In this paper, the gas responses of tungsten oxide films prepared by anodic reaction was discussed. Sensing electrodes and heating electrodes were patterned by photolithography method on quartz substrate. Porous tungsten oxide was fabricated in electrolyte solutions of 5 % HF (HF :$C_2H_6OH:H_2O$=3 : 2 : 20) by anodic reaction. The anodic reaction with metal (platinum wire) as a cathode and the sensing device as an anode was conducted under the various reaction times (1-10 min) at 10 mA/$cm^2$ The surface structure and morphology of the fabricated sensor have been analysed by X-ray diffraction (XRD) and field-emission scanning electron microscopy (FE-SEM). All the peaks of XRD results were well indexed to the pure phase pattern. The average diameter of the porous tungsten oxide surface were ranged about 100 nm. The fabricaed sensor showed good sensitivity to 200 ppm toluene at operating temperature of $250^{\circ}C$.
Anodizing is a technology to generate thicker and high-quality films than natural oxide films by treating metals via electrochemical methods. Electrochemical manufacturing method of nano structure is an efficient technology in terms of cost reduction, high productivity and complicated shapes, which receives the spotlight in diverse areas. Especially, artificial films generated by anodizing technology possess excellent mechanical characteristics including hardness and wear resistance. It is also easy to modify thickness and adjust shape of those artificial films so that they are mainly used in sensors, filters, optical films and electrolytic condensers. In this study, experiment was performed to observe the effect of current density on porous film formation in two-step anodizing for Al alloy. Anodizing process was performed with 10 vol.% sulfuric acid electrolyte while the temperature was maintained at $10^{\circ}C$ using a double beaker. and $10{\sim}30mA/cm^2$ was applied for 40 minutes using a galvanostatic method. As a result, both pore diameters and distances between pores tended to increase as the local temperature and electrolysis activity increased due to the increase in applied current density.
Kim, Min-Su;Nam, Gi-Woong;Kim, So-A-Ram;Lee, Dong-Yul;Kim, Jin-Soo;Kim, Jong-Su;Son, Jeong-Sik;Leem, Jae-Young
한국진공학회:학술대회논문집
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한국진공학회 2012년도 제42회 동계 정기 학술대회 초록집
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pp.310-310
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2012
ZnO thin films were grown on porous silicon (PS) by plasma-assisted molecular beam epitaxy (PA-MBE). The optical properties of the ZnO thin films grown on PS were studied using room-temperature, low-temperature, and temperature-dependent photoluminescence (PL). The full width at half maximum (FWHM) of the near-band-edge emission (NBE) from the ZnO thin films was 98 meV, which was much smaller than that of ZnO thin films grown on a Si substrate. This value was even smaller than that of ZnO thin films grown on a sapphire substrate. The Huang-Rhys factor S associated with the free exciton (FX) emission from the ZnO thin films was found to be 0.124. The Eg(0) value obtained from the fitting was 3.37 eV, with ${\alpha}=3.3{\times}10^{-2}eV/K$ and ${\beta}=8.6{\times}10^3K$. The low- and high-temperature activation energies were 9 and 28 meV, respectively. The exciton radiative lifetime of the ZnO thin films showed a non-linear behavior, which was established using a quadratic equation.
The electrochemical behavior of oxide layers on aluminium was studied using electrochemical impedance spectroscopy. Impedance spectra were taken at a compact and a porous oxide layer of Al. The anodic films on Al have a variable stoichiometry with gradual reduction of oxygen deficiency towards the oxide-electrolyte interface. Thus, the interpretation of impedance spectra for oxide layers is complicated, with the impedance of surface layers differing from those of ideal capacitors. This layer behavior with conductance gradients was caused by an inhomogeneous dielectric. The frequency response cannot be described by a single RC element. The oxide layers of Al are properly described by the Young model of dielectric constant with a vertical decay of conductivity.
Highly ordered mesoporous manganese oxide films were electrodeposited onto indium tin oxide coated (ITO) glass using sodium dodecyl sulfate (SDS) and ethylene glycol (EG) which were used as a templating agent and stabilizer for the formation of micelle, respectively. The manganese oxide films synthesized with surfactant templating exhibited a highly mesoporous structure with a long-range order, which was confirmed by SAXRD and TEM analysis. The unique porous structure offers a more favorable diffusion pathway for electrolyte transportation and excellent ionic conductivity. Among the synthesized samples, Mn2O3-SDS+EG exhibited the best electrochemical performance for a supercapacitor in the wide range of scan rate, which was attributed to the well-developed mesoporous structure. The Mn2O3 prepared with SDS and EG displayed an outstanding capacitance of 72.04 F g-1, which outperform non-porous Mn2O3 (32.13 F g-1) at a scan rate of 10 mV s-1.
A procedure for preparing semiconductor/metal nanowire arrays is described, based on a template method which entails electrochemical deposition into nanometer-wide parallel pores of anodic aluminum oxide films on aluminum. Aligned CdS/Co heterostructured nanowires have been prepared by ac electrodeposition in the anodic aluminum oxide templates. By varying the preparation conditions, a variety of CdS/Co nanowire arrays were fabricated, whose dimensional properties could be adjusted.
양극산화 알루미늄(anodic aluminum oxide, AAO) 나노템플레이트는 제작이 쉬우며, 저비용, 대면적 제작이 가능하다는 장점으로 인해 이를 나노 전자소자 제작에 응용하려는 많은 연구가 이루어지고 있다. 이러한 나노템플레이트를 이용하면 기공의 직경이나 밀도를 변화킴으로써 나노구조의 물질의 크기나 밀도를 제어할 수 있다. 따라서 본 논문에서는 나노 전자소자 제작에 응용할 수 있는 AAO 나노템플레이트를 2단계 양극산화법에 의해 제조하였다. 이를 위해 기존의 알루미늄 판 대신 실리콘 웨이퍼 상에 DC 마그네트론 스퍼터법으로 $2{\mu}m$ 두께의 알루미늄 박막을 증착하였고, 전해액으로 사용한 옥살산 용액의 온도 및 양극산화 전압에 따른 다공성 알루미나 막의 미세구조를 조사하였다. 전해액 온도가 $8^{\circ}C$에서 $20^{\circ}C$로 높아짐에 따라 다공성 알루미나 막의 성장속도는 86.2 nm/min에서 179.5 nm/min으로 증가하였다. 최적 조건에서 제작된 AAO 나노 템플레이트의 기공 직경 및 깊이는 각각 70 nm와 $1\;{\mu}m$이었다.
In this study, growth and burning behavior of 6061 aluminum alloy was studied under constant anodic voltages at various temperatures and magnetic stirring rates in 20% sulfuric acid solution by analysing I-t curves, measuring thickness and hardness of aluminum anodic oxide (AAO) films, observations of surface and cross-sectional images of AAO films. AAO films were grown continuously at lower voltages than 18.5V but burning occurred when a voltage more than 19V was applied in 20% H2SO4 solution at 20±0.5℃ and 200 rpm of magnetic stirring. The burning was always related with an extremely large increase of anodic current density with anodizing time, suggesting that high heat generation during anodizing causes deteriorations of AAO films by chemical reaction with acidic solutions. The burning resulted in decreases of film thickness and hardness, surface color brightened and formation of porous defects in the AAO films. The burning voltage was found to decrease with increasing solution temperature and decreasing magnetic stirring rate. The decreased burning voltages seem to be closely related with increased chemical reactions between AAO films and hydrogen ions.
Transactions on Electrical and Electronic Materials
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제12권3호
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pp.102-105
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2011
This work describes the characteristics of zinc oxide (ZnO) thin films formed on a polycrystalline (poly) 3C-SiC buffer layer using a sol-gel process. The deposited ZnO films were characterized using X-ray diffraction, scanning electron microscopy, and photoluminescence (PL) spectra. ZnO thin films grown on the poly 3C-SiC buffer layer had a nanoparticle structure and porous film. The effects of post-annealing on ZnO film were also studied. The PL spectra at room temperature confirmed the crystal quality and optical properties of ZnO thin films formed on the 3C-SiC buffer layer were improved due to close lattice mismatch in the ZnO/3C-SiC interface.
In order to observe the microstructure and morphology of porous titanium -oxide thin film, deposition is performed under a higher Ar gas pressure than is used in the general titanium thin film production method. Black titanium thin film is deposited on stainless steel wire and Cu thin plate at a pressure of about 12 Pa, but lustrous thin film is deposited at lower pressure. The black titanium thin film has a larger apparent thickness than that of the glossy thin film. As a result of scanning electron microscope observation, it is seen that the black thin film has an extremely porous structure and consists of a separated column with periodic step differences on the sides. In this configuration, due to the shadowing effect, the nuclei formed on the substrate periodically grow to form a step. The surface area of the black thin film on the Cu thin plate changes with the bias potential. It has been found that the bias of the small negative is effective in increasing the surface area of the black titanium thin film. These results suggest that porous titanium-oxide thin film can be fabricated by applying the appropriate oxidation process to black titanium thin film composed of separated columns.
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[게시일 2004년 10월 1일]
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