Super-RENS (Super-Resolution Near-field Structure) 디스크 시스템은 BD (Blu-ray Disc) 이후의 차세대 광 기록 저장 시스템의 유망한 후보이다. 따라서 super-RENS 시스템을 위한 등화기 개발과 성능 분석을 위해 정확하고 신뢰성 있는 채널 모델링은 매우 중요하다. 본 논문에서는 super-RENS 시스템의 모델링을 위해 SCPWL (Simplicial Canonical Piecewise-Linear) 모델을 적용하고자 한다. Super-RENS 디스크로부터 획득한 RF 신호 샘플들을 사용하여 모의실험을 수행한 결과, super-RENS 시스템의 비선형 모델링을 위해 SCPWL 모델이 효과적으로 활용될 수 있다는 것을 확인하였다.
본 논문에서는 super-RENS 디스크의 채널 모델링을 위하여 압축 센싱 알고리즘에 기반한 sparse Volterra 필터에 대해 연구하였다. Super-RENS 디스크 시스템에서 심한 비선형 심벌간 간섭(ISI)이 발생하는 것은 익히 알려진 사실이다. 메모리를 가진 비선형 시스템은 Volterra 급수로 모델링할 수 있다. 또한, 압축 센싱은 측정치로부터 성긴 또는 압축된 신호를 복원할 수 있다. 이러한 이유로 super-RENS의 성긴 특성을 갖는 read-out 채널을 예측하기 위해 압축 센싱 알고리즘을 사용하였다. 평가 결과는 압축 센싱 알고리즘으로 super-RENS의 read-out 채널을 위한 sparse Volterra 모델을 효과적으로 구성할 수 있음을 보여준다.
The research topic of super-RENS technology is shifting from the signal intensity (CNR; Carrier to Noise Ratio) to the signal uniformity (Jitter or bER). To achieve an uniform signal characteristics, it is important to reduce signal fluctuation in a super-RENS disc. In this study, we investigated the relation between signal fluctuation and low frequency noise (LFN), and analyzed LFN increase in recording and readout processes. It was found that signal fluctuation had a close relationship with the LFN. Also, it was found that the recorded mark shape such a bubble type and high readout power increased the LFN in recording and readout process of a super-RENS disc. So, using non-bubble type recording material and low super-resolution readout material, we markedly improved the LFN in a super-RENS disc.
최근 들어, 광 기록 저장 시스템을 위한 다양한 기록 방식들이 연구되고 있다. BD (Blue-ray Disc)나 HD-DVD (High-Definition Digital Versatile Disc) 기록 방식의 표준화가 진행된 후에 차세대 광 기록 방식에 대한 관련 업계의 초점이 모아지고 있다. 이러한 차세대 광 기록 저장 시스템 가운데 기술의 호환성이 장점인 Super-RENS (Super-Resolution Near field Structure) 기술이 유력한 후보 중 하나이다. 본 논문에서는 HOS (Higher-Order Statistics)에서 사용되는 bicoherence 테스트를 통해 Super-RENS read-out 신호의 비선형성을 분석하고, Super-RENS 시스템의 비선형 모델링을 위해 신경망을 적용하고자 한다. 본 논문에서 고려하는 모델 구조는 NARX (Nonlinear AutoRegressive eXogenous) 모델이다. 모의실험 결과, Super-RENS read-out 신호의 비선형성이 존재함을 알 수 있었고, Super-RENS 시스템의 비선형 모델링을 위해 신경망이 유용하게 활용될 수 있다는 가능성을 확인하였다.
신뢰성 있는 채널 모델은 다양한 데이터 검출 알고리즘의 개발과 성능 평가에 중요한 척도가 되므로 정확한 모델링이 요구된다. 본 논문에서는 Super-RENS (Super-Resolution Near-field Structure) 시스템의 비선형 모델링을 위해 정규 구간선형 모델 (canonical piecewise-linear; PWL)과 2차 볼테라 (second-order Volterra) 모델을 적용하고자 한다. 또한 이를 바탕으로 비선형 심볼간 간섭 (Inter-Symbol Interference; ISI)을 제거하기 위해 새로운 비선형 등화기를 제안한다. Super-RENS 디스크로부터 획득한 RF 신호 샘플들을 사용하여 모의실험을 수행한 결과, Super-RENS 시스템의 비선형 모델링을 위해 정규 구간선형 모델과 2차 볼테라 모델이 유용하게 활용될 수 있다는 가능성을 확인하였고 제안된 비선형 등화기의 성능은 비트오율 측면에서 등화기가 없는 경우보다 우수한 성능을 나타내었다.
Super-RENS(super-resolution near-field structure) read-out 신호는 비선형 채널을 겪으면서 ISI(inter-symbol interference)의 영향으로 신호가 변형된다. 본 논문에서는 등화기의 측면에서 super-RENS 신호에 나타나는 비대칭성과 domain bloom 특성에 대해 살펴본다. Domain bloom은 광 레코드의 기록 과정에서 발생한다. 본 연구에서는 비대칭 심벌 변환 방식을 이용하여 비대칭 심벌들을 생성하며, 비선형 심벌과 선형 FIR(finite impulse response) 필터로 read-out 채널을 모델링한다. 이러한 비선형 채널의 등화는 채널의 선형 FIR 필터의 역필터를 찾은 다음 역필터로 등화된 신호를 심볼 변환 방식으로부터 전개된 결정 방식 테이블에 기초하여 판별하는 과정으로 진행된다. 제안하는 등화기를 raw BER(bit error ratio)의 관점에서 모의실험과 실제 super-RENS read-out 신호를 이용하여 분석하였다.
최근 들어, 광 기록 저장 시스템을 위한 다양한 기록 방식들이 연구되고 있다. BD (Blu-ray Disc)나 HD-DVD (High-Definition Digital Versatile Disc) 기록 방식의 표준화가 진행된 후에 차세대 광 기록 방식에 대한 관련 업계의 초점이 모아지고 있다. 이러한 차세대 광 기록 저장 시스템 가운데 기술의 호환성이 장점인 Super-RENS (Super-Resolution Near Field Structure) 기술이 유력한 후보 중 하나이다. 본 논문에서는 Super-RENS 디스크를 위한 신경망 기반의 비선형 등화기 (NNEQ)를 제안하였다. 비선형 심볼간 간섭 (Inter-Symbol Interference : ISI)을 제거하기 위해 신경망의 한 종류인 NARX (Nonlinear AutoRegressive eXogenous) 모델을 적용하였다. Super-RENS 디스크로부터 획득한 RF 신호 샘플들을 사용하여 모의실험을 수행한 결과, 제안된 비선형 등화기의 성능은 비트오율 측면에서 등화기가 없는 경우나 기존의 Limit-EQ 보다 우수한 성능을 나타내었다.
It is widely accepted that the reading mechanism of Super-RENS(super-resolution near field structure) and Super-ROM(super-resolution read only memory) is closely related with non-linear temperature dependent material properties such as refractive indices, phase change. Furthermore, the dynamic change of the temperature distribution also an essential part of reading mechanism of Super-RENS/ROM. Therefore, the knowledge of the temperature distribution as a function a time is one of the important keys to reveal the physics of reading mechanism in Super-RENS/ROM. We calculated time-dependent temperature distribution in a 3-dimensional Super-ROM disk structure when moving laser beam is irradiated. With a help of commercial software FEMLAB which employed finite element method, we simulated the temperature distribution of ROM structure whose pit diameter is 120-nm with 50-nm depth. Energy absorption by moving laser irradiation, time variations of heat transfer processes, heat fluxes, heat transfer ratios, and temperature distributions of the complicate 3-dimensional ROM structure have been obtained.
We report the random pattern characteristics of the super resolution near field structure(Super-RENS) write once read-many(WORM) disc at a blue laser optical system(laser wavelength 405nm, numerical aperture 0.85) and the Super-RENS read only memory(ROM) disc at a blue laser optical system(laser wavelength 659nm, numerical aperture 0.65). We used the WORM disc of which carrier-to-noise ratio (CNR) of 75nm is 47dB and ROM disc of which carrier-to-noise ratio (CNR) of 173nm is 45dB. We controlled the equalization (EQ) characteristics and used advanced partial-response maximum likelihood (PRML) technique. We obtained bit error rate (bER) of 10-3 level at 50GB WORM disc and bite error rate of 10-4 level at 50GB level ROM disc. This result shows high feasibility of Super-RENS technology for practical use.
We report the random pattern characteristics of the super resolution near field structure(Super-RENS) write once read-many(WORM) disc at a blue laser optical system(laser wavelength 405nm, numerical aperture 0.85) and the Super-RENS read only memory(ROM) disc at a blue laser optical system(laser wavelength 659nm, numerical aperture 0.65). We used the WORM disc of which carrier-to-noise ratio(CNR) of 75nm is 47dB and ROM disc of which carrier-to-noise ratio(CNR) of 173nm is 45dB. We controlled the equalization(EQ) characteristics and used advanced partial-response maximum likelihood(PRML) technique. We obtained bit error rate(bER) of 10-3 level at 50GB WORM disc and bite error rate of 10-4 level at 50GB level ROM disc. This result shows high feasibility of Super-RENS technology for practical use.
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[게시일 2004년 10월 1일]
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