases were transformed into the phases found in calcined specimens.ens.s.
The Journal of Korean Institute of Electromagnetic Engineering and Science
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v.11
no.5
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pp.782-787
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2000
The monolithic single-pole three-throw(SP3T) GaAs PIN diode switch circuit for the broadband and high power application was designed, fabricated and characterized. To improve the power handling capability, buffer layers of the diode employ both low temperature buffer and superlattice buffer. The diode show the breakdown voltage of 65V and turn-on voltage of 1.3V. The monolithic integrated switch employed microstrip lines and backside via holes for low-inductance signal grounding. The vertical epitaxial PIN structure demonstrated better microwave performance than planar type structures due to lower parasitics and higher quality intrinsic region. As the large signal characteristics of the fabricated SP3T MMIC switch, the insertion loss was measured less than 0.6dB and the isolation better than 50dB when the input power was increased from 8dBM to 32dBm at 14.5GHz.
Decylthiocyanate (DTC) self-assembled monolayers (SAMs) on Au(111) were prepared by solution and vapor phase deposition methods at $50^{\circ}C$ for 24 h. The formation and surface structure of DTC SAMs were examined using scanning tunneling microscopy (STM). STM imaging revealed that DTC SAMs formed in 1 mM ethanol solution at $50^{\circ}C$ were composed of small ordered domains with lateral dimensions of a few nanometers and disordered phases, whereas DTC SAMs formed in the vapor phase at $50^{\circ}C$ contained two ordered phases: a closely packed c($4{\times}2$) superlattice and a striped phase with an interstripe spacing of 2.6 - 2.8 nm. It was also found that the ordered domain and vacancy island formation for DTC SAMs on Au(111) differs significantly from that of decanethiol SAMs, suggesting that adsorption mechanism is different from each other. From this study, it was confirmed that DTC SAMs with a high degree of structural order can be obtained by vapor phase deposition.
We have investigated the effects of sputtering Ar gas pressure on magnetic and magneto-optical properties in compositionally modulated Co/Pd superlattice thin films. The samples were prepared by dc magnetron sputtering from 2-in.-diam Co and Pd targets by alternately exposing the substrates to targets. Sputtering Ar gas pressure was varied from 2 to 30 mTorr. All samples had same bilayer thicknesses composed of 2-$\AA$-thick Co and 9-$\AA$-thick Pd sublayers. It was observed that the colum-nar structure was more distinctively developed with increasing Ar gas pressure. We observed that the intrinsic uniaxial anisotropy energy, magnetization and polar Kerr rotation were decreased with increasing Ar gas pressures. Large coercivity and perfect squareness were attained by the deposition at the high Ar gas pressure. We believe that the results are mainly ascribed the variation of micro-structure with sputtering Ar gas pressure.
The structural changes and dielectric properties of Pb1-x(Na1/2La1/2)x(Mg1/3Nb2/3)O3 compounds substituted by 0∼50 mol.% of Na+/La3+ mixed ions were investigated by X-ray diffraction method, IR and Raman spectroscopy, and LCR meter. The amount of perovskite phase increased with the increases of Na+/La3+ substituents and sintering temperatures. Although the superlattice lines due to 1:1 ordering were not detected by X-ray diffraction method, it was found, from the Raman spectroscopy and the increase of diffuseness coefficient, that the ordering behavior was related to the decrease of A site ion size. Dielectric properties in Pb1-x(Na1/2La1/2)x(Mg1/3Nb2/3)O3 were affected by the amount of perovskite phase, grain size, and density. The phase transitions were broadened and phase transition temperatures were lowered by the increase of Na+/La3+ ions.
Proceedings of the Korean Institute of Electrical and Electronic Material Engineers Conference
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1999.11a
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pp.248-251
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1999
The microwave dielectric properties of The Dielectric Properties of $Ba_{1-x}$A$_{x}$(Mg$_{1}$3/Nb$_{2}$3/)O$_3$ (A = Sr, Ca, x = 0, 0.2 ,0.4 ,0.6, 0.8, 1.0) were investigated. In composition of $Ba_{1-x}$A$_{x}$(Mg$_{1}$3/Nb$_{2}$3/)O, densities are decreased with increasing x values. Grain sizes are decreased with Sr content and Increased with Ca content. The hexagonally ordered superstructure was observed in $Ba_{1-x}$Sr$_{x}$(Mg$_{1}$3/Nb$_{2}$3/)O$_3$(BSMN) systems, the intensity of superlattice increased with x value. In $Ba_{1-x}$Cr$_{x}$(Mg$_{1}$3/Nb$_{2}$3/)O$_3$(BSMN) systems, the additional diffraction patterns were shown. The highest value of $\varepsilon$$_{r}$ was shown in x=0.2 of BCMN systems and the value was 41.9. The highest Q$\times$f was shown in x=0.2 of BSMN systems and the value was 68,000. $\tau$$_{f}$ were shown 0 ppm/$^{\circ}C$ near x=0.8.TEX> near x=0.8.0.8.
Lee, Eun Hye;Song, Jin Dong;Yoen, Kyu Hyoek;Bae, Min Hwan;Oh, Hyun Ji;Han, Il Ki;Choi, Won Jun;Chang, Soo Kyung
Journal of the Korean Vacuum Society
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v.22
no.6
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pp.313-320
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2013
The $AlAs_xSb_{1-x}$ step-graded buffer (SGB) layer was grown on the Silicon (Si) substrate to overcome lattice mismatch between Si substrate and $Al_{0.3}Ga_{0.7}As$/GaAs multiple quantum wells (MQWs). The value of root-mean-square (RMS) surface roughness for 5 nm-thick GaAs grown on $AlAs_xSb_{1-x}$ step-graded buffer layer was ~1.7 nm. $Al_{0.3}Ga_{0.7}As$/GaAs MQWs with AlAs/GaAs short period superlattice (SPS) were formed on the $AlAs_xSb_{1-x}$/Si substrate. Photoluminescence (PL) peak at 10 K for the $Al_{0.3}Ga_{0.7}As$/GaAs MQW structure showed relatively low intensity at ~813 nm. The RMS surface roughness of the $Al_{0.3}Ga_{0.7}As$/GaAs MQW structure was ~42.9 nm. The crystal defects were observed on the cross-sectional transmission electron microscope (TEM) images of the $Al_{0.3}Ga_{0.7}As$/GaAs MQW structure. The decrease of PL intensity and increase of RMS surface roughness would be due to the formation of the crystal defects.
Kim, J.O.;Shin, H.W.;Choe, J.W.;Lee, S.J.;Noh, S.K.
Journal of the Korean Vacuum Society
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v.18
no.2
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pp.127-132
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2009
We have investigated the intrinsic defects remaining in epitaxial GaSb layers grown on SI-GaAs substrates compared to those in bulk GaSb crystal substrate, which is a basic material of Sb-based strained-layer superlattice infrared photodetectors. From the functional dependence of the band-to-band transition energy of the photomuminescence (PL) spectra observing up to near room-temperature (250 K), the temperature parameters of [$E_o$, $\alpha$, $\beta$] of undoped GaSb crystal are determined by using the Varshni empirical equation describing the temperature variation of the bandgap energy. Additionally to the antisite-Ga ([$Ga_{Sb}$]) with an ionization energy of 29 meV that is well known to a major intrinsic defect in GaSb, epitaxial GaSb layers show a pair of deep states at the emission energy of 732/711 meV that may be related with a complex of two antisite-Ga and antisite-Sb ([$Ga_{Sb}-Sb_{Ga}$]). Based on the analysis of the temperature and the excitation-power dependences of PL, it suggests that excess-Sb substitutes Ga-site by self-diffusion and two anti sites of [$Ga_{Sb}$] and [$Sb_{Ga}$] could form as a complex of [$Ga_{Sb}-Sb_{Ga}$] in GaSb epilayers grown under Sb-rich condition.
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[게시일 2004년 10월 1일]
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