In this work, MOS capacitors were used to study the electrical properties of Mo gate electrode deposited on ZrO$_2$. The workfunctions of Mo gate extracted from C-V curves were appropriate for PMOS. Thermal stability of Mo metal was investigated by analyzing the variations of workfunction and EOT(effective oxide thickness) after 600, 700, and 800 $^{\circ}C$ RTA(rapid thermal annealing). It was found that Mo gate was stable up to 800 $^{\circ}C$ with underlying ZrO$_2$. The resistivities of Mo were 35$\mu$Ω$.$cm∼ 75$\mu$Ω$.$cm. These values are lower than those of heavily doped polysilicon. Based on these measurements, it can be concluded that Mo metal gate with ZrO$_2$ gate insulator is an excellent gate material for PMOS.
Using ab initio density functional theory, we study the structural and electronic properties of interface between Cu surface and highly electron withdrawing hexaazatriphenylene-hexanitrile (HAT-CN) known as an efficient hole injection layer for organic light emitting diodes (OLEDs). We calculate the equilibrium geometries of the interface with different HAT-CN coverages. Usually, some of C-N bonds located at the edge of the HAT-CN molecule are deformed toward Cu atoms resulting in the reconstruction of Cu surface. By analyzing the electron charge and the potential distributions over the interface, we observe the formation of surface dipoles, which modify the work function at the interface. Such dipole formation is attributed to two origins, one of which is a geometrical nature and the other is a bond dipole. The former is related to structural deformation mentioned above, whereas the latter is due to charge transfer between organic and metal surface.
유기발광다이오드(Organic Light-Emitting Diodes, OLEDs)의 효율을 향상시키기 위하여 다양한 아세트산금속(Macetate, M: Li, Na, K, Cs)을 cathode underlayer 소재로 사용하고 이들이 소자의 전자주입 및 발광 특성에 미치는 영향에 대하여 연구하였다. 1 nm 두께의 M-acetate 층을 cathode underlayer로 사용한 경우 Cs-acetate를 사용한 소자를 제외한 모든 소자에서 기존의 LiF 전자주입층을 사용한 소자보다 효율적인 전자주입 및 향상된 발광특성을 보였으며, M-acetate에 포함된 금속의 일함수가 작을수록 높은 전류밀도와 우수한 발광특성을 보였다. 또한, cathode underlayer의 두께가 소자의 특성에 미치는 영향을 분석한 결과, 사용된 M-acetate의 분자크기에 따라 각기 다른 두께(Li-acetate 0.7 nm, Cs-acetate 2.0 nm)에서 최적의 발광특성을 보였으며 기존의 LiF 층을 사용한 소자에 비하여 동일 인가전압에서 전류효율이 약 60% 향상된 결과를 얻을 수 있었다.
Lead sulfide (PbS) Colloidal quantum dots (CQDs) are promising material for the photovoltaic device due to its various outstanding properties such as tunable band-gap, solution processability, and infrared absorption. More importantly, PbS CQDs have large exciton Bohr radius of 20 nm due to the uniquely large dielectric constants that result in the strong quantum confinement. To exploit desirable properties in photovoltaic device, it is essential to fabricate a device exhibiting stable performance. Unfortunately, the performance of PbS NQDs based Schottky solar cell is considerably degraded according to the exposure in the air. The air-exposed degradation originates on the oxidation of interface between PbS NQDS layer and metal electrode. Therefore, it is necessary to enhance the stability of Schottky junction device by inserting a passivation layer. We investigate the effect of insertion of passivation layer on the performance of Schottky junction solar cells using PbS NQDs with band-gap of 1.3 eV. Schottky solar cell is the simple photovoltaic device with junction between semiconducting layer and metal electrode which a significant built-in-potential is established due to the workfunction difference between two materials. Although the device without passivation layer significantly degraded in several hours, considerable enhancement of stability can be obtained by inserting the very thin LiF layer (<1 nm) as a passivation layer. In this study, LiF layer is inserted between PbS NQDs layer and metal as an interface passivation layer. From the results, we can conclude that employment of very thin LiF layer is effective to enhance the stability of Schottky junction solar cells. We believe that this passivation layer is applicable not only to the PbS NQDs based solar cell, but also the various NQDs materials in order to enhance the stability of the device.
본 논문에서는 오래 전부터 NMOS의 게이트 전극으로 사용된 폴리실리콘을 대체할 수 있는 Ta-Ti 합금의 특성에 대해 연구하였다. 실리콘 기판 위에 열적으로 성장된 $SiO_2$ 위에 Ta과 Ti의 두 타깃을 사용하여 co-sputterring 방법으로 Ta-Ti 합금을 증착하였다. 각각의 타깃은 100W의 sputtering power로 증착하여 시편을 제작하였다. 또한 비교 분석을 위하여 Ta을 100W의 sputtering power로 증착한 시편도 제작하였다. 제작된 Ta-Ti 합금 게이트의 열적/화학적 안정성을 검토하기 위하여 $600^{\circ}C$에서 급속열처리를 수행한 결과 소자의 성능 저하는 나타나지 않았다. 또한 전기적 특성 분석 결과 Ta-Ti 합금은 NMOS에 적합한 일함수인 4.13eV를 산출해 낼 수 있었고, 면저항 역시 폴리실리콘에 비해 낮은 값을 얻을 수 있었다.
한국고분자학회 2006년도 IUPAC International Symposium on Advanced Polymers for Emerging Technologies
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pp.238-238
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2006
Through ultra-violet photoemission spectroscopy in-situ experiment, 0.67 eV energy barrier between 1-hexadecanethiol (HDT)-modified gold and pentacene was observed, which was 0.03 eV smaller than the energy barrier between bare gold and pentacene despite HDT modified gold had 0.8 eV lower work function than that of bare gold. This result is opposed to the idea that increasing the work function a metal decreases the energy barrier. This can be explained by two factors. One is the absence of interface dipole, which is observed in pentacene deposited on gold. The other is reduced ionization energy which can be explained through polarization energy or electronic splitting of molecular orbital with more crystalline structure observed through X-ray diffraction patterns.
RMOS(refractory metal oxide semiconductor)의 게이트와 집적회로의 각 소자나 회로를 연결하는 연결선으로 사용되는 Mo2N/Mo 이중층을 Ar과 N2의 혼합가스 분위기에서 저온의 고주파 반응성스펏터링으로 형성하였다. 1000Å-Mo2N/4000Å-Mo이중층의 면저항은 약 1.20∼1.28Ω/구로서 다결정실리콘의 약 1/10정도가 되었다. C-V측정으로부터 Mo2N/Mo이중층과 비저항이 6∼9Ω·㎝이고 결정면이 (100)인 P형 Si과의 일함수차 f%5는 약 -0.30ev 및 산화층에 존재하는 고정전하밀도 Qss/q는 약 2.1x1011/cm를 얻었다. 인버터 한개당의 신호전달 지연시간을 측정하기 위해 다결정실리콘게이트 NMOS 제조공정을 웅용하여 45개의 인버터로 구성된 ring oscillator를 제작하였다. 본 실험에서 얻을 수 있었던 인버터 한개에 대한 신호전달지연시간은 약 0.8nsec였다.
Kim, Haeri;Chan, Ngai Yui;Dai, Jiyan;Kim, Dong-Wook
한국진공학회:학술대회논문집
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한국진공학회 2014년도 제46회 동계 정기학술대회 초록집
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pp.207.1-207.1
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2014
High-mobility and two dimensional conduction at the interface between two band insulators, LaAlO3 (LAO) and SrTiO3 (STO), have attracted considerable research interest for both applications and fundamental understanding. Several groups have reported the photoconductivity of LAO/STO, which give us lots of potential development of optoelectronic applications using the oxide interface. Recently, a giant photo response of Pd nano particles/LAO/STO is observed in UV illumination compared with LAO/STO sample. These phenomena have been suggested that the correlation between the interface and the surface states significantly affect local charge modification and resulting electrical transport. Water and gas adsorption/desorption can alter the band alignment and surface workfunction. Therefore, characterizing and manipulating the electric charges in these materials (electrons and ions) are crucial for investigating the physics of metal oxide. Proposed mechanism do not well explain the experimental data in various ambient and there has been no quantitative work to confirm these mechanism. Here, we have investigated UV photo response in various ambient by performing transport and Kelvin probe force microscopy measurements simultaneously. We found that Pd nano particles on LAO can form Schottky contact, it cause interface carrier density and characteristics of persistence photo conductance depending on gas environment. Our studies will help to improve our understanding on the intriguing physical properties providing an important role in many enhanced light sensing and gas sensing applications as a catalytic material in different kinds of metal oxide systems.
JSTS:Journal of Semiconductor Technology and Science
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제16권1호
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pp.91-105
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2016
Carbon Nanotube Field-Effect Transistors (CNTFETs) have been studied as candidates for post Si CMOS owing to the better electrostatic control and high mobility. To enhance the immunity against short - channel effects (SCEs), the novel channel and gate engineered architectures have been proposed to improve CNTFETs performance. This work presents a comprehensive study of the influence of channel and gate engineering on the CNTFET switching, high frequency and circuit level performance of carbon nanotube field-effect transistors (CNTFETs). At device level, the effects of channel and gate engineering on the switching and high frequency characteristics for CNTFET have been theoretically investigated by using a quantum kinetic model. This model is based on two-dimensional non-equilibrium Green's functions (NEGF) solved self - consistently with Poisson's equations. It is revealed that hetero - material - gate and lightly doped drain and source CNTFET (HMG - LDDS - CNTFET) structure can significantly reduce leakage current, enhance control ability of the gate on channel, improve the switching speed, and is more suitable for use in low power, high frequency circuits. At circuit level, using the HSPICE with look - up table(LUT) based Verilog - A models, the impact of the channel and gate engineering on basic digital circuits (inverter, static random access memory cell) have been investigated systematically. The performance parameters of circuits have been calculated and the optimum metal gate workfunction combinations of ${\Phi}_{M1}/{\Phi}_{M2}$ have been concluded in terms of power consumption, average delay, stability, energy consumption and power - delay product (PDP). In addition, we discuss and compare the CNTFET-based circuit designs of various logic gates, including ternary and binary logic. Simulation results indicate that LDDS - HMG - CNTFET circuits with ternary logic gate design have significantly better performance in comparison with other structures.
JSTS:Journal of Semiconductor Technology and Science
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제6권1호
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pp.22-29
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2006
We demonstrate highly manufacturable Multi-channel Field Effect Transistor (McFET) on bulk Si wafer. McFET shows excellent transistor characteristics, such as $5{\sim}6 times higher drive current than planar MOSFET, ideal subthreshold swing, low drain induced barrier lowering (DIBL) without pocket implantation and negligible body bias dependency, maintaining the same source/drain resistance as that of a planar transistor due to the unique feature of McFET. And suitable threshold voltage ($V_T$) for SRAM operation and high static noise margin (SNM) are achieved by using TiN metal gate electrode.
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[게시일 2004년 10월 1일]
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